专利名称：测试头结构及测试头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及元器件电性能测试设备，特别是涉及一种测试头结构和测试头。
背景技术：
电性能是电子元器件的质量核心，随着自动化设备的大力推广，高速、准确和简便 的元器件电性能测试方式尤显重要。目前，片式元件测试设备通常使用结构较为复杂的刀 式测试设备，在产线实际的使用过程中由于测试头易磨损，因此测试头必须定期更换，维修 和维护频次非常高。
实用新型内容本实用新型的目的是为克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，提供 一种简易方便且不易磨损的测试头结构及其所采用的测试头。为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案一种测试头结构，包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设置的导电的 第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述 细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。优选地所述板状基部与所述细长臂邻接的部分形成弧形缺口，所述细长臂从所述弧形缺 口的端部开始延伸。所述细长臂的末端具有与所述设定的触压方向相垂直的平坦面。所述细长臂的末端改向延伸从而形成与所述设定的触压方向相垂直的接触端头， 所述接触端头的远离所述板状基部的一面形成所述平坦面。所述板状基部为方形，所述设定的触压方向为所述板状基部的纵向或横向。还包括固定架机构，所述固定架机构包括绝缘支座和安装在所述绝缘支座上的导 电端子，所述第一测试头固定在所述绝缘支座上并与所述导电端子电连接，所述导电端子 提供用于外接测试仪器的接头。所述第二测试头为外围套设有绝缘套的导电柱体。所述第一测试头和/或所述第二测试头的导体为表面镀金的铍铜。一种测试头，包括导电的板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述 细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。优选地，所述板状基部与所述细长臂邻接的部分形成弧形缺口，所述细长臂从所 述弧形缺口的端部开始延伸。本实用新型有益的技术效果是根据本实用新型的测试头结构，第一测试头包括板状基部和从板状基部上延伸出 来的细长臂，细长臂的延伸方向与板状基部设定的触压方向形成锐角，一方面，这种结构设 计保证了测试端头的小尺寸，从而第一测试头能与尺寸很小的被测产品电接触，另一方面，第一测试头的细长臂既能够安置成与被测元器件紧密触压，也能在本身作为刚性导体材质 的情形下具备一定的弹性，使其可被轻微抬起变形而不易与被测产品产生磨损，整个测试 过程中，第一测试头可在开始接触时、接触中、离开后各时段与被测试产品表面形成一定的 角度，并保持不变，从而达到在测试时测试头与产品接触良好、测试结果稳定的效果。本实 用新型解决了以往实际操作中测试头易磨损而需要频繁更换的问题，降低了维护成本，同 时其结构简单，使用方便，能进行快速便捷测试，大大提高了测试效率，很好地满足了产品 自动化批量生产的需求。本实用新型的测试头结构可检测的对象包括但不限于片式元件。
图1为本实用新型一个实施例的第一测试头的结构示意图；图2为本实用新型一个实施例的第一测试头安装于固定支架的结构示意图；图3为本实用新型一个实施例的测试头结构的总体结构示意图。
具体实施方式
以下通过实施例结合附图对本实用新型进行进一步的详细说明。请参阅图1，在一个实施例中，测试头结构包括导电的第一测试头2和与第一测试 头2相对设置的导电的第二测试头，第一测试头2包括板状基部201和从板状基部201上延 伸出来的细长臂202，细长臂202的延伸方向与板状基部201设定的触压方向A形成锐角。 板状基部201设定的触压方向可例如是优选整体成方形的板状基部201的纵向或横向，如 图1所示为方形板状基部201的纵向。在优选的实施例中，板状基部201与细长臂202邻接的部分形成弧形缺口 203，细 长臂202从弧形缺口 203的端部开始延伸。弧形缺口的设计有助于改善第一测试头2的强 度和细长臂202的弹性。在优选的实施例中，细长臂202的末端具有与设定的触压方向相垂直的平坦面 205。平坦面的设计有利于细长臂与被测产品良好地接触。更优选地，细长臂202的末端改向延伸从而形成与设定的触压方向A相垂直的接 触端头204，接触端头204的远离板状基部201的一面形成平坦面205。请参阅图2和图3，在优选的实施例中，测试头结构还包括固定架机构1，固定架机 构1包括绝缘支座101和安装在绝缘支座101上的导电端子102，第一测试头2固定在绝缘 支座101上并与导电端子102电连接，导电端子102提供用于外接测试仪器的接头。请参阅图2和图3，在优选的实施例中，第二测试头为外围套设有绝缘套5的导电 柱体4，绝缘套5可以通过包胶处理形成，从而很好地满足对产品的电性测试要求。绝缘套 5优选采用环氧树脂制成，其较佳的绝缘性能保证测试的准确性。优选地，第一测试头2和第二测试头4采用导电性好和耐磨的铍铜制成，更优地， 在铍铜的表面作镀金处理。这种配置可进一步满足测试头耐磨损和稳定测试的要求。以下说明一个实施例的测试头结构的测试过程开始接触传送设备自动将产品3传送到测试头处，手工或通过控制机构将第一测试头轻微 抬起后放下，利用第一测试头的弹性形变达到产品与测试头充分的接触。[0032]接触中测试仪器5自动完成产品电性的量测功能。接触分离将产品移开，第一测试头利用特有的弹性会回归到原始位置，等待下一颗产品的 测试。以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能 认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明，例如，图示的第一测试头和第二测试头在 竖直方向上上、下相对布置，显然也可以在其它方向上(例如水平方向)相对布置。对于本实 用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做 出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种测试头结构，其特征在于，包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设 置的导电的第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细 长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。
2.如权利要求1所述的测试头结构，其特征在于，所述板状基部与所述细长臂邻接的 部分形成弧形缺口，所述细长臂从所述弧形缺口的端部开始延伸。
3.如权利要求1所述的测试头结构，其特征在于，所述细长臂的末端具有与所述设定 的触压方向相垂直的平坦面。
4.如权利要求3所述的测试头结构，其特征在于，所述细长臂的末端改向延伸从而形 成与所述设定的触压方向相垂直的接触端头，所述接触端头的远离所述板状基部的一面形 成所述平坦面。
5.如权利要求1至4中任一项所述的测试头结构，其特征在于，所述板状基部为方形， 所述设定的触压方向为所述板状基部的纵向或横向。
6.如权利要求1至4中任一项所述的测试头结构，其特征在于，还包括固定架机构，所 述固定架机构包括绝缘支座和安装在所述绝缘支座上的导电端子，所述第一测试头固定在 所述绝缘支座上并与所述导电端子电连接，所述导电端子提供用于外接测试仪器的接头。
7.如权利要求1至4中任一项所述的测试头结构，其特征在于，所述第二测试头为外 围套设有绝缘套的导电柱体。
8.如权利要求1至4中任一项所述的测试头结构，其特征在于，所述第一测试头和/ 或所述第二测试头的导体为表面镀金的铍铜。
9.一种测试头，其特征在于，包括导电的板状基部和从所述板状基部上延伸出来的 细长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。
10.如权利要求9所述的测试头，其特征在于，所述板状基部与所述细长臂邻接的部 分形成弧形缺口，所述细长臂从所述弧形缺口的端部开始延伸。
专利摘要本实用新型公开了一种测试头结构，包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设置的导电的第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。克服了传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，本实用新型提供一种简易方便且不易磨损的测试头结构和相应的一种测试头。
文档编号G01R1/02GK201867428SQ20102064556
公开日2011年6月15日 申请日期2010年12月7日 优先权日2010年12月7日
发明者吴耀华, 彭朝阳, 曾艳军, 邵庆云, 马贝, 鲁常垚 申请人:深圳顺络电子股份有限公司