专利名称：光源检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光源检测装置，特别涉及一种检测发光二极管光源的光源检测装置。
背景技术：
现有的发光二极管光源检测装置通常包括测试台、旋转座以及用于检测发光二极 管光源的测试针。旋转座连接于测试台底面，该测试台的顶面开设有一个固定形状的凹槽，用于放置发光二极管光源。转动旋转座可将测试针从测试台上表面穿设而出并与发光二极管光源的电极接触，从而进行光源检测。然而由于测试台上用于放置发光二极管光源的凹槽其形状及尺寸已经固定，故该检测装置只适用于检测一定形状和尺寸的发光二极管光源。此外由于发光二极管光源装设于凹槽内，如果测试台采用的材料不具备良好的热传导性，则发光二极管光源产生的热量不易快速消散，从而对测试结果产生不良影响。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种能够检测多种形状及尺寸发光二极管的光源检测装置。一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置，包括基座、升降台，所述基座上设有电极，该升降台上形成有导电区域，所述升降台内装设有测试针，该测试针穿设于升降台并与导电区域连接固定，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，该发光二极管光源装设于升降台上并与导电区域电性连接，所述升降台由弹性元件固定于基座上，通过下压该升降台使测试针与基座上的电极接触形成电性连接。将发光二极管光源固定于升降台上，并利用弹性元件以及外力共同作用改变升降台的高度，从而控制测试针与基座上的电极的导通与断开，进而对升降台上装设的发光二极管光源进行检测，并且不对装设的发光二极管光源的形状和尺寸进行过多限制，故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。下面参照附图，结合具体实施例对本发明作进一步的描述。
图I为本发明实施方式提供的光源检测装置的侧视示意图。图2为图I中的光源检测装置的俯视示意图。图3为图I中的光源检测装置装设有发光二极管光源的侧视示意图。图4为图3中的光源检测装置的俯视示意图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置，包括基座、升降台以及固定元件，所述基座上设有电极，该升降台上形成有导电区域，其特征在干所述升降台内装设有测试针，该测试针穿设于升降台并与导电区域连接固定，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，该发光二极管光源装设于升降台上并与导电区域电性连接，所述升降台由弾性元件支撑于基座上，所述固定元件压持于电路板上并通过下压该升降台使弾性元件压缩，从而使测试针与基座上的电极接触形成电性连接。
2.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述导电区域形成于升降台远离基座的上表面，所述电路结构自电路板装设发光二极管的上表面延伸至与上表面相对的下表面，所述电路板装设于升降台的上表面，所述导电区域与电路板的电路结构相接触从而形成电性连接。
3.如权利要求2所述的光源检测装置，其特征在于所述升降台上开设有盲孔，该盲孔自升降台靠近基座的下表面向上开设直至，该导电区域自该盲孔露出，所述测试针穿设于该盲孔内并与导电区域连接固定。
4.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述光源检测装置还包括ー个支撑柱装设于基座上，该支撑柱内形成有一个通孔，该通孔的内壁向内延伸形成一个支撑平台，该支撑平台将该通孔分隔为第一容置区和第二容置区，该升降台容置于第一容置区内。
5.如权利要求4所述的光源检测装置，其特征在于所述支撑平台上开设有小孔，所述测试针穿设于该小孔中并与升降台的导电区域连接。
6.如权利要求5所述的光源检测装置，其特征在于所述测试针包括顶端和底端，该底端的面积大于顶端的面积。
7.如权利要求6所述的光源检测装置，其特征在于所述弹性元件为弹簧，该弹簧支撑所述升降台使升降台的下表面距支撑平台的上表面的距离与测试针的底端距基座的电极的距离相等。
8.如权利要求I所述的光源检测装置，其特征在于所述固定元件包括绝缘压板和固定器，该绝缘压板用于压持电路板以使升降台下降到测试针与电极接触的位置，该固定元件用于固定绝缘压板使该绝缘压板紧贴于支撑柱的上表面，以使测试针与电极保持接触。
9.如权利要求8所述的光源检测装置，其特征在于所述绝缘压板中部设有孔洞，该孔洞的尺寸小于电路板的尺寸，且大于发光二极管的尺寸。
10.如权利要求9所述的光源检测装置，其特征在于所述固定器包括第一旋转条、第ニ旋转条以及将该第一旋转条和第二旋转条枢转连接的中轴，该第一旋转条挡持与绝缘压板，该第二旋转条固定连接于支撑柱的外壁。
全文摘要
一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置，包括基座、升降台，所述基座上设有电极，该升降台上形成有导电区域，所述升降台内装设有测试针，该测试针穿设于升降台并与导电区域连接固定，所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板，该电路板上设有电路结构，该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接，该发光二极管光源装设于升降台上并与导电区域电性连接，所述升降台由弹性元件固定于基座上，通过下压该升降台使测试针与基座上的电极接触形成电性连接。对发光二极管的尺寸和形状不产生过多的限制性作用，故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。
文档编号G01R31/44GK102680913SQ201110058159
公开日2012年9月19日 申请日期2011年3月11日 优先权日2011年3月11日
发明者张超雄, 柯志勋, 詹勋伟 申请人:展晶科技(深圳)有限公司, 荣创能源科技股份有限公司