专利名称：飞针测试机的测头支架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及印制电路板(PCB)测试技术，特别是涉及一种飞针测试机的测头支架。
背景技术：
飞针测试机是一个在制造环境测试PCB的系统，飞针测试是一个检查PCB电性功能的方法(开短路测试)之一。飞针测试机将各个测试针移动到固定的待测试单元上，测试针接触测试PCB的焊盘和通路孔从而测试在测单元的单个元件。PCB的焊盘和通孔的尺寸非常小，如果要保证测试精度，那么测试针在接触焊盘和通孔后由于受到接触面的反推力而后退移动过程中测试针头不能发生过大偏移。同时，测试针头小且锋利，为了保证PCB不被刮花，也要求测试针在接触PCB后不能够有过大的偏移量和接触力不能太大。测试针安装在飞针测试机的测头支架上，要保证测试精度及PCB的表面质量，测头支架的结构形式 及材料选取尤为重要。传统的测头支架在受力后退中不能保证其能平行移动，在移动过程中高度会降低，偏移量较大，难以保证测试精度。
实用新型内容基于此，提供一种确保测试精度的飞针测试机的测头支架。一种飞针测试机的测头支架，其包括基座和分别自所述基座朝同一侧延伸的数个力臂，所述各力臂末端分别设有安装单元，所述各安装单元形成安装部，其中至少两个力臂对称设置。在其中一个实施例中，所述力臂共有四个分别为第一力臂、第二力臂、第三力臂和第四力臂，所述第一力臂和第二力臂对称设置，所述第三力臂和第四力臂对称设置。在其中一个实施例中，所述第一力臂的长度大于所述第三力臂的长度。在其中一个实施例中，所述各力臂与所述基座的交界处分别设有第一凹槽，所述各力臂与所述安装部的交界处分别设有第二凹槽。在其中一个实施例中，所述第一凹槽和第二凹槽均为一对背向设置的圆弧形凹槽。在其中一个实施例中，所述安装部包括由所述第一力臂与第三力臂的安装单元连接形成的第一安装部和由所述第二力臂和第四力臂的安装单元连接形成的第二安装部。在其中一个实施例中，所述基座上设置有贯穿的固定孔，所述安装部设置有贯穿的安装孔。在其中一个实施例中，至少一个所述力臂上设置有遮光块，所述遮光块垂直于所述力臂设置，所述遮光块一端与所述力臂弧形连接，另一端悬置。在其中一个实施例中，所述第三力臂和第四力臂上分别垂直凸设有遮光块。在其中一个实施例中，所述飞针测试机的测头支架为弹簧塑料一体注塑成型上述飞针测试机的测头支架，飞针测试机在测试时，飞针测试机的测头支架受到反推作用力，多个力臂能够有效分配力的大小，并使各力臂产生相应的变形，保证安装于安装部的测试针在测试中几乎平行地移动，偏移量较小；至少两个力臂对称设置使各力臂变形更加均匀，左右、上下方向晃动量更加少，从而保证了测试精度。
图I为本实施方式飞针测试机的测头支架的结构图；图2为本实施方式飞针测试机的测头支架安装单个测试针的结构图；图3为本实施方式飞针测试机的测头支架安装双个测试针的结构图。
具体实施方式
请参图1，一种飞针测试机的测头支架100，其包括基座110和分别自基座110朝同一侧延伸的数个力臂120。各力臂120末端分别设有安装单元，各安装单元形成安装部 130，其中至少两个力臂120对称设置。飞针测试机(未图示)在测试时，飞针测试机的测头支架100受到反推作用力，多个力臂120能够有效分配力的大小，并使各力臂120产生相应的变形，保证安装于安装部130的测试针(请参图2和图3)在测试中几乎平行地移动，偏移量较小；至少两个力臂120对称设置使各力臂变形更加均匀，左右、上下方向晃动量更加少，从而保证了测试精度。飞针测试机的测头支架100为弹簧塑料一体注塑成型。各力臂120与基座110的交界处分别设有第一凹槽121，各力臂120与安装部130的交界处分别设有的第二凹槽122，第一凹槽121和第二凹槽122可增加各力臂120的弹性。一个具体的实施方式中，第一凹槽121和第二凹槽122均为一对背向设置的圆弧形凹槽。一个具体的实施方式中，力臂120共有四个分别为第一力臂123、第二力臂124、第三力臂125和第四力臂126。第一力臂123和第二力臂124对称设置，第三力臂125和第四力臂126对称设置，使各力臂120变形更加均匀。第一力臂123的长度大于第三力臂125的长度，能够有效分配受力的大小。安装部130包括由第一力臂123与第三力臂125的安装单元连接形成的第一安装部131和由第二力臂124和第四力臂126的安装单元连接形成的第二安装部132。安装部130设置有贯穿的安装孔133，用以安装测试针200。基座110上设置有贯穿的固定孔111，用以固持飞针测试机的测头支架100到飞针测试机。飞针测试机的测头支架100至少一个力臂120上设置有遮光块127。遮光块127垂直于力臂设置，遮光块127—端与力臂弧形连接，另一端悬置。具体的，第三力臂125和第四力臂126上分别垂直凸设有遮光块127。遮光块127用于遮挡位移传感器(未图示，安装在其他元件上)的对射光，位移传感器将遮挡光量的多少转换成位移量，进而能在实际应用中测试出飞针测试机的测头支架100受力后退移动的形变量，从而可以实现控制测试针200受力变形大小的目的。一个具体的实施例中，请参图2，单个测试针200沿前后方向安装于第一安装部131和第二安装部132中，并且测试针的测头210朝向前方X方向。测试针200通过螺栓300安装于安装部130。测试时，测试针200受到反推力作用后，在朝X方向的反方向后退移动过程中测试针200的高度会有所降低，而第一凹槽121和第二凹槽122降低了各力臂120在第一凹槽121和第二凹槽122位置处的刚度，使各力臂后退时容易产生垂直于X方向的向上Y方向的变形，从而弥补了测试针200后退过程中高度降低的不足。第一力臂123至第四力臂126能够有效分配测试针200受到力的大小，各力臂120通过分配得到的力的大小，使各力臂两端的第一凹槽121和第二凹槽122产生相应的向上Y方向的变形，保证测试针200在后退过程中，测试针200几乎平行的移动，不会产生过大的倾斜角度，进而保证了后退移动过程中，测试针200能够与PCB(未图示)的接触面保持相对静止，测头210没有发生过大偏摆，保证了测试精度。第一力臂123和第二力臂124对称设置，第二力臂125 和第四力臂126对称设置，使得该飞针测试机的测头支架100在垂直于X方向的Z方向左右对称，可使单个测试针200在受力过程中，各力臂120变形更加均匀，左右、上下方向晃动量更加少，保证测试针200更加平稳的移动，确保测试精度。飞针测试机的测头支架100选取的材料为弹性模量适中的弹簧塑料，使各力臂120的刚度适中，不会因为刚度过高而导致接触力过大而使PCB留下凹痕，也不会因为刚度过低而导致变形过大和使用寿命过短的问题。同时，该各力臂120的形变量在选取的弹簧塑料的弹性变形范围内，使各力臂120受力发生形变后能恢复到受力前的情况。另一种具体的实施方式，请参图3，两个测试针200沿前后方向安装于第一安装部131和第二安装部132中，并且测试针的测头210朝向前方X方向，形成双针测头。其受力情况与上述实施例一致，不再赘述。以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求1.一种飞针测试机的测头支架，其特征在于，其包括基座和分别自所述基座朝同一侧延伸的数个力臂，所述各力臂末端分别设有安装单元，所述各安装单元形成安装部，其中至少两个力臂对称设置。
2.根据权利要求I所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述力臂共有四个分别为第一力臂、第二力臂、第三力臂和第四力臂，所述第一力臂和第二力臂对称设置，所述第三力臂和第四力臂对称设置。
3.根据权利要求2所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述第一力臂的长度大于所述第三力臂的长度。
4.根据权利要求I至3中任一项所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述各力臂与所述基座的交界处分别设有第一凹槽，所述各力臂与所述安装部的交界处分别设有第二凹槽。
5.根据权利要求4所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述第一凹槽和第二凹槽均为一对背向设置的圆弧形凹槽。
6.根据权利要求2所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述安装部包括由所述第一力臂与第三力臂的安装单元连接形成的第一安装部和由所述第二力臂和第四力臂的安装单元连接形成的第二安装部。
7.根据权利要求I所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述基座上设置有贯穿的固定孔，所述安装部设置有贯穿的安装孔。
8.根据权利要求I所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，至少一个所述力臂上设置有遮光块，所述遮光块垂直于所述力臂设置，所述遮光块一端与所述力臂弧形连接，另一端悬置。
9.根据权利要求2所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述第三力臂和第四力臂上分别垂直凸设有遮光块。
10.根据权利要求I所述的飞针测试机的测头支架，其特征在于，所述飞针测试机的测头支架为弹簧塑料一体注塑成型。
专利摘要本实用新型涉及一种飞针测试机的测头支架，其包括基座和分别自所述基座朝同一侧延伸的数个力臂，所述各力臂末端分别设有安装单元，所述各安装单元形成安装部，其中至少两个力臂对称设置。飞针测试机在测试时，飞针测试机的测头支架受到反推作用力，多个力臂能够有效分配力的大小，并使各力臂产生相应的变形，保证安装于安装部的测试针在测试中几乎平行地移动，偏移量较小；至少两个力臂对称设置使各力臂变形更加均匀，左右、上下方向晃动量更加少，从而保证了测试精度。
文档编号G01R1/04GK202693624SQ20122029437
公开日2013年1月23日 申请日期2012年6月21日 优先权日2012年6月21日
发明者谭艳萍, 王星, 廉成, 宋福民, 高云峰 申请人:深圳市大族激光科技股份有限公司, 深圳市大族数控科技有限公司