双温度开关寿命试验的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的双温度开关寿命试验机，该机结构简单、安全可靠，它包括控制系统、支架（12）、上下往复机构（13），位于上下往复机构（13）的下方设有保温箱，该保温箱包括烘箱（1）、箱体（3）、箱盖（4），箱盖（4）上设有至少一个通孔（5），每个通孔（5）对应一个上下往复机构（13）的测试杆（14）并位于该测试杆（14）下方，所述通孔（5）用于安装被测试开关（6）以使被测试开关（6）的面板的上部（6.1）处于室内环境中，而面板的下部（6.2）处于箱体（3）内的环境中，箱体（3）设有温度传感器（7），该温度传感器（7）与控制系统电连接。
【专利说明】双温度开关寿命试验机
【技术领域】
[0001]本发明涉及试验设备【技术领域】，具体讲是一种双温度开关寿命试验机。
【背景技术】
[0002]现有的开关寿命试验机仅能处理一种温度下对开关的测试，无法模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试，为了实现双温度开关寿命试验，需要设计一种双温度开关寿命试验机。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是，提供一种能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的双温度开关寿命试验机，该机结构简单、安全可靠。
[0004]本发明的技术方案是，本发明双温度开关寿命试验机，它包括控制系统、支架、支架上设上下往复机构，控制系统与上下往复机构电连接以控制上下往复机构的动作，位于上下往复机构的下方设有保温箱，该保温箱包括由控制系统控制的烘箱、局部或者全部置于烘箱的烘腔中的箱体、盖住箱体的箱盖，箱盖上设有至少一个通孔，每个通孔对应一个上下往复机构的测试杆并位于该测试杆下方，所述通孔用于安装被测试开关以使被测试开关的面板的上部处于室内环境中，而面板的下部处于箱体内的环境中，箱体设有温度传感器，该温度传感器与控制系统电连接。
[0005]采用上述结构后，本发明与现有技术相比，具有以下优点:由于位于上下往复机构的下方设有保温箱，该保温箱包括由控制系统控制的烘箱、局部或者全部置于烘箱的烘腔中的箱体、盖住箱体的箱盖，箱盖上设有至少一个通孔，每个通孔对应一个上下往复机构的测试杆并位于该测试杆下方，所述通孔用于安装被测试开关以使被测试开关的面板的上部处于室内环境中，而面板的下部处于箱体内的环境中，箱体设有温度传感器，该温度传感器与控制系统电连接，这样，能够实现测试开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境，且烘箱的烘腔中的温度能够主动调整，按需设置，调整范围较大，从而实现双温度的模拟前提下再结合上下往复机构，使得本发明具有能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的优点，由本发明技术方案可知，该机结构简单、安全可靠。
[0006]作为改进，箱体的外立面设有第一隔热保温层，箱体的底部设有若干通风孔以使箱体内部与烘腔连通；箱盖底面除去通孔所在部分的剩余部分设有第二隔热保温层，这样，箱体内初始加温阶段温升快、持续的温度场稳定性及可控性好、从箱盖逃逸的热量少、节能，对温度的控制更为精确，更有利于本发明的实施及性能的提高。
[0007]作为改进，通孔为多个时，各通孔沿箱体左右直线方向依序均匀分布，这样，结构更为紧凑规整，更便于拆装测试。
[0008]作为改进，箱体的七分之三高度部分置于烘箱的烘腔中，温度传感器设于箱体的右内侧壁上，距离箱体的内底面的高度为右内侧壁高度的三分之二，由于箱体的多少部分置于烘箱的烘腔中以及温度传感器的位置对箱体的温度场的均匀性、稳定性及可控性甚为关键，上述结构更能够使箱体的温度保持均匀、稳定，温度传感器获取的温度更有利于烘箱实现对箱体内的温度的控制。
[0009]作为改进，控制系统的控制面板包括承托板、触摸屏、紧急按钮、液晶显示屏、仪表、键盘，键盘包括旋钮，承托板上设有安装孔用于安装触摸屏、紧急按钮、液晶显示屏、仪表、键盘，触摸屏、紧急按钮、液晶显示屏、仪表、键盘沿承托板高度方向自上而下依序分布，这样，触摸屏能够作为双温度开关寿命试验机的上下直线往复机构的控制界面，紧急按钮作为双温度开关寿命试验机整机在紧急情况下的控制界面，比如立即断电、紧急停止等安全控制，液晶显示屏、仪表、键盘及键盘上的旋钮作为双温度开关寿命试验机的烘箱的控制界面，上述结构将上下直线往复机构的控制界面、紧急情况下的控制界面、烘箱的控制界面整合到了一起，结构紧凑，符合人机工程学要求，更适用于作为双温度开关寿命试验机的控制界面使用，具有操作方便、安全可靠的优点。
[0010]作为改进，触摸屏为一个，并位于承托板的上部以形成第一控制区域以作为上下直线往复机构的控制界面；触摸屏正下方为三个紧急按钮，三个紧急按钮沿承托板左右直线方向依序设置，三个紧急按钮形成第二控制区域以作为双温度开关寿命试验机整机的紧急情况控制界面；三个紧急按钮正下方为一个液晶显示屏，液晶显示屏正下方为一个仪表，仪表下方为键盘，液晶显示屏、仪表、键盘形成第三控制区域以作为烘箱的控制界面，这样，结构更为紧凑规整，更便于操作。
[0011]作为改进，承托板设于支架的右下前侧，这样，操作方便顺手，且不会妨碍双温度开关寿命试验机的正面的操作，更有利于本发明的实施及性能的提高。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1是本发明双温度开关寿命试验机的主视图(烘腔、箱体、通孔、下部、温度传感器、第一隔热保温层、第二隔热保温层等因被遮挡，主要由虚线表示)。
[0013]图2是图1的A放大视图。
[0014]图3是本发明双温度开关寿命试验机的箱体的底部的局部仰视图。
[0015]图中所示，1、烘箱，2、烘腔，3、箱体，4、箱盖，5、通孔，6、被测试开关，6.1、上部，
6.2、下部，7、温度传感器，8、被测试开关安装板，9、第一隔热保温层，10、第二隔热保温层，
11、通风孔，12、支架，13、上下往复机构，14、测试杆，15、承托板，16、触摸屏，17、紧急按钮，
18、液晶显不屏，19、仅表,20、键盘。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图对本发明作进一步说明。
[0017]本发明双温度开关寿命试验机，它包括控制系统、支架12、支架12上设上下往复机构13，控制系统与上下往复机构13电连接以控制上下往复机构13的动作，位于上下往复机构13的下方设有保温箱，该保温箱包括由控制系统控制的烘箱1、局部或者全部置于烘箱I的烘腔2中的箱体3、盖住箱体3的箱盖4，箱盖4上设有至少一个通孔5，每个通孔5对应一个上下往复机构13的测试杆14并位于该测试杆14下方，所述通孔5用于安装被测试开关6以使被测试开关6的面板的上部6.1处于室内环境中，而面板的下部6.2处于箱体3内的环境中，箱体3设有温度传感器7，该温度传感器7与控制系统电连接。[0018]箱体3的外立面设有第一隔热保温层9，箱体3的底部设有若干通风孔11以使箱体3内部与烘腔2连通；箱盖4底面除去通孔5所在部分的剩余部分设有第二隔热保温层10。
[0019]通孔5为多个时，各通孔5沿箱体3左右直线方向依序均匀分布。
[0020]箱体3的七分之三高度部分置于烘箱I的烘腔2中，温度传感器7设于箱体3的右内侧壁上，距离箱体3的内底面的高度为右内侧壁高度的三分之二。
[0021]控制系统的控制面板包括承托板15、触摸屏16、紧急按钮17、液晶显示屏18、仪表19、键盘20，键盘20包括旋钮，承托板15上设有安装孔用于安装触摸屏16、紧急按钮17、液晶显示屏18、仪表19、键盘20，触摸屏16、紧急按钮17、液晶显示屏18、仪表19、键盘20沿承托板15高度方向自上而下依序分布。
[0022]触摸屏16为一个，并位于承托板15的上部以形成第一控制区域以作为上下直线往复机构4的控制界面；触摸屏16正下方为三个紧急按钮17，三个紧急按钮17沿承托板15左右直线方向依序设置，三个紧急按钮17形成第二控制区域以作为双温度开关寿命试验机整机的紧急情况控制界面；三个紧急按钮17正下方为一个液晶显示屏18，液晶显示屏18正下方为一个仪表19，仪表19下方为键盘20，液晶显示屏18、仪表19、键盘20形成第三控制区域以作为烘箱I的控制界面，键盘6呈九宫格分布，键盘6的最上面三个为旋钮。
[0023]承托板15设于支架12的右下前侧。
[0024]本例中，通孔5为三个，沿箱体3左右直线方向一字排开；为了便于拆装维护，还增加了被测试开关安装板8，被测试开关安装板8上设孔供下部6.2露出以使下部6.2能够与通孔5、箱体3连通，实现下部6.2的温度环境与箱体3内的温度环境相同，使用方法是先将被测试开关6安装在被测试开关安装板8上，然后将被测试开关安装板8通过蝶形螺母固定在箱盖4上。
【权利要求】
1.一种双温度开关寿命试验机，它包括控制系统、支架(12)、支架(12)上设上下往复机构(13)，控制系统与上下往复机构(13)电连接以控制上下往复机构(13)的动作，其特征在于，位于上下往复机构(13)的下方设有保温箱，该保温箱包括由控制系统控制的烘箱(I)、局部或者全部置于烘箱(I)的烘腔(2)中的箱体(3)、盖住箱体(3)的箱盖(4)，箱盖(4)上设有至少一个通孔(5)，每个通孔(5)对应一个上下往复机构(13)的测试杆(14)并位于该测试杆(14)下方，所述通孔(5)用于安装被测试开关(6)以使被测试开关(6)的面板的上部(6.1)处于室内环境中，而面板的下部(6.2)处于箱体(3)内的环境中，箱体(3)设有温度传感器(7 )，该温度传感器(7 )与控制系统电连接。
2.根据权利要求书I所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，箱体(3)的外立面设有第一隔热保温层(9)，箱体(3)的底部设有若干通风孔(11)以使箱体(3)内部与烘腔(2)连通；箱盖(4)底面除去通孔(5)所在部分的剩余部分设有第二隔热保温层(10)。
3.根据权利要求书I所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，通孔(5)为多个时，各通孔(5)沿箱体(3)左右直线方向依序均匀分布。
4.根据权利要求书I所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，箱体(3)的七分之三高度部分置于烘箱(I)的烘腔(2)中，温度传感器(7)设于箱体(3)的右内侧壁上，距离箱体(3)的内底面的高度为右内侧壁高度的三分之二。
5.根据权利要求书I所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，控制系统的控制面板包括承托板(15)、触摸屏(16)、紧急按钮(17)、液晶显示屏(18)、仪表(19)、键盘(20)，键盘(20)包括旋钮，承托板(15)上设有安装孔用于安装触摸屏(16)、紧急按钮(17)、液晶显示屏(18)、仪表(19)、键盘(20)，触摸屏(16)、紧急按钮(17)、液晶显示屏(18)、仪表(19 )、键盘(20 )沿承托板(15 )高度方向自上而下依序分布。
6.根据权利要求书5所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，触摸屏(16)为一个，并位于承托板(15)的上部以形成第一控制区域以作为上下直线往复机构(4)的控制界面；触摸屏(16)正下方为三个紧急按钮(17)，三个紧急按钮(17)沿承托板(15)左右直线方向依序设置，三个紧急按钮(17)形成第二控制区域以作为双温度开关寿命试验机整机的紧急情况控制界面；三个紧急按钮(17)正下方为一个液晶显示屏(18)，液晶显示屏(18)正下方为一个仪表(19)，仪表(19)下方为键盘(20)，液晶显示屏(18)、仪表(19)、键盘(20)形成第三控制区域以作为烘箱(I)的控制界面。
7.根据权利要求书5所述的双温度开关寿命试验机，其特征在于，承托板(15)设于支架(12)的右下前侧。
【文档编号】G01R31/327GK103699155SQ201310680139
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年12月12日 优先权日:2013年12月12日
【发明者】王晓岭, 何波, 于 玲 申请人:无锡品拓机电有限公司