专利名称：一种v波段平面电路测试夹具的制作方法
技术领域：
本发明涉及电路测试技术领域，特别是涉及一种V波段平面电路测试夹具。
背景技术：
微波需要通过微波传输线来进行传输，常用的微波传输线有微带线，同轴线，波导等，微带线是一种平面形式的微波传输线，特别适合制作微波集成电路，随着集成电路设计和工艺技术的发展，在现代微波电子设备中，电路设计广泛采用微带线形式。微波电路之间的连接或者微波电路与测试设备之间的连接主要采用同轴线和波导形式，但在V波段，采用波导形式具有更高的可靠性和经济性，以及更低的损耗，即微波电路的输入输出接口需要采用波导接口形式，这样就要实现波导与微带之间的转换。实现波导与微带之间的转换，传统的做法是通过一个微波转换接头来实现微波信号在不同传输线形式之间的变换。这里的微波转换接头主要是指波导微带转换器，一端是可搭在微带上、与微带连接的同轴针，一端是带法兰安装面的波导口。但是，一方面，目前市场上很少有应用于V波段的波导微带转换器；另一方面，用同轴实现波导与微带之间的互联，既会使损耗变大，也会增加设计的复杂度。所以需求的是波导与微带之间直接进行转换的转换器。波导与微带之间直接转换的方法有脊波导和鳍线。这两种转换方式应用都较少，如果用鳍线实现波导与微带的转换，整个被测电路会被封闭在波导腔内，这样一来，一方面被测电路的体积会受限，另一方面对于某些电路可能会引起自激。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种独立通用，易于加工，体积小，损耗低，波导口方向与微带传输线方向保持一致，方面实用的V波段平面电路测试夹具。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种V波段平面电路测试夹具，包括用于放置测试电路的底座、第一波导结构件和第二波导结构件，所述第一波导结构件安装在所述底座上形成输入波导口，所述第二波导结构件安装在所述底座上形成输出波导口，所述输入波导口的方向和输出波导口的方向与测试电路的微带传输线方向一致；所述测试电路的微带处于开放环境中。所述输入波导口和输出波导口均采用脊波导转换形式，一端为波导接口，另一端设有脊，所述脊直接压接在测试电路的微带上。所述脊波导转换形式为阶梯式单脊波导形式。所述第一波导结构件整体呈长方体结构，所述长方体结构的侧面中央位置上设有一与底座上卡槽相配且贯穿长方体结构径向的凸台，所述凸台上的一侧设有阶梯式单脊；所述第二波导结构件的结构与第一波导结构件的结构相同。所述阶梯式单脊的最后一级直接压在测试电路的微带上。所述第一波导结构件和第二波导结构件的远离阶梯式单脊的一侧的侧面还设有法兰接口。
所述底座上还安装有带有供电孔的挡板。有益效果由于采用了上述的技术方案，本发明与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果:本发明将以微带输入输出的待测电路的两端微带部分分别插入脊波导中，实现微带与波导之间的转换，最后的输入输出均为波导接口。本发明可独立通用，易于加工，体积小，损耗低，装卸方便，可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。其相关的技术也同样可以运用到其他的微波频段，实用性很高。
图1是本发明与微带的装配示意图；图2是图1的A向视图；图3是图2的B向视图；图4是整体装配示意图。图5是本发明中底座结构示意图；图6是本发明中第一波导结构件的结构示意图。
具体实施例方式下面结合具体实施例，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。本发明的实施方式涉及一种V波段平面电路测试夹具，如图1至图4所示，包括用于放置测试电路的底座3、第一波导结构件I和第二波导结构件2，所述第一波导结构件I安装在所述底座3上形成输入波导口 8，所述第二波导结构件2安装在所述底座3上形成输出波导口 9,所述输入波导口 8的方向和输出波导口 9的方向与测试电路的微带10传输线方向一致；所述测试电路的微带10处于开放环境中。所述输入波导口 8和输出波导口 9均采用脊波导转换形式，一端为波导接口，另一端设有脊，所述脊直接压接在测试电路的微带10上。所述脊波导转换形式为阶梯式单脊波导形式。所述第一波导结构件I和第二波导结构件2的远离阶梯式单脊4的一侧的侧面还设有法兰接口 5。所述底座3上还安装有带有供电孔的挡板11。如图6所示，所述第一波导结构件I整体呈长方体结构，所述长方体结构的侧面中央位置上设有一与底座3 (见图5)上卡槽相配且贯穿长方体结构径向的凸台，所述凸台上的一侧设有阶梯式单脊4 ;所述第二波导结构件与第一波导结构件的结构相同。所述阶梯式单脊4的最后一级直接压在测试电路的微带上。如图5所示，底座3侧面还设有两个卡槽，用于与带有供电孔的挡板11装配。由于本发明采用脊波导的形式，除了输入输出两端口的波导转脊波导是在波导腔内，其它从微带到整个被测电路部分均是在开放环境中，既没有体积限制，也不会造成腔体自激，而且整个测试夹具体积小，损耗低，带宽宽。本发明的输入端为输入波导口 8，输出端为输出波导口 9，测试电路用微带10代替，微带10直接压接在第一波导结构件I的脊4和第二波导结构件2的脊下，第一波导结构件I通过螺钉孔6固定在底座3上，第二波导结构件2通过螺钉孔7固定在底座3上。测试时，测试设备通过与法兰接口 5相对接实现与波导口 8的连接，输出端同理。当所测电路需要供电时，供电用的挡板11可通过螺钉孔13固定在结构件3上，供电由供电孔14供入。不难发现，本发明将以微带输入输出的待测电路的两端微带部分分别插入脊波导中，实现微带与波导之间的转换，最后的输入输出均为波导接口。本发明可独立通用，易于加工，体积小，损耗低，装卸方便，可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。其相关的技术也同样可以运用到其他的微波频段，实用性很高。
权利要求
1.一种V波段平面电路测试夹具，包括用于放置测试电路的底座(3)、第一波导结构件(1)和第二波导结构件(2)，其特征在于，所述第一波导结构件(I)安装在所述底座(3)上形成输入波导口(8)，所述第二波导结构件(2)安装在所述底座(3)上形成输出波导口(9)，所述输入波导口(8)的方向和输出波导口(9)的方向与测试电路的微带(10)传输线方向一致；所述测试电路的微带(10)处于开放环境中。
2.根据权利要求1所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述输入波导口(8)和输出波导口(9)均采用脊波导转换形式，一端为波导接口，另一端设有脊，所述脊直接压接在测试电路的微带(10)上。
3.根据权利要求2所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述脊波导转换形式为阶梯式单脊波导形式。
4.根据权利要求3所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述第一波导结构件(I)整体呈长方体结构，所述长方体结构的侧面中央位置上设有一与底座上卡槽相配且贯穿长方体结构径向的凸台，所述凸台上的一侧设有阶梯式单脊(4);所述第二波导结构件(2)的结构与第一波导结构件(I)的结构相同。
5.根据权利要求4所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述阶梯式单脊(4)的最后一级直接压在测试电路的微带(10)上。
6.根据权利要求4所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述第一波导结构件(I)和第二波导结构件(2)的远离阶梯式单脊(4)的一侧的侧面还设有法兰接口(5)。
7.根据权利要求1所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述底座(3)上还安装有带有供电孔的挡板(11)。
全文摘要
本发明涉及一种V波段平面电路测试夹具，包括用于放置测试电路的底座、第一波导结构件和第二波导结构件，所述第一波导结构件安装在所述底座上形成输入波导口，所述第二波导结构件安装在所述底座上形成输出波导口，所述输入波导口的方向和输出波导口的方向与测试电路的微带传输线方向一致；所述测试电路的微带处于开放环境中。本发明可独立通用，易于加工，体积小，损耗低，装卸方便，可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。
文档编号G01R1/04GK103207291SQ20131008080
公开日2013年7月17日 申请日期2013年3月14日 优先权日2013年3月14日
发明者汪书娜, 李凌云, 孙晓玮, 钱蓉 申请人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所