电池接触片下陷检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种电池接触片下陷检测装置，包括底座，底座上设有一基准杆，基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，基准杆的另一侧设有一测量装置，基准杆上设有一凹槽，测量装置包括一探针，探针穿设于凹槽内。本装置通过在底座上设有一基准杆，基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，基准杆的另一侧设有一测量装置，检测时，将一标准块放置在定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时将测量装置的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时可测量该待电池的下陷深度，将不符合要求的电池列为次品，该结构能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。
【专利说明】电池接触片下陷检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测装置，特别是涉及一种电池接触片下陷检测装置。
【背景技术】
[0002]目前，在锂电池生产领域中，电池接触片下陷过大将导致电池接触不良影响使用，需要对生产的电池进行金砖(即电池接触片)下陷检测，检测时由于其结构限制难以使用卡尺对其下陷深度进行测量，操作不方便，一般采用目测来对电池接触片的下陷深度进行大概的估测，误差较大，产品的次品率高。
实用新型内容
[0003]基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种电池接触片下陷检测装置，能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。
[0004]为解决现有技术问题，本实用新型公开了一种电池接触片下陷检测装置，包括底座，所述底座上设有一基准杆，所述基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，所述基准杆的另一侧设有一测量装置，所述基准杆上设有一凹槽，所述测量装置包括一探针，所述探针穿设于所述凹槽内。
[0005]进一步地，所述测量装置为百分表。
[0006]进一步地，所述基准杆与测量装置之间设有一用于调节探针高度的调节装置。
[0007]进一步地，所述调节装置包括一升降块及两条平行的导柱，所述导柱穿过所述升降块的两端，所述升降块上设有一穿孔，所述探针穿过所述穿孔。
[0008]进一步地，所述导柱于升降块的下面设有弹簧。
[0009]进一步地，所述升降块上设有一用于调节升降块至底座之间的距离的调节螺丝。
[0010]进一步地，所述定位结构包括左固定块和右固定块，所述底座于定位结构的一侧设有若干个定位孔，所述左固定块和右固定块通过螺丝固定在所述定位孔上。
[0011]进一步地，所述左固定块和/或右固定块上设有一个以上滑槽。
[0012]进一步地，所述滑槽的宽度为两个定位孔的宽度。
[0013]综上所述，本装置通过在底座上设有一基准杆，基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，基准杆的另一侧设有一测量装置，检测时，将一标准块放置在定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时将测量装置的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时可测量该待电池的下陷深度，将不符合要求的电池列为次品，该结构能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本实用新型电池接触片下陷检测装置的立体结构示意图；
[0015]图2为图1的俯视图；
[0016]图3为图1的侧视图；[0017]附图标记说明如下:
[0018]10、底座，11、基准杆，12、凹槽，13、定位孔，20、定位结构，21、左固定块，22、右固定
块，23、滑槽，30、测量装置，31、探针，40、调节装置，41、升降块，42、导柱，43、弹簧，44、调节螺丝。
【具体实施方式】
[0019]为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细描述。
[0020]请参阅图1，本实用新型公开了一种电池接触片下陷检测装置，包括底座10，所述底座10上设有一基准杆11。该基准杆11为一长方体直杆，基准杆11上设有一凹槽12。
[0021]所述基准杆11的一侧设有用于夹住电池的定位结构20，所述基准杆11的另一侧设有一测量装置30。所述测量装置30包括一探针31，本实施例中，测量装置30可以为百分表，该探针31为端部为圆锥体的柱杆，用于抵触电池接触片(即金砖)。所述探针31穿设于所述凹槽12内。测量时，首先将一块标准块(即电池接触片的下陷深度符合规格要求的电池)放置在定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时将测量装置30的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时可测量该待检测的电池的下陷深度，测量完成，将不符合要求的电池列为次品。
[0022]所述基准杆11与测量装置30之间设有一用于调节探针31高度的调节装置40。该调节装置40包括一升降块41及两条平行的导柱42，所述导柱42穿过升降块41的两端，所述升降块41上设有一穿孔，所述探针31穿过穿孔。通过调节升降块41在导柱42的位置，即可调节探针31的高度。
[0023]本实施例中，所述升降块41上设有一用于调节升降块41至底座10之间的距离的调节螺丝44，导柱42于升降块41的下面设有弹簧43。通过调节螺丝44调节升降块41在导柱42的位置，即调节了探针31的高度，弹簧43可使升降块41复位时提供力的作用，结构简单，操作方便，有效调节探针31的高度，能适配各种规格的电池。
[0024]所述定位结构20包括左固定块21和右固定块22，所述底座10于定位结构20的一侧设有若干个定位孔13，所述左固定块21和右固定块22通过螺丝固定在所述定位孔13上。
[0025]所述左固定块21和/或右固定块22上设有一个以上滑槽23，左固定块21和右固定块22可以为一个固定，另一个滑动，也可以为两个都未滑动。
[0026]所述滑槽23的宽度为两个定位孔13的宽度。本实施例中，左固定块21的滑槽23通过两颗螺丝固定在定位孔13上，固定不动，右固定块22的滑槽23通过一颗螺丝固定，电池的宽度可以通过右固定块22的滑槽23做更细微的调整，进一步适配电池的宽度，固定时锁紧螺丝。
[0027]本装置的动作实现过程如下:
[0028]首先，根据待测电池的宽度，调整定位结构20使其夹紧电池，同时根据电池的接触片的高度通过调节装置40调整探针31的高度；再用一标准块放置在定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时将测量装置30的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时可测量该待电池的下陷深度，测量完成，将不符合要求的电池列为次品。
[0029]综上所述，本装置通过在底座10上设有一基准杆11，基准杆11的一侧设有用于夹住电池的定位结构20，基准杆11的另一侧设有一测量装置30，检测时，将一标准块放置在定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时将测量装置30的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时可测量该待电池的下陷深度，将不符合要求的电池列为次品，该结构能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。
[0030]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种电池接触片下陷检测装置，包括底座，其特征在于:所述底座上设有一基准杆，所述基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，所述基准杆的另一侧设有一测量装置，所述基准杆上设有一凹槽，所述测量装置包括一探针，所述探针穿设于所述凹槽内。
2.根据权利要求1所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述测量装置为百分表。
3.根据权利要求1所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述基准杆与测量装置之间设有一用于调节探针高度的调节装置。
4.根据权利要求3所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述调节装置包括一升降块及两条平行的导柱，所述导柱穿过所述升降块的两端，所述升降块上设有一穿孔，所述探针穿过所述穿孔。
5.根据权利要求4所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述导柱于升降块的下面设有弹簧。
6.根据权利要求4所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述升降块上设有一用于调节升降块至底座之间的距离的调节螺丝。
7.根据权利要求1所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述定位结构包括左固定块和右固定块，所述底座于定位结构的一侧设有若干个定位孔，所述左固定块和右固定块通过螺丝固定在所述定位孔上。
8.根据权利要求7所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述左固定块和/或右固定块上设有一个以上滑槽。
9.根据权利要求8所述的电池接触片下陷检测装置，其特征在于:所述滑槽的宽度为两个定位孔的宽度。
【文档编号】G01B5/18GK203550877SQ201320687598
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年11月1日 优先权日:2013年11月1日
【发明者】陈立波, 王建辉 申请人:东莞新能德科技有限公司