专利名称：一种电参数测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电流与电压测试领域，尤其涉及一种电参数测试装置。
背景技术：
目前，电流与电压测试装置是各种电子产品生产测试中常用的工具之一，其用于测试电子产品在不同条件下工作过程中的工作电流和工作电压，以此衡量电子产品在特定条件下的性能，这样就能检测得知电子产品的合格率以确保其稳定性和寿命周期，这对于提高电子产品的质量有重要帮助。现有的电流与电压测试装置多采用万用表或类似于万用表之类的测试工具，由于此类测试工具在检测电流时需要将其串联到被测电路中，则在不同条件下对每个电子产品进行多次测试时均需要变换电流与电压测试装置的量程，但在变换量程的过程中往往会断开测试回路，或者使电子产品的工作电压降低，进而导致加载在电子产品上的电压不处于正常的工作电压范围内(即掉电)，使电子产品不能正常工作，从而需要再次重启测试回路。例如，在测试存储类产品(如U盘、SD卡、TSD卡等存储设备)的工作电流时，需要使存储类产品持续工作(即对存储类产品进行持续读写)，进而测试其在持续读写过程中的工作电流或工作电压，且不同的产品在不同条件下的工作电流和工作电压也不尽相同，所以在测试时还需要调整量程；在测试回路上电后，根据测试结果选择不同的量程，一般情况下，上电后的默认量程为小电流量程(因为电流过大容易烧坏测试装置)；当量程由小电流量程转换为大电流量程后，消耗在测试回路电阻上的电压会增大，进而导致加载在在测存储类产品上的电压不足，从而导致在测存储类产品掉电。在对存储类产品进行测试的过程中，如果在量程变换时导致在测存储类产品掉电，则对在测存储类产品的读写也将停止，这就不能满足持续读写测试的需要，那么，此时需要对测试回路进行重新通电。而在重新对在测存储类产品持续读写后，再测试其工作电流或工作电压会导致降低测试灵活性，特别地，在批量测试时还会进一步降低测试效率。综上所述，现有的测试工具在切换量程时会使在测电子产品掉电，进而导致测试灵活性低且测试效率低。
实用新型内容本实用新型提供了一种电参数测试装置，旨在解决现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。本实用新型是这样实现的，一种电参数测试装置，包括主机、数据采集处理模块及量程选择模块，所述主机对所述数据采集处理模块所采集的测试回路的电流数据和/或电压数据进行分析处理，所述数据采集处理模块连接电源，所述量程选择模块对量程进行变换，所述量程选择模块包括多路模拟开关和多个电阻，所述多个电阻中每个电阻均连接于所述电源和所述多路模拟开关之间，所述多路模拟开关还与所述数据采集处理模块共接于待测电子设备；[0008]所述电参数测试装置还包括与所述电源、所述多路模拟开关及所述多个电阻相连接，在所述主机驱动所述多路模拟开关变换所述多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换的过程中保持所述待测电子设备持续通电的测试保护模块。本实用新型通过在电参数测试装置中采用测试保护模块，可在主机驱动量程选择模块中的多路模拟开关变换所述多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率，解决了现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。
图1是本实用新型实施例提供的电参数测试装置的模块结构图；图2是本实用新型一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图；图3是本实用新型另一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图；图4是本实用新型又一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。本实用新型实施例通过在电参数测试装置中采用测试保护模块，可在主机驱动量程选择模块中的多路模拟开关变换多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率。图1示出了本实用新型实施例提供的电参数测试装置的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分，详述如下:本实用新型实施例所提供的电参数测试装置包括主机100、数据采集处理模块200及量程选择模块300，主机100对数据采集处理模块200所采集的测试回路的电流数据和/或电压数据进行分析处理，主机100可以是常用的电脑或者其他具备数据处理功能的设备，数据采集处理模块200连接电源VCC，量程选择模块300对量程进行变换，量程选择模块300包括多路模拟开关301和多个电阻(Rl Rn)，多个电阻(Rl Rn)中每个电阻均连接于电源VCC和多路模拟开关301之间，多路模拟开关301还与数据采集处理模块200共接于待测电子设备400。其中，多个电阻(Rl Rn)中的每个电阻对应多个量程中的每一个量程，且多个电阻(Rl Rn)按照阻值从大到小分别一一对应量程从小到大的多个量程，该多个量程包括有效量程和冗余量程，冗余量程的数量为零或任意正整数，多个电阻(Rl Rn)中与有效量程对应的电阻为有效量程电阻，多个电阻(Rl Rn)中与冗余量程对应的电阻为冗余量程电阻，所以，多个电阻(Rl Rn)包括有效量程电阻和冗余量程电阻，冗余量程电阻的数量为零或任意正整数；其中，有效量程是指在常规电参数测量中需要使用的量程(如电流档位为OA至100A);冗余量程是指在常规电参数测量过程中无需使用的量程(如电流档位为IOOOA 或 10000A)。电参数测试装置还包括与电源VCC、多路模拟开关301及多个电阻(Rl Rn)相连接，在主机100驱动多路模拟开关301变换多个电阻(Rl Rn)中接入测试回路的电阻以实现量程切换的过程中保持待测电子设备400持续通电的测试保护模块500。其中，多个电阻(Rl Rn)中每个电阻的阻值从电阻Rl至电阻Rn依次减小，这样就能保证量程切换时是从小量程依次切换至大量程。在本实用新型实施例中，如果待测电子设备400为存储类设备(如U盘、SD卡、TSD卡、EMMC等)，为了满足适合对存储类设备进行测试，则电参数测试装置还可以包括与数据采集处理模块200、多路模拟开关301及待测电子设备400连接的读卡器600，读卡器600可根据存储类设备的类型进行更换，也可以采用多合一读卡功能的读卡器。此外，为了使主机在从数据采集处理模块200获取到待测电子设备400的工作电流数据和/或工作电压数据后予以显示，以便于清楚直观地告知测试人员相应的测试结果，电参数测试装置还可以进一步包括与主机100相连接且对测试结果进行显示的测试结果提示模块700 ;在主机100预先设定好工作电流阈值范围和/或工作电压阈值范围的情况下，当所获取的工作电流数据和/或工作电压数据超出工作电流阈值范围和/或工作电压阈值范围时，测试结果提示模块700会向测试人员提示本次测试结果异常，表示待测电子设备400不合格。进一步地，测试结果提示模块700可以是LED模组、LED显示屏或IXD显示屏。图2示出了本实用新型一实施例提供的电参数测试装置的示例结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分，详述如下:作为本实用新型一实施例，测试保护模块500为一导线L，导线L串接于电源VCC和多路模拟开关301之间。 以下结合工作原理对图2所示的电参数测试装置作进一步说明:在测试回路上电后，且尚未开始进行工作电流或工作电压测试时，多路模拟开关301内部与导线L连接的开关始终处于闭合导通状态；当量程选择模块300确定测试量程并通过多路模拟开关301选择接入测试回路的电阻开始测试时，多路模拟开关301内部与导线L连接的开关断开，测试完毕后，多路模拟开关301内部与导线L连接的开关又会恢复闭合导通状态，即在量程选择模块300切换测试量程的过程中，电流经过导线L和待测电子设备组成导通回路，并在测试量程切换完毕时，再次开始测试时，多路模拟开关301内部与导线L连接的开关再次断开，测试完后，多路模拟开关301内部与导线L连接的开关再次闭合，再次变换量程进行测试，由此便可实现对待测电子设备400保持持续通电，进而使待测电子设备400可持续处于工作状态或持续处于非测试静止状态。图3示出了本实用新型另一实施例提供的电参数测试装置的示例结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分，详述如下:作为本实用新型另一实施例，测试保护模块500包括多个续流二极管(Dl Dn-m-1)，多个续流二极管(Dl Dn-m-1)的数量与多个电阻(Rl Rn)中的有效量程电阻(Rl Rn-m)的数量之差为一，多个续流二极管(Dl Dn-m-1)中的每个续流二极管的阳极一一对应地与有效量程电阻(Rl Rn-m)中除阻值最小的电阻Rn_m之外的每个电阻的第一端共接于电源VCC，多个续流二极管(Dl Dn-m-1)中的每个续流二极管的阴极--对应地与有效量程电阻(Rl Rn-m)中除阻值最小的电阻Rn_m之外的每个电阻的第二端共接于多路模拟开关301。在本实施例中，冗余量程电阻为Rn-m+1至Rn。以下结合工作原理对图3所示的电参数测试装置作进一步说明:以测电流为例，测试电压保持相对稳定，量程档位LCl LCn (有效量程档位是LCl LCn-m)可测电流范围是从小依次变大，即电阻Rl Rn(有效量程电阻是Rl Rn_m)的电阻值是从大依次变小。根据测试情况，主机100控制多路模拟开关301选择不同的量程测试(即选择接入测试回路的电阻不同)，具体为:例如，从量程档位LCl转换至量程档位LC2转换过程中，先在量程档位LCl上测试，当主机100检测到电流变大,超过量程档位LCl测试范围时，待测电子设备400将掉电，此时为避免待测电子设备掉电，与量程档位LCl对应的续流二极管Dl导通，则测试电流从续流二极管Dl通过多路模拟开关301流至待测电子设备400组成导通回路，从而保证待测电子设备400通电，然后，主机100控制多路模拟开关301内部与量程档位LC2对应的开关闭合，同时，主机100控制多路模拟开关301内部与量程档位LCl对应的开关断开，此时量程变换完成，即量程档位LCl的多路模拟开关断开，量程档位LC1、续流二极管Dl均不工作，启用量程档位LC2测试。同理，完成量程档位LC2到量程档位LC3的转换以及一直到量程档位LCn的转换与上述从量程档位LCl转换至量程档位LC2的转换过程相同，因此不再赘述。续流二极管(Dl Dn-m-1)在正常测试时不导通，其只在转换量程过程中才导通，以避免待测电子设备400掉电。图4示出了本实用新型又一实施例提供的电参数测试装置的示例结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分，详述如下:作为本实用新型另一实施例，测试保护模块500包括多个续流二极管(Dl Dn-m)，多个续流二极管(DI Dn_m)的数量与多个电阻(Rl Rn)中的有效量程电阻(Rl Rn-m)的数量相同，多个续流二极管(Dl Dn_m)中的每个续流二极管的阳极一一对应地与有效量程电阻(Rl Rn-m)中的每个电阻的第一端共接于电源VCC，多个续流二极管(Dl
Dn-m-Ι)中的每个续流二极管的阴极--对应地与有效量程电阻(Rl Rn_m)中的每个电
阻的第二端共接于多路模拟开关301。在本实施例中，冗余量程电阻为Rn-m+1至Rn。本实施例所提供的电参数测试装置的工作原理与图3所示的电参数测试装置的工作原理相同，因此不再赘述本实用新型实施例通过在电参数测试装置中采用测试保护模块，可在主机驱动量程选择模块中的多路模拟开关变换多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率，解决了现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改 、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种电参数测试装置，包括主机、数据采集处理模块及量程选择模块，所述主机对所述数据采集处理模块所采集的测试回路的电流数据和/或电压数据进行分析处理，所述数据采集处理模块连接电源，所述量程选择模块对量程进行变换，所述量程选择模块包括多路模拟开关和多个电阻，所述多个电阻中每个电阻均连接于所述电源和所述多路模拟开关之间，所述多路模拟开关还与所述数据采集处理模块共接于待测电子设备；其特征在于，所述电参数测试装置还包括与所述电源、所述多路模拟开关及所述多个电阻相连接，在所述主机驱动所述多路模拟开关变换所述多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换的过程中保持所述待测电子设备持续通电的测试保护模块。
2.如权利要求1所述的电参数测试装置，其特征在于，所述测试保护模块为一导线，所述导线串接于所述电源和所述多路模拟开关之间。
3.如权利要求1所述的电参数测试装置，其特征在于，所述多个电阻包括有效量程电阻和冗余量程电阻，所述冗余量程电阻的数量为零或任意正整数； 所述测试保护模块包括多个续流二极管，所述多个续流二极管的数量与所述有效量程电阻的数量之差为一，所述多个续流二极管中的每个续流二极管的阳极一一对应地与所述有效量程电阻中除阻值最小的电阻之外的每个电阻的第一端共接于所述电源，所述多个续流二极管中的每个续流二极管的阴极一一对应地与所述有效量程电阻中除阻值最小的电阻之外的每个电阻的第二端共接于所述多路模拟开关。
4.如权利要求1所述的电参数测试装置，其特征在于，所述多个电阻包括有效量程电阻和冗余量程电阻，所述冗余量程电阻的数量为零或任意正整数； 所述测试保护模块包括多个续流二极管，所述多个续流二极管的数量与所述有效量程电阻的数量相同，所述多个续流二极管中的每个续流二极管的阳极一一对应地与所述有效量程电阻中的每个电阻的第一端共接于所述电源，所述多个续流二极管中的每个续流二极管的阴极一一对应地与所述有效量程电阻中的每个电阻的第二端共接于所述多路模拟开关。
5.如权利要求1至4任一项所述的电参数测试装置，其特征在于，所述电参数测试装置还包括与所述数据采集处理模块、所述待测电子设备及所述多路模拟开关连接的读卡器。
6.如权利要求1至4任一项所述的电参数测试装置，其特征在于，所述电参数测试装置还包括: 与所述主机相连接且对测试结果进行显示的测试结果提示模块。
专利摘要本实用新型适用于电流与电压测试领域，提供了一种电参数测试装置。本实用新型通过在电参数测试装置中采用与电源、多路模拟开关及多个电阻相连接，在主机驱动多路模拟开关变换多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换的过程中保持待测电子设备持续通电的测试保护模块，可在主机驱动量程选择模块中的多路模拟开关变换多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率，解决了现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。
文档编号G01R15/09GK203164253SQ20132008008
公开日2013年8月28日 申请日期2013年2月21日 优先权日2013年2月21日
发明者何宏, 黎伟杰 申请人:深圳市江波龙电子有限公司