专利名称：用于老化测试装置的泛用型导轨结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，特别是涉及一种用于老化测试装置中可以有效减少粉尘产生与老化测试板磨损的泛用型导轨结构。
背景技术：
在集成电路制作流程中，当完成切割、测试与封装后，往往因应集成电路元件(或电子元件)的种类、作业环境或是销售的区域，而需要进行一老化测试，以获知该电子元件是在高温的环境下仍然可以正常的运作。请参阅图1A，其为一用以进行老化测试的现有习知的老化测试装置10的示意图。老化测试装置10中有一或数个老化测试炉12，而在老化测试炉12中则设置有数个两两成 对的导轨14，由于图示角度的关系，图IA中仅展示出一边的导轨14。请参阅图1B，其为一老化测试炉12内部的电子元件的放置状况的正面示意图。在老化测试炉12中，待测电子元件18被放置于老化测试板16上进行老化测试，老化测试板16则放置于一支撑板20 (例如铝板)上，用以支撑老化测试板16，避免老化测试板16因老化测试所产生的高温而软化导致变形与破坏。在老化测试炉12中的左右两侧装置有成对的导轨14，老化测试板16的两侧边缘被置入导轨14，而可以在导轨14中自由前后移动，以方便放入老化测试炉12以及由老化测试炉12取出，即插入老化测试炉12与由老化测试炉12拔出，并且在进行老化测试时，依靠导轨14支撑于老化测试炉12中，而将老化测试板12以及其上的待测电子元件18与其下的支撑板20固持于老化测试炉12中。然而，由于重复地进行老化测试，往往需要不断地取放老化测试板16，而更换新的待测电子元件18进行老化测试。由于不断地取放老化测试板16，往往导致老化测试板16与导轨14不断地摩擦而产生磨损，而会产生一些粉尘。这些粉尘会随着老化测试炉12内循环送风的气流散布于整个老化测试炉12内，而造成其内进行老化测试的(待测)电子元件的表面脏污，甚至造成测试失败。另外，此一形式的导轨14，由于在拔插老化测试板16的时候，需要将老化测试板16的两侧边缘对准导轨14，而导致老化测试板16不易拔插。其次，更因为老化测试板16与支撑板20的重量过重，而导致老化测试板16不易搬运与拔插，甚至在拔插老化测试板16时候，容易因人员的力气不够或疏忽，造成老化测试板16或支撑板20撞击导轨14，导致老化测试板16，甚至老化测试板16上的电子元件或导轨14损坏，进而影响测试的效率或造成产品(电子元件)的破坏。老化测试板16(包含其上的待测电子元件)与支撑板20仅借由老化测试板16的两侧边缘与导轨14接触，而固持于老化测试炉12中，但是往往可能因为老化测试板16与支撑板20的重量过重且受力的面积小，导致老化测试板16的边缘因受力过大而破坏，甚至破裂，导致老化测试板16与支撑板20落下，而造成老化测试板16与其上的电子元件18损坏。另外，由于电子元件的日新月异，其种类也愈来愈繁复，各种不同种类的电子元件之间的尺寸差异也愈来愈大，而需要使用不同尺寸的老化测试板进行老化测试。然而，这些老化测试炉内的导轨往往只能使用于某种或是某一些尺寸的老化测试板，一旦进行老化测试的电子元件种类不同或是尺寸差异过大，往往需要使用不同尺寸的老化测试板。此时原本在老化测试炉中的导轨，由于尺寸过大或过小而不适用，使得老化测试板无法插入或固持于老化测试炉中，而需要更换另一种尺寸的导轨。因此，不但因为需要对不同尺寸的导轨进行备料，而导致测试成本的增加，更因为需要停机更换导轨，导致测试效率的降低。有鉴于上述问题，因此亟需要一种适用的各种不同种类或尺寸的电子元件或老化测试板的导轨，并且可以有效减少因摩擦粉尘产生、减少老化测试板与导轨的磨损、以及避免对电子元件、老化测试板、以及导轨造成破坏与损伤，进而降低测试成本与增加测试效率。由此可见，上述现有的用于老化测试装置的泛用型导轨结构在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决用于老化测试装置的泛用型导轨结构存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种可兼具体积小、成本低且使用时可具有全方位调整功 能的新型结构的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
发明内容本实用新型的目的在于，克服现有的用于老化测试装置的泛用型导轨结构存在的缺陷，而提供一种新型结构的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，所要解决的技术问题是在提供一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其具有低摩擦系数、耐磨性佳、绝缘性佳、以及易拔插等优点，并且可以适用于各种不同种类与尺寸的电子元件与老化测试板，进而降低测试成本与增加测试效率，从而更加适于实用。本实用新型的另一目的在于，提供一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，所要解决的技术问题是在提供一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，特别是有关一种用于老化测试装置中可以有效减少粉尘产生与老化测试板磨损的泛用型导轨结构。此导轨包含一主体；一上固定部，由主体上端延伸而出，用以防止老化测试板与支撑板向上跳动；一下固定部，由主体下端延伸而出，用以支撑老化测试板与支撑板；以及一缺口，设置于上固定部最前端，用以取放老化测试板与支撑板。主体、上固定部、以及下固定部连结形成一η字形的凹槽，用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板与支撑板，从而更加适于实用。本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本实用新型提出的其包含一主体；一上固定部，由该主体上端延伸而出，用以防止老化测试板与支撑板向上跳动；以及一下固定部，由该主体下端延伸而出，用以支撑老化测试板与支撑板；其中，该上固定部最前端形成一缺口，用以取放老化测试板与支撑板，且该主体、该上固定部、以及该下固定部连结形成一 C字形的凹槽，用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板及支撑板。本实用新型的目的以及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该上固定部内侧表面为一斜面，用以减少该上固定部与老化测试板之间的接触与摩擦。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该上固定部内侧表面上有一软质耐磨层，用以减少该上固定部与老化测试板之间摩擦产生粉尘的机率。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该下固定部内侧表面为一斜面，用以减少该下固定部与支撑板之间的接触与摩擦。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该下固定部内侧表面上有一软质耐磨层，用以减少该下固定部与支撑板之间摩擦产生粉尘的机率。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该主体的内侧表面设置有一软质耐磨层，用以减少该主体与老化测试板以及支撑板之间摩擦产生粉尘的机率。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该软质耐磨层内侧表面为一斜面，用以减少该主体与支撑板以及老化测试板之间的接触与摩擦。 前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的其更包含一硬质氧化层包覆于该主体的表面、该上固定部的表面、以及该下固定部的表面上，用以增加该泛用型导轨结构的耐磨性。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的其更包含一软质耐磨层，包覆于该硬质氧化层的表面上，用以减少该泛用型导轨结构与老化测试板以及支撑板之间摩擦产生粉尘。前述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其中所述的该缺口的边缘为一斜面以利取放老化测试板。本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本实用新型用于老化测试装置的泛用型导轨结构可达到相当的技术进步性及实用性，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优点本实用新型提供一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其具有低摩擦系数、耐磨性佳、绝缘性佳、以及易拔插等优点，并且可以适用于各种不同种类与尺寸的电子元件与老化测试板，进而降低测试成本与增加测试效率。综上所述，本实用新型对比先前技术的功效在于提供一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，特别是有关一种用于老化测试装置中可以有效减少粉尘产生与老化测试板磨损的泛用型导轨结构。借此，可以有效减少因摩擦粉尘产生、减少老化测试板与导轨的磨损、以及避免对电子元件、老化测试板、以及导轨造成破坏与损伤，进而降低测试成本与增加测试效率。本实用新型在技术上有显着的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图IA为一现有习知的老化测试装置的示意图。图IB为老化测试装置内进行老化测试的电子元件的放置状况的正面示意图。图2A为一本实用新型的一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的立体示意图。[0028]图2B与图2C为不同尺寸的电子元件使用本实用新型的泛用型导轨结构在老化测试装置的进行老化测试的正面示意图。图2D为一本实用新型的一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构沿A-A切线的剖面图。图3A与图3B为本实用新型的另一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的剖面图。图4A与图4B为本实用新型的又一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的剖面图。图5A至图5C为本实用新型的又一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的剖面图。 10 :老化测试装置12 :老化测试炉14 :导轨16 :老化测试板18:电子元件20 :支撑板100 :泛用型导轨结构101 :导轨表面102 :主体104 :上固定部104a :上固定部的内侧表面106 :下固定部106a :下固定部的内侧表面108:缺口119:凹槽110:硬质氧化层112:软质耐磨层AA:剖面切线114a、114b、114c、114d :软质耐磨层
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，
以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的用于老化测试装置的泛用型导轨结构其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。本实用新型的一些实施例详细描述如下。然而，除了该详细描述外，本实用新型还可以广泛地在其它的实施例施行。亦即，本实用新型的范围不受已提出的实施例的限制，而以本实用新型提出的申请专利范围为准。其次，当本实用新型的实施例图标中的各元件或步骤以单一元件或步骤描述说明时，不应以此作为有限定的认知，即如下的说明未特别强调数目上的限制时本实用新型的精神与应用范围可推及多数个元件或结构并存的结构与方法上。再者，在本说明书中，各元件的不同部分并没有完全依照尺寸绘图，某些尺度与其它相关尺度相比或有被夸张或是简化，以提供更清楚的描述以增进对本实用新型的理解。而本实用新型所沿用的现有技术，在此仅做重点式的引用，以助本实用新型的阐述。请参阅图2A、图2B以及图2C，图2A为本实用新型一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构100的立体示意图，而图2B与图2C分别为不同尺寸的电子元件使用泛用型导轨结构100在老化测试装置中进行老化测试的正面示意图。泛用型导轨结构100包含一主体102、一由主体102上端延伸而出上固定部104、一主体102下端延伸而出的下固定部106、以及一设置于上固定部104最前端的缺口 108。主体102、上固定部104、以及下固定部106连结形成一C字形的凹槽119，而使得老化测试板16与支撑板20可以在泛用型导轨结构100中前后自由移动与滑动，而用以拔插老化测试板16，并且在进行老化测试时，支撑与固持老化测试板16(包含其上的电子元件18)与支撑板20进行老化测试。下固定部106的宽度比上固定部104的宽度大，用以从支撑板20底部而有效地支撑与固持支撑板20与其上的老化测试板16，而非如同现有习知的导轨仅借由支撑老化测试板而支撑与固持老化测试板与支撑板进行老化测试，所以不会因重量过重造成老化测试板破坏与破裂。上固定部104位于主体100的上端用以防止在进行老化测试时，因老化测试装置运转所造成老化测试板与支撑板向上跳动，而将其固持于泛用型导轨结构100上，并免跳动造成 老化测试板的破坏或是老化测试板16由泛用型导轨结构100上脱落，并且进一步防止因老化测试板16与支撑板20因与导轨碰撞而产生粉尘。再者，由于上固定部104的宽度不大，而不会与老化测试板16上的电路(图中未示)与电子元件18接触，所以不会对其造成破坏或毁损。借由泛用型导轨结构100的上固定部104与下固定部106可以提供任何种类的与尺寸的电子元件18或老化测试板16 —有效的固定与支撑，而将其稳定地固持于老化测试炉中进行老化测试。借此，使得泛用型导轨结构100为一种可以适用于不同种类与尺寸的电子元件18或老化测试板16的泛用型导轨结构。举例来说，如图2B所示，当老化测试板16或电子元件18的尺寸较小时，支撑板20的边缘部分完全与泛用型导轨结构100 (或下固定部106)接触，而由泛用型导轨结构100 (或下固定部106)所支撑并提供给老化测试板16(包含其上的电子元件18)与支撑板20 —有效的支撑，所以不会如现有习知的导轨仅支撑老化测试板而造成老化测试板破损，而上固定部104则借由与老化测试板16边缘接触而将老化测试板16 (包含其上的电子元件18)与支撑板20固定于泛用型导轨结构100 (或下固定部106)上，使其不会在进行老化测试时，因老化测试装置运转所造成老化测试板与支撑板向上跳动。如图2C所示，当老化测试板16或电子元件18的尺寸较大小时，支撑板20的边缘部分仅有一部分与泛用型导轨结构100(或下固定部106)接触，但是借由此一部分的接触，泛用型导轨结构100 (或下固定部106)仍然足以提供给老化测试板16 (包含其上的电子元件18)与支撑板20—有效的支撑，所以同样不会如现有习知的导轨仅支撑老化测试板而造成老化测试板破损，而上固定部104同样借由与老化测试板16边缘接触而将老化测试板16 (包含其上的电子元件18)与支撑板20固定于泛用型导轨结构100 (或下固定部106)上，使其不会因老化测试装置运转造成老化测试板与支撑板向上跳动。上固定部104最前端的缺口 108，使得在线人员在插拔老化测试板16与支撑板20时，无需仔细对准泛用型导轨结构100的凹槽119，可先导入泛用型导轨结构100前端的上方的缺口 108，插入与拔出老化测试板16与支撑板20，以利老化测试板16与支撑板20的取放与插拔，并且避免老化测试板16与支撑板20在插拔时与泛用型导轨结构100碰撞，而避免因为碰撞导致电子元件18、老化测试板16、支撑板20、以及泛用型导轨结构100损伤，以及减少与避免因碰撞所产生的粉尘。再者，缺口 108的边缘皆为一斜面，可以有效的导引老化测试板16与支撑板20插入泛用型导轨结构100中，避免其相互碰撞导致损伤，以及减少与避免因碰撞所产生的粉尘。请参阅图2D，其为图2A所示的泛用型导轨结构100沿AA切线切割的剖面结构图。泛用型导轨结构100通常为一可以耐高温且在高温下不会变形的金属材质，例如铝或其它在高温下不会变形的金属，所以其具有较高的硬度，但是在长期且频繁地插拔老化测试板16与支撑板20的状况下，仍然会造成泛用型导轨结构100的磨损，进而产生粉尘污染老化测试炉内部与电子元件18。因此，本实用新型可以在泛用型导轨结构100的表面101 (包含整个主体102的表面、整个上固定部104的表面、以及整个下固定部106的表面)包覆一层硬质氧化层110。硬质氧化层110可以利用硬阳极处理在表面101上形成一氧化膜层，例如氧化铝膜层，由于硬质氧化层110具有高硬度、耐磨性佳、高电阻(绝缘性佳)、以及耐腐蚀等特性，使得泛用型导轨结构100不但不易因与老化测试板16及支撑板20碰撞而产生粉尘，更可以提供泛用型导轨结构100—良好的保护，并确保泛用型导轨结构100不会因本身为导电性材质而影响测试。再者，在硬质氧化层110的表面上可以包覆一软质耐磨层112，例如铁氟龙或其它低摩擦系数且耐高温的材质，借由软质耐磨层112的低摩擦系数此一特性，而减少泛用型导轨结构100与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，进而减少泛用型导轨结构100与老化测试板16以及支撑板20之间摩擦产生粉尘的机率。请参阅图3A与图3B，两者分别为本实用新型的另一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的剖面图，其同时显示该泛用型导轨结构用于不同尺寸的老化测试板的状·况，但是其仅显示老化测试板与一边的导轨接触的状况。请参阅图3A与图3B，在本实用新型另一实施例的泛用型导轨结构100中，可以将上固定部104的内侧表面104a制作成一斜面，使得其与任何尺寸的老化测试板16皆仅以老化测试板16的边线接触，而将泛用型导轨结构100 (或上固定部104)与老化测试板16由原先的以面接触改变为以线接触，进而减少泛用型导轨结构100(或上固定部104)与老化测试板16的接触面积以及减少两者之间的接触与摩擦，因此，将有效的减少因摩擦所产生的粉尘。其次，下固定部106的内侧表面106a也可以制作成一斜面，使得在使用任何尺寸的老化测试板16进行测试时，皆仅以支撑板20的边线与下固定部106接触，老化测试板16下方的支撑板20与将泛用型导轨结构100 (或下固定部106)由原先的以面接触改变为以线接触，进而减少泛用型导轨结构100(或下固定部106)与支撑板20的接触面积以及减少两者之间的接触与摩擦，因此，将有效的减少因摩擦所产生的粉尘。另外，为了能更进一步减少泛用型导轨结构100与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，特别是泛用型导轨结构100的主体的内侧表面与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，除了将上固定部104的内侧表面104a与下固定部106的内侧表面106a制作成斜面之外，可以在主体的内侧表面设置或贴附一软质耐磨层114a(如图4A与图4B所示)，例如铁氟龙或其它低摩擦系数且耐高温的材质，减少主体的内侧表面与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，进而有效的减少因摩擦所产生的粉尘。甚至，为了更进一步减少泛用型导轨结构100与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，特别是上固定部104的内侧表面104a与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，以及下固定部106的内侧表面106a与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，在本实用新型的另一实施例中(如图5A所示)，除了将上固定部104的内侧表面104a与下固定部106的内侧表面106a制作成斜面，以及在主体的内侧表面设置或贴附一软质耐磨层114a之外，也在上固定部104的内侧表面104a与下固定部106的内侧表面106a上分别设置或贴附一软质耐磨层114b与114c，以减少上固定部104的内侧表面104a与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，以及减少下固定部106的内侧表面106a与老化测试板16及支撑板20之间的摩擦，进而有效的减少因摩擦所产生的粉尘。请参阅图5B与图5C，两者分别为本实用新型的另一实施例的用于老化测装置的泛用型导轨结构的剖面图，其同时显示该泛用型导轨结构用于不同尺寸的老化测试板的状况。在图5B与图5C所示的实施例中，泛用型导轨结构100为了能进一步减少其与老化测试板16及支撑板20之间的接触面积和摩擦，除了将上固定部104的内侧表面104a与下固定部106的内侧表面106a制作成斜面，以及在主体的内侧表面、上固定部104的内侧表面104a、以及下固定部106的内侧表面106a上分别设置或贴附一软质耐磨层114d、114b与114c之外，更将主体的内侧上表面的软质耐磨层114d的内侧表面，即与老化测试板16及支撑板20接触的表面，制作成一斜面。因此，使得软质耐磨层114d使得在使用任何尺寸的老化测试板16进行测试时，皆仅以老化测试板16的边线与主体的内侧表面(或软质耐磨层 114d)接触，而不再与老化测试板16的其它部分接触，并将老化测试板16与将泛用型导轨结构100 (或主体内侧的软质耐磨层114d)由原先的以面接触改变为以线接触，进而减少泛用型导轨结构100 (或主体内侧的软质耐磨层114d)与支撑板20及老化测试板16的接触面积以及减少彼此之间的接触与摩擦，因此，将有效的减少因摩擦所产生的粉尘。以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
权利要求1.一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于其包含 一主体； 一上固定部，由该主体上端延伸而出，用以防止老化测试板与支撑板向上跳动；以及 一下固定部，由该主体下端延伸而出，用以支撑老化测试板与支撑板； 其中，该上固定部最前端形成一缺口，用以取放老化测试板与支撑板，且该主体、该上固定部、以及该下固定部连结形成一 C字形的凹槽，用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板及支撑板。
2.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该上固定部内侧表面为一斜面。
3.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该上固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。
4.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该下固定部内侧表面为一斜面。
5.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该下固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。
6.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该主体的内侧表面设置有一软质耐磨层。
7.根据权利要求6所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该软质耐磨层内侧表面为一斜面。
8.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于其更包含一硬质氧化层包覆于该主体的表面、该上固定部的表面、以及该下固定部的表面上。
9.根据权利要求8所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于其更包含一软质耐磨层，包覆于该硬质氧化层的表面上。
10.根据权利要求I所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于该缺口的边缘为一斜面。
专利摘要本实用新型是有关于一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其包含主体、上固定部及下固定部。上固定部最前端形成一缺口，用以取放老化测试板与支撑板，且主体、上固定部、以及下固定部连结形成凹槽，用以支撑与取放老化测试板与支撑板，可有效减少老化测试板与支撑板磨损及产生粉尘。
文档编号G01R31/28GK202583248SQ20122008479
公开日2012年12月5日 申请日期2012年3月8日 优先权日2012年3月8日
发明者刘大纲, 柳彦章 申请人:京元电子股份有限公司