专利名称：光源检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及ー种光源检测装置，特别涉及ー种检测发光二极管光源的光源检测装置。
背景技术：
现有的发光二极管光源检测装置通常包括测试台、旋转座以及用于检测发光二极管光源的测试针。旋转座连接于测试台底面，该测试台的顶面开设有ー个固定形状的凹槽，用于放置发光二极管光源。转动旋转座可将测试针从测试台上表面穿设而出并与发光二极 管光源的电极接触，从而进行光源检测。然而由于测试台上用于放置发光二极管光源的凹槽其形状及尺寸已经固定，故该检测装置只适用于检测一定形状和尺寸的发光二极管光源。此外由于发光二极管光源装设于凹槽内，如果测试台采用的材料不具备良好的热传导性，则发光二极管光源产生的热量不易快速消散，从而对测试结果产生不良影响。
发明内容
有鉴于此，有必要提供ー种能够检测多种形状及尺寸发光二极管的光源检测装置。一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置，包括测试台，所述测试台内装设有测试针，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，所述发光二极管光源装设于测试台上，所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板，该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端，该固定端固定于测试台上，该悬臂端夹持电路板，该电路板上的电路结构与测试针电性连接。采用第一压板和第二压板将发光二极管光源压持固定于测试台上，对发光二极管的尺寸和形状不产生限制性作用，故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。下面參照附图，结合具体实施例对本发明作进ー步的描述。
图I为本发明第一实施方式的光源检测装置的俯视示意图。图2为图I中的光源检测装置装设有发光二极管光源的俯视示意图。图3为图2中的光源检测装置装设有发光二极管光源的侧视示意图。图4为本发明第二实施方式的光源检测装置的俯视示意图。图5为图4中的光源检测装置装设有发光二极管光源的俯视示意图。图6为图5中的光源检测装置装设有发光二极管光源的侧视示意图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种光源检测装置，用于检测发光二极管光源，包括测试台，所述测试台内装设有测试针，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，所述发光二极管光源装设于测试台上，其特征在于所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板，该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端，该固定端固定于测试台上，该悬臂端夹持电路板，该电路板上的电路结构与测试针电性连接。
2.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述测试台具有相对设置的顶面和底面，以及贯穿该顶面和底面的通孔，每一个测试针穿设于每一个通孔内并露出于顶面和底面。
3.如权利要求2所述的光源检测装置，其特征在于所述通孔之间的距离小于电路板的宽度。
4.如权利要求3所述的光源检测装置，其特征在于所述电路结构自电路板装设有发光二极管的上表面延伸至远离上表面的下表面，所述测试针穿过测试台的顶面抵靠于电路板的下表面并与电路结构形成电性连接。
5.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述第一压板和第二压板采用金属材料制成。
6.如权利要求2所述的光源检测装置，其特征在于所述通孔之间的距离大于电路板的宽度。
7.如权利要求6所述的光源检测装置，其特征在于所述电路结构形成于电路板的上表面，所述测试针穿过测试台的顶面分别抵靠于第一压板和第二压板的固定端，所述第一压板和第二压板采用导电材料制成，所述该第一压板和第二压板的悬臂端压持于电路板的上表面，并将电路结构与测试针电性连接。
8.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述测试台上还装设有一个定位块，该定位块平行于第一压板和第二压板的连线方向，所述电路板抵靠于该定位块。
全文摘要
一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置，包括测试台，所述测试台内装设有测试针，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，所述发光二极管光源装设于测试台上，所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板，该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端，该固定端固定于测试台上，该悬臂端夹持电路板，该电路板上的电路结构与测试针电性连接。对光源的尺寸和形状不产生限制性作用，故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。
文档编号G01R31/44GK102680912SQ201110055609
公开日2012年9月19日 申请日期2011年3月9日 优先权日2011年3月9日
发明者张超雄, 柯志勋, 詹勋伟 申请人:展晶科技(深圳)有限公司, 荣创能源科技股份有限公司