一种基于ccd的高精度测量方法

文档序号:6180916阅读:2316来源:国知局
一种基于ccd的高精度测量方法
【专利摘要】本发明属于机器视觉领域,涉及一种基于CCD的高精度测量方法,突破了目前基于CCD的尺寸测量技术中多用于小尺寸物体测量的局限,该算法构建摄像机成像模型,标定相机内外参数,根据畸变模型和内参数据校正图像;提出了利用邻域信息区分被测物上下表面边缘的方法,采用Canny滤波器提取被测物上表面亚像素边缘信息,根据被检测零件的CAD数据创建模板,利用基于形状的模板匹配算法精确定位识别被测物,根据点激光器获得被测物深度信息,约束并换算被测物上表面姿态,最后将轮廓距离作为被测物加工误差的度量,该算法可应用于大尺寸平面零件尺寸测量,精度可达亚像素级别。
【专利说明】—种基于CCD的高精度测量方法【技术领域】[0001]本发明属于图像处理【技术领域】,涉及一种基于CCD的高精度测量方,能够为机械 零件加工提供高精度、高效率的检测。【背景技术】[0002]现代工业正向着加工自动化、高速化、精密化的方向发展,企业对产品的加工精度 要求越来越高。在机械加工过程中,由于机床震动、刀具磨损、对刀偏移种种原因都会直接 或者间接影响加工精度。获得工件尺寸加工精度的重要途径是测量。测量是产品制造工艺 中的关键环节,是判断产品生产质量的主要手段。先进制造技术的发展,对测量提出了高精 度、高效率、良好柔性要求,也越来越强调实时在线非接触测量。例如金属板材精密裁切企 业在购买和使用高精度裁切工具时,怎样了解裁切产品的精度,这是长期困惑业内许多工 程师和操作人员的难题,尤其在裁切不规则形状零件时,更是难以做高精度的测量。[0003]越来越多的研究人员和企业把目光投射到CXD尺寸测量技术,它已成为一种非常 有效的非接触检测技术,使加工、检测和控制过程融为一体,可以满足测量速度快、精度高、 非接触及动态自动测量的要求。CCD尺寸测量技术比现有的机械式、光学式、电磁式量仪优 越得多,特别在微型、大型、复杂、多曲面工件检测识别中的应用,有效避免了人工检测识别 劳动强度大,效率低,易疲劳性和传统检测功能比较单一,自动化、智能化程度不高缺点,且 识别精度和实时性也越来越好。但是目前国内利用CCD进行工业实时在线检测的系统不 多,而且多用线阵CCD,精度不高,个别要求高精度的系统多采用多个线阵CCD拼接的技术, 也有通过多台低分辨率面阵CCD拼接来达到高精度要求的。[0004]由此可见,CXD可用来进行尺寸测量、工件定位以及轮廓瞄准,但受到现场环境、光 源、系统分辨率及成像精度的影响,应用单个面阵CCD进行高精度大尺寸测量,精度达亚像 素级,而且投入工业实际运行的自动生产线,国内尚未见报道,虽有一些理论研究,但都不 足以解决现有应用面阵CCD进行大尺寸图像测量系统所存在的问题。大尺寸物体(尺寸超 过500 mmX 500mm)的高精度测量(精度高于0.05mm)面临很大困难。因此研制出一种利用 CCD进行零件尺寸自动测量系统,实现大尺寸零件的快速高精度测量,减少测量过程中所 带来的人为误差,对提高经济效益,提高系统的自动化程度和智能化程度,具有重要意 义。
【发明内容】
[0005]本发明的目的是克服现有技术的上述不足,提出了基于CCD的高精度测量方法, 利用本方法提供的步骤中的关键技术,力求能够为机械零件加工提供高精度、高效率的检 测,避免传统人工检测所固有的主观性、易疲劳、速度慢、成本高、强度大的缺点。尤其是为 金属板材精密裁切提供理论和技术上的支持,使裁切件检测具有一致性、精确性和重复性 的优点。[0006]本发明是通过以下的方法实现的:基于CCD的高精度测量方法,其特征在于,包括下列步骤:
(1)标定摄像机内外參数并校正图像;
(2)定位被测物;
(3)区分被测物上下边缘,提取上表面亚像素边缘;
(4)測量被测物高度,确定被测物的边缘实际坐标;
(5)导入被测零件的CAD数据,创建模板并匹配;
(6)将模板与被测物边缘模型进行比较并进行误差分析。
[0007]本发明的实质性特点是,建立了一个基于机器视觉的机械零件检测模型,该模型综合运用了摄像机标定、亚像素边缘轮廓提取和基于形状的模板匹配技木。首先,根据摄像机成像模型,对相机进行内外部參数标定,根据内部參数校正畸变图像。然后,定位被测物,区分其上下边缘并提取上表面的亚像素边缘,导入CAD数据模型,采用基于形状的模板匹配方法匹配被测物。最后将轮廓距离作为误差的度量。本发明与现有技术相比较具有如下优点:
1.提出了利用点激光器获得被测物的深度信息,为测量平面的姿态转换提供先验信息,从而实现平面金属板材、基片不同厚度被测物的高精度測量。
[0008]2.本发明在计算边缘时采用亚像素的边缘提取,精度较高。
[0009]3.提出了用邻域信息区分被测物上下表面边缘的方法。
【专利附图】

【附图说明】
[0010]图1:本发明的測量方法流程图;
图2:測量系统安装方案示意图;
图3:几何測量厚度方法说明图。
[0011]图中:1.摄像机,2.被测物,3.光源,4.标准量块。
【具体实施方式】
[0012]本发明的流程图如图1所示,首先摄像机进行内外參数标定,利用标定的数据对被测物图像进行畸变校正,然后定位被测物,区分被测物上下表面边缘并提取上表面的亚像素边缘,之后根据CAD数据创建模板,利用基于形状的模板匹配算法精确定位识别被测物,根据点激光器获得被测物深度信息,约束并換算被测物上表面姿态,比较模板与被测物并进行误差分析。下面结合附图,对本发明技术方案的具体实施过程加以说明。
[0013]1.系统结构设计
系统结构设计如图2所示。其中,为了提供高清晰度的零件轮廓,背光源采用高密度LED阵列面提供高強度背光照明,光线通过导光板和扩散板从被测物后方照射,CCD相机安装在測量平面上方,光轴垂直于测量平面,点激光器放置于测量平面ー侧。
[0014]2.摄像机内外參数标定并校正图像
建立面阵摄像机的非线性成像几何模型,基于两步法思想对相机进行标定,得到内部參数:相机的光学和几何參数,以及外部參数:摄像机坐标系和世界坐标系之间的位姿关系。根据畸变模型和内參数据校正平面零件图像。
[0015]3.定位被测物为了缩小匹配范围,提高匹配的速度和精度,首先需要对被测物定位。由于被测物和图像背景之间存在非常显著的灰度差,采用基于灰度直方图的分割方法,对图像的直方图高斯平滑后,选择直方图两峰之间的最小值为阈值进行分割,得到的区域用3 X 3的正方形结构元素膨胀,设置膨胀后的区域为感兴趣区域(ROI)。[0016]4.区分上下表面边缘,提取上表面的亚像素边缘在被测物有一定的厚度且尺寸较大时,在距离相机一侧时会有上下边缘,而在相机另一侧时,只有上边缘,因此边缘信息需要区分上边缘与下边缘,并只提取被测物上表面的亚像素边缘。[0017]采用基于16邻域的方法区分上下边缘,对ROI中的任一像素P, 计算16邻域外层灰度最小值,若最小值大于阈值Τ,则认为此像素点不属于被测物上表面的像素点,将其设为255,计算方法为:设集合设集合 M ={r-lr,r + l}3.Y =
【权利要求】
1.一种基于CCD的高精度测量方法,包括下列步骤:标定摄像机内外参数并校正图像;定位被测物;区分被测物上下边缘,提取上表面亚像素边缘;测量被测物高度,确定被测物的边缘实际坐标;导入被测零件的CAD数据,创建模板并匹配;将模板与被测物边缘模型进行比较并进行误差分析。
2.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(2) 中,为了缩小匹配范围,提高匹配的速度和精度,首先需要对被测物定位,由于被测物和图像背景之间存在非常显著的灰度差,采用基于灰度直方图的分割方法,对图像的直方图高斯平滑后,选择直方图两峰之间的最小值为阈值进行分割,得到的区域用3 * 3的正方形结构元素膨胀,设置膨胀后的区域为感兴趣区域ROI。
3.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(3) 中,采用基于16邻域的方法区分上下边缘,对ROI中的任一像素p,计算16邻域外层灰度最小值》,若最小值大于阈值T,则认为此像素点不属于被测物上表面的像素点,将其值设为 255,计算方法为:设集合
4.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(4)中, 采用点激光器测量被测物高度,测量时,首先激光器投射出点状激光到被测物表面,记图像上点状激光中心为然后放置已知精确高度~的量块到平面上,投射出点状激光到量块上并拍摄图片,记图像上点状激光中心为。,再将点状激光投射到被测物表面上,由(XD摄像机拍射下此时物体表面上的成像,记图像上点状激光中心为 ,由于被测物体与量块高度不同,所以两次成像在水平方向上是不同的,从而利用三角法计算出物体厚度A可由式(3)、(4)求得:
5.根据权利要求1所述的ー种基于CCD的高精度測量算法,其特征在干,步骤(5)中,采用了一种基于形状的匹配算法,有效地解决目标发生旋转、平移的图像的匹配;具体方法为:首先根据被测物的CAD数据创建模板,计算CAD图像边缘每个点关联的方向向量;其次设模板图像的点集jj ,各点关联的方向向量rf',? =d”w,.ry J e(X2...n);模板图像中心点为P,待检图像每个点的方向向量为んみ/ ;配准吋,计算模板图像中心点p到待检图像的点? = (r-C)的变换矩阵A,通过仿射变换将模板图像按变换矩阵d整体平移,得到变换后的模板图像点集,记为ダ= (<C〕,其中变换后的方向向量为S7T=(X,,<,);最后计算变换后模板中所有的方向向量沃,与待检图像对应点方向向量的点集的总和,该点积的总和就是相似度量S:
6.根据权利要求1所述的ー种基于CCD的高精度測量算法,其特征在于,步骤(6)中, 设模板图像边缘点坐标为集合A(auaン…M),待检测图像边缘点坐标为集合Bibis hz=....h:.);两图像边缘间的偏差量定义为£^4:5>为,计算方法为:首先,对A中的每ー个点,计算其到B上所有点的距离近似欧式距离,距离用符号Il Il表示,计算方法如式(8);然后,将得到的距离进行排序,取其中距离最小值为此点的偏差量,用/和』>表示,最后,计算h(a.B)的集合即为两图像边缘间的偏差量丑(45);
【文档编号】G01B11/00GK103499297SQ201310509532
【公开日】2014年1月8日 申请日期:2013年10月25日 优先权日:2013年10月25日
【发明者】耿磊, 王忠强 申请人:爱科维申科技(天津)有限公司
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