专利名称：电路板测试治具的顶针结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电路板测试治具的顶针结构，尤其涉及可利用抵靠部增加顶针的接触面积，以提升测试时的准确度，而达到测试良品率较佳的功效的测试治具的顶针结构。
背景技术：
一般常用的电路板测试治具结构(如图1、2及图3所示)，其主要包括一底座6、 一万用密度板模块7、一针板8及顶针9所构成；该底座6上设有多个可供插接各测试仪器插头的测试插槽62，各测试插槽62连接有导线61，而该针板8则依待测电路板5的电路上待测试的点而设有多个贯穿顶、底二侧的探针81 ；该万用密度板模块7则包括有第一密度板71、第二密度板72及第三密度板73，且该第一、二及第三密度板71、72、73上设有多个相连通的孔洞711、721、731，且在第二密度板72的各孔洞721内分别容纳有顶针9的抵靠部 91、弹簧92及接触部93，而该弹簧92设于抵靠部91与接触部93之间，并使各导线61分别与各接触部93连接，而各抵靠部91以第三密度板73上的孔洞731加以抵靠限位，其中该第三密度板73上的孔洞731小于第二密度板72上的孔洞721 ；如此，可使该待测电路板5 经由探针81、弹簧92、导线61及测试插槽62而与外部的测试仪器形成电连接。但是由于各顶针9在设置时，以第三密度板73上的小孔洞731加以抵靠限位，而使得各抵靠部91与探针81受到第三密度板73上所设小孔洞731的限制而无法增加其接触的面积，导致测试时的准确度较差，而造成测试良品率降低。因此，如何创作出一种电路板测试治具的顶针结构改良，以使其可达到测试良品率较佳的功效，将是本实用新型所欲积极揭露之处。
发明内容有鉴于上述现有电路板测试治具的顶针结构的缺憾，发明人有感其未臻于完善， 遂竭其心智悉心研究克服，凭其从事该项产业多年的累积经验，进而研发出一种电路板测试治具的顶针结构，以期可达到测试良品率较佳的目的。本实用新型的主要目的在提供一种电路板测试治具的顶针结构，其借着抵靠部增加顶针的接触面积，致使可提升测试时的准确度，进而达到测试良品率较佳的目的。为达上述目的，本实用新型所述的电路板测试治具的顶针结构，该顶针包括一抵靠部；一设于顶针的一端的结合部，其包括有一设于抵靠部端面的柱体、一设于柱体一端的止挡件、及一设于止挡件一面上的延伸段；一顶端与延伸段套接的弹性组件；以及一设于弹性组件底端的接触部。在本实用新型其中一个实施例中，还进一步包括有下列结构一底座；一密度板模块，其设于底座一侧，包括有相互层叠的第一密度板、第二密度板及第三密度板，可将多个顶针设于第二及第三密度板中，让各顶针的抵靠部活动设于第三密度板中，而结合部、弹性组件及接触部设于第二密度板中；一限位板，其设于第二及第三密度板之间，可使限位板往一侧移动而配合结合部将各顶针加以限位；以及一针板模块，其设于密度板模块上，包括有一设于第三密度板上的板体、分别连接各接触部且延伸出第一密度板的导线、及分别与顶针抵接且设于板体上的探针。在本实用新型其中的一个实施例中，该底座上设有多个插槽，各插槽分别与导线连接，而该第一密度板上设有多个供各导线延伸出的通孔。在本实用新型其中的一个实施例中，该第二及第三密度板上设有多个相对应的通孔，而各顶针的结合部、弹性组件及接触部分别设于第二密度板的各通孔中，且各顶针的抵靠部活动设于第三密度板的各通孔中。在本实用新型其中的一个实施例中，该限位板上设有多个配合柱体而供顶针活动限位的穿孔。借此，本实用新型所述的一种电路板测试治具的顶针结构改良，可利用抵靠部增加顶针的接触面积，以提升测试时的准确度，而达到测试良品率较佳的功效。
[0017]图1为常用电路板测试治具结构的分解图。[0018]图2为常用电路板测试治具结构的剖视图。[0019]图3为图2中A部分的局部放大图。[0020]图4为本实用新型较佳具体实施例的分解图。[0021]图5为本实用新型较佳具体实施例的立体图。[0022]图6为本实用新型较佳具体实施例的剖面图。[0023]图7‘为本实用新型图6中B部分的局部放大图。[0024]图S为本实用新型限位板的另一实施方式剖面图。[0025]主要组件符号说明[0026](背'景技术部分)[0027]5待测电路板[0028]6底座[0029]61导线[0030]62测试插槽[0031]7万用密度板模块[0032]71第一密度板[0033]711、721、731 孔洞[0034]72第二密度板[0035]73第三密度板[0036]8针板[0037]81探针[0038]9顶针[0039]91抵靠部[0040]92弹簧[0041]93接触部[0042](本实用新型部分)[0043]1底座[0044]11插槽[0045]2密度板模块[0046]21第一密度板[0047]211、221、231 通孔[0048]22第二密度板[0049]23第三密度板[0050]3限位板[0051]31穿孔[0052]4针板模块[0053]41板体[0054]42顶针[0055]421抵靠部[0056]422结合部[0057]4221柱体[0058]4222止挡件[0059]4223延伸段[0060]423弹性组件[0061]424接触部[0062]43导线[0063]44探针[0064]5待测电路板
具体实施方式
为充分了解本实用新型的目的、特征及功效，现借由下述具体的实施例，并配合所附的图式，对本实用新型做一详细说明如下请参阅图4至图8，其分别为本实用新型较佳具体实施例的分解图、本实用新型较佳具体实施例的立体图、本实用新型较佳具体实施例的剖面图、本实用新型图6中B部分的局部放大图及本实用新型限位板的另一实施方式剖面图。如图所示本实用新型所述的电路板测试治具的顶针结构，其至少由有一底座1、一密度板模块2、一限位板3以及一针板模块4所构成。上述所提的底座1上设有多个插槽11。该密度板模块2设于底座一侧，其包括有相互层叠的第一密度板21、第二密度板 22及第三密度板23，而该第一、第二及第三密度板21、22、23上设有多个相对应的通孔211、 221,231ο该限位板3设于第二及第三密度板22、23之间，且该限位板3上设有多个穿孔31。[0070]该针板模块4设于密度板模块2上，其包括有一设于第三密度板23上的板体41、 分别设于第二及第三密度板22、23中且由限位板3加以限位的顶针42、分别连接各顶针42 底面且延伸出第一密度板21并与各插槽11连接的导线43及分别与各顶针42抵接且设于板体41上的探针44，其中各顶针42包括有一抵靠部421、一设于顶针42—端的结合部422、 一顶端与结合部422抵靠的弹性组件423、以及一抵靠于弹性组件423底端的接触部424， 而各结合部422包括一设于抵靠部421端面的柱体4221、一设于柱体4221 —端的止挡件 4222、及一设于止挡件4222 —面上的延伸段4223，而各弹性组件423的顶端与延伸段4223 套接，该接触部4M的顶端与弹性组件423的底端套接，而接触部4M底端与导线43连接， 且各弹性组件423分别设于第二密度板22的各通孔221中，使各导线43分别延伸出第一密度板21的各通孔211，各顶针42分别设于第三密度板23的各通孔231中且由限位板3 的穿孔31加以限位，而该限位板3可往一侧移动使其穿孔31与各顶针42 —端结合部422 的柱体4221进行限位。当本实用新型组装时，是将各顶针42分别设于第三密度板23的各通孔231中，而使其结合部422穿过限位板3的穿孔31，且使该结合部422的延伸段4223与弹性组件423 顶端套接，之后再将限位板3往左侧移动(如图7所示)，另在实际使用时也可将限位板3 往右侧移动(如图8所示)，如此，可使穿孔31与通孔231形成错位，而让限位板3的穿孔 31 一侧往柱体4221抵靠，并配合止挡件4222使顶针42限位于限位板3上；而使用时可将该待测电路板5固定于针板模块4的板体41上，使待测电路板5上的待测试点与各探针44接触，并使信号配合各顶针42的抵靠部421经由各弹性组件423及导线43传输至插槽11所连接的测试仪器上(图未示)形成一测试回路；而由于本实用新型的各顶针42以限位板3加以限位，且各顶针42的抵靠部421与探针44之间具有较大的接触面积，因此，可提升待测电路板5测试时的准确度，进而达到测试良品率较佳的效果。如上所述，本实用新型完全符合专利三要件新颖性、进步性和产业上的可利用性。以新颖性和进步性而言，本实用新型借着抵靠部增加顶针与探针间的接触面积，致使可提升测试时的准确度，进而达到测试良品率较佳的效用；就产业上的可利用性而言，利用本实用新型所衍生的产品，当可充分满足目前市场的需求。本实用新型在上文中已以较佳实施例揭露，然熟习本项技术者应理解的是，该实施例仅用于描绘本实用新型，而不应解读为限制本实用新型的范围。应注意的是，举凡与该实施例等效的变化与置换，均应设为涵盖于本实用新型的范畴内。因此，本实用新型的保护范围当以上述权利要求所界定者为准。
权利要求1.一种电路板测试治具的顶针结构，其特征在于，该顶针包括有一抵靠部；一结合部，其设于顶针的一端，该结合部包括有一设于抵靠部端面的柱体、一设于柱体一端的止挡件、及一设于止挡件一面上的延伸段；一弹性组件，其顶端与延伸段套接；以及一接触部，其设于弹性组件的底端。
2.如权利要求1所述的电路板测试治具的顶针结构，其特征在于，还进一步包括有下列结构一底座；一密度板模块，其设于底座一侧，包括有相互层叠的第一密度板、第二密度板及第三密度板，可将多个顶针设于第二及第三密度板中，让各顶针的抵靠部活动设于第三密度板中， 而结合部、弹性组件及接触部设于第二密度板中；一限位板，其设于第二及第三密度板之间，可使限位板往一侧移动而配合结合部将各顶针加以限位；以及一针板模块，其设于密度板模块上，包括有一设于第三密度板上的板体、分别连接各接触部且延伸出第一密度板的导线、及分别与顶针抵接且设于板体上的探针。
3.如权利要求2所述的电路板测试治具的顶针结构，其特征在于，该底座上设有多个插槽，各插槽分别与导线连接，而该第一密度板上设有多个供各导线延伸出的通孔。
4.如权利要求2所述的电路板测试治具的顶针结构，其特征在于，该第二及第三密度板上设有多个相对应的通孔，而各顶针的结合部、弹性组件及接触部分别设于第二密度板的各通孔中，且各顶针的抵靠部活动设于第三密度板的各通孔中。
5.如权利要求2所述的电路板测试治具的顶针结构，其特征在于，该限位板上设有多个配合柱体而供顶针活动限位的穿孔。
专利摘要本实用新型提供一种电路板测试治具的顶针结构，该顶针包括一抵靠部；一设于顶针的一端的结合部，其包括有一设于抵靠部端面的柱体、一设于柱体一端的止挡件、及一设于止挡件一面上的延伸段；一顶端与延伸段套接的弹性组件；以及一设于弹性组件底端的接触部。借此，本实用新型电路板测试治具的顶针结构，可利用抵靠部增加顶针的接触面积，以提升测试时的准确度，而达到测试良品率较佳的功效。
文档编号G01R1/02GK202210105SQ20112032744
公开日2012年5月2日 申请日期2011年8月30日 优先权日2011年8月30日
发明者苏思国 申请人:瑞统企业股份有限公司