低温原子光谱分析仪的制作方法
【专利摘要】低温原子光谱分析仪，主要包括：高压放电光束装置，光谱汇集装置，样品汽化装置，进样装置，光束过滤装置，谱线分离装置，光谱显影装置，谱线转换装置，谱线显示与记录装置；其中，通过高压放电光束装置进行高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量，借助于光谱汇集装置实现放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快，采用样品汽化装置进行样品的初步处理，实现基态原子的汽化生成，结合进样装置实现样品的进样导入，通过光束过滤装置进行光谱波段的筛选，避免外界干扰波段的影响，借助于谱线分离装置用于特征分析波段的调节与控制，根据不同分析精度实现特定范围内光谱的选择滤过与屏蔽。
【专利说明】低温原子光谱分析仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及光谱分析领域，尤其涉及低温原子光谱分析仪。
【背景技术】
[0002]原子光谱分析技术的应用，主要是通过将处于基态和低激发态的原子或分子吸收具有连续分布的某些波长的光而跃迁到各激发态，形成了按波长排列的暗线或暗带组成的光谱。吸收光谱是温度很高的光源发出来的白光，通过温度较低的蒸汽或气体后产生的，让高温光源发出的白光，通过温度较低的钠的蒸汽就能生成钠的吸收光谱。这个光谱背景是明亮的连续光谱。在钠的标识谱线的位置上出现了暗线。每一种元素的吸收光谱里暗线的位置跟他们明线光谱的位置是互相重合的，每种元素所发射的光的频率跟它所吸收的光频率是相同的。但是现有的原子光谱分析技术，其光敏表面能在紫外区和可见区的量子效率和灵敏度较低，仪器信噪比不好，因此需要对现有技术加以改进。
【发明内容】
[0003]为了克服现有装置的不足之处，本发明采用的技术方案如下:
[0004]低温原子光谱分析仪，其特征在于，主要包括:高压放电光束装置(1)，光谱汇集装置(2)，样品汽化装置(3)，进样装置(4)，光束过滤装置(5)，谱线分离装置￠)，光谱显影装置(7)，谱线转换装置(8)，谱线显示与记录装置(9);其中，通过高压放电光束装置(I)进行高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量，借助于光谱汇集装置(2)实现放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快，采用样品汽化装置(3)进行样品的初步处理，实现基态原子的汽化生成，结合进样装置(4)实现样品的进样导入，通过光束过滤装置(5)进行光谱波段的筛选，避免外界干扰波段的影响，借助于谱线分离装置(6)用于特征分析波段的调节与控制，根据不同分析精度实现特定范围内光谱的选择滤过与屏蔽，采用光谱显影装置(7)进行谱线的定量分析与对比，结合标准谱线图特征进行谱线的波段范围分离，实现原子特征结构对比，提高分析灵敏度；通过谱线转换装置(8)进行谱线信号的转换传导，实现原子光谱分析结果的可视化，最后，借助于谱线显示与记录装置(9)进行光谱分析结果的显示与记录，提高分析准确度；高压放电光束装置(I)含有高压放电光束电极，光谱汇集装置(2)含有九棱锥型聚焦反射透镜，该透镜表面覆盖有厚度为3.Sum的透光膜，样品汽化装置(3)含有高温汽化电极，谱线分离装置(6)含有九棱柱型光谱分离透镜，该透镜表面镀有厚度为1um的谱线滤光膜。
[0005]高压放电光束装置(I)主要用于高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量，光谱汇集装置(2)主要用于放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快，样品汽化装置(3)主要用于样品的初步处理，实现基态原子的汽化生成，进样装置(4)主要用于样品的进样导入，光束过滤装置(5)主要用于光谱波段的筛选，避免外界干扰波段的影响，谱线分离装置(6)主要用于特征分析波段的调节与控制，根据不同分析精度实现特定范围内光谱的选择滤过与屏蔽，光谱显影装置(7)主要用于谱线的定量分析与对比，结合标准谱线图特征进行谱线的波段范围分离，实现原子特征结构对比，提高分析灵敏度；谱线转换装置(8)主要用于谱线信号的转换传导，实现原子光谱分析结果的可视化，谱线显示与记录装置(9)主要用于光谱分析结果的显示与记录，提高分析准确度。
[0006]本发明与现有技术相比具有的有益效果是:
[0007](I)通过高压放电光束装置实现高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量；
[0008](2)通过光谱汇集装置进行放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快；
[0009](3)通过光谱显影装置进行谱线的定量分析与对比，结合标准谱线图特征进行谱线的波段范围分离，实现原子特征结构对比，提高分析灵敏度。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是低温原子光谱分析仪的示意图
[0011]如图1所示，本发明所述的低温原子光谱分析仪，主要包括:
[0012]1-高压放电光束装置，2-光谱汇集装置，3-样品汽化装置，
[0013]4一进样装置，5—光束过滤装置，6—谱线分离装置，
[0014]7-光谱显影装置，8—谱线转换装置，9一谱线显示与记录装置，
[0015]下面结合附图对本发明的【具体实施方式】作进一步详细的描述。
【具体实施方式】
[0016]首先，通过高压放电光束装置(I)进行高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量，借助于光谱汇集装置(2)实现放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快，采用样品汽化装置(3)进行样品的初步处理，实现基态原子的汽化生成，结合进样装置(4)实现样品的进样导入，通过光束过滤装置(5)进行光谱波段的筛选，避免外界干扰波段的影响，借助于谱线分离装置(6)用于特征分析波段的调节与控制，根据不同分析精度实现特定范围内光谱的选择滤过与屏蔽，采用光谱显影装置(7)进行谱线的定量分析与对比，结合标准谱线图特征进行谱线的波段范围分离，实现原子特征结构对比，提高分析灵敏度；通过谱线转换装置(8)进行谱线信号的转换传导，实现原子光谱分析结果的可视化，最后，借助于谱线显示与记录装置(9)进行光谱分析结果的显示与记录，提高分析准确度。
【权利要求】
1.低温原子光谱分析仪，其特征在于，主要包括:高压放电光束装置(1)，光谱汇集装置(2)，样品汽化装置(3)，进样装置(4)，光束过滤装置(5)，谱线分离装置￠)，光谱显影装置(7)，谱线转换装置(8)，谱线显示与记录装置(9);其中，通过高压放电光束装置(I)进行高压放电光束的产生，为原子光谱分析提供足够的解离能量，借助于光谱汇集装置(2)实现放电光束路径的调节与引导，避免光谱能量传导耗散速度过快，采用样品汽化装置(3)进行样品的初步处理，实现基态原子的汽化生成，结合进样装置(4)实现样品的进样导入，通过光束过滤装置(5)进行光谱波段的筛选，避免外界干扰波段的影响，借助于谱线分离装置(6)用于特征分析波段的调节与控制，根据不同分析精度实现特定范围内光谱的选择滤过与屏蔽，采用光谱显影装置(7)进行谱线的定量分析与对比，结合标准谱线图特征进行谱线的波段范围分离，实现原子特征结构对比，提高分析灵敏度；通过谱线转换装置(8)进行谱线信号的转换传导，实现原子光谱分析结果的可视化，最后，借助于谱线显示与记录装置(9)进行光谱分析结果的显示与记录，提高分析准确度；高压放电光束装置(I)含有高压放电光束电极，光谱汇集装置(2)含有九棱锥型聚焦反射透镜，该透镜表面覆盖有厚度为3.Sum的透光膜，样品汽化装置(3)含有高温汽化电极，谱线分离装置(6)含有九棱柱型光谱分离透镜，该透镜表面镀有厚度为1um的谱线滤光膜。
【文档编号】G01N21/31GK204064898SQ201420279833
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年5月29日 优先权日:2014年5月29日
【发明者】储冬红, 彭飞, 其他发明人请求不公开姓名 申请人:衢州普林千叶电子科技有限公司