专利名称：一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光衍射法粉体粒度测量技术，具体为一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口。
背景技术：
传统的光衍射法粉体粒度测量干法窗口通常由样品喷管、光学玻璃窗口和收尘管组成，其中光学玻璃窗口作为测量介质(含粉体样品)与环境分隔。实际使用时，光学玻璃窗口会出现表面划伤或污染现象。光学玻璃窗口的表面划伤及污染大大增加了测量的背景噪
曰
·发明内容针对上述问题，本实用新型提供一种降低背景噪音、有效提高测量精度的用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口。本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案是一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，包括样品喷管以及对准样品喷管的出口并与出口间隔设置的收尘管，样品喷管的外侧设置有环绕样品喷管的导流管，导流管上设置有风向吹向收尘管的第一类进风口。优选的是，导流管上于第一类进风口下游的位置处设置有垂直吹向样品喷管外侧的第二类进风口。优选的是，所述第一类进风口的风向向样品喷管偏置。优选的是，所述样品喷管、收尘管以及导流管的中心轴线重合。优选的是，收尘管的负压接口上设置有负压传感器。本实用新型的有益效果是本实用新型在样品喷管外侧增加环绕喷管的导流管，工作时，在收尘管内负压牵引下，导流管内气流在样品喷管喷出样品流周围形成层流如“气帘”，代替光学玻璃窗口分隔样品流和环境，无光学玻璃的表面划伤及污染大大降低了测量的背景噪音，并且无光学玻璃反射衰减和全反射盲区，有得于提高测量精度，另外，采用这种窗口的粒度仪也能够简化测试操作程序，降低测试和维护操作的工作量和难度。
以下结合附图和具体实施方式
进行进一步的说明图I为本实用新型一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
参照
图1，一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，包括样品喷管I以及对准样品喷管I的出口并与出口间隔设置的收尘管2，样品喷管I的外侧设置有环绕样品喷管I的导流管3，导流管3上设置有风向吹向收尘管2的第一类进风口 4。如图I所示，本实用新型在使用时样品喷管I和收尘管2之间的间隙的两端分别设置有透镜6和探测器组7，激光从透镜6 —侧进入，激光射到样品时发生扩散，探测器组7检测扩散后的光照信号，从而判断样品粉体的粒度大小。其中，在收尘管内负压牵引下，导流管内气流在样品喷管喷出样品流周围形成层流如“气帘”，代替光学玻璃窗口分隔样品流和环境。为了确保导流效果，优选的是第一类进风口 4的风向向样品喷管I偏置，使得从第一类进风口 4进入的风形成良好的“气帘”。另外优选的是，导流管3上于第一类进风口 4下游的位置处设置有垂直吹向样品喷管I外侧的第二类进风口 5，第一类进风口 4和第二类进风口 5吹入的风汇聚后产生紧贴样品喷管的气帘风，导流效果更优，样品可以更好地向收尘管一侧输送。在一般的实施例中，如图I所示，样品喷管I、收尘管2以及导流管3的中心轴线重合，这种设置的样品导流效果较优。另外，为了保证样品粉体不产生污染，收尘管2的负压接口上设置有负压传感器。此负压传感器可以检测收尘管的负压，当负压不足时，关闭样品喷管，停止测量，确保样 品粉不产生污染。本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，只要其以基本相同的手段达到本实用新型的技术效果，都应属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，包括样品喷管(I)以及对准样品喷管(I)的出口并与出口间隔设置的收尘管(2)，其特征在于样品喷管(I)的外侧设置有环绕样品喷管(I)的导流管(3 )，导流管(3 )上设置有风向吹向收尘管(2 )的第一类进风口(4)。
2.根据权利要求I所述的一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，其特征在于导流管(3)上于第一类进风口(4)下游的位置处设置有垂直吹向样品喷管(I)外侧的第二类进风口(5)。
3.根据权利要求I所述的一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，其特征在于所述第一类进风口(4)的风向向样品喷管(I)偏置。
4.根据权利要求I所述的一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，其特征在于所述样品喷管(I)、收尘管(2)以及导流管(3)的中心轴线重合。
5.根据权利要求I所述的一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，其特征在于收尘管(2)的负压接口上设置有负压传感器。
专利摘要本实用新型公开了一种用于光衍射法粉体粒度测量的无玻璃干法窗口，包括样品喷管以及对准样品喷管的出口并与出口间隔设置的收尘管，样品喷管的外侧设置有环绕样品喷管的导流管，导流管上设置有风向吹向收尘管的第一类进风口。本实用新型在样品喷管外侧增加环绕喷管的导流管，工作时，在收尘管内负压牵引下，导流管内气流在样品喷管喷出样品流周围形成层流如“气帘”，代替光学玻璃窗口分隔样品流和环境，无光学玻璃的表面划伤及污染大大降低了测量的背景噪音，并且无光学玻璃反射衰减和全反射盲区，有得于提高测量精度，另外，采用这种窗口的粒度仪也能够简化测试操作程序，降低测试和维护操作的工作量和难度。
文档编号G01N15/02GK202793975SQ20122040911
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月17日 优先权日2012年8月17日
发明者吴爱斌, 阳永锋 申请人:珠海欧美克仪器有限公司