一种汞分析装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种汞分析装置，所述汞分析装置包括：汞灯，所述汞灯发出的测量光对应于汞的吸收波长；检测器，所述检测器用于接收与待测汞相互作用后的测量光并转换为电流信号，并传送到转换器；转换器，所述转换器用于将接收到的电流信号转换为电压信号，并传送到处理器；处理器，所述处理器用于滤去接收到的电压信号中的频率为[10Hz，90Hz]的成分，并传送到分析单元；分析单元，所述分析单元用于分析接收到的电压信号，从而获知汞的含量。本实用新型具有分析精度高、经济效益好等优点。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及金属元素分析，特别涉及汞分析装置。 一种采分析装置
【背景技术】
[0002] 测汞分析仪常用于水体中Hg的含量。目前有比色法、阳极溶出法，冷原子吸收法。 采用比色法的测汞分析仪目前极其稀少；阳极溶出法主要应用于便携式设备；冷原子吸收 法用于在位式居多。
[0003] 而基于冷原子吸收法的在位式测汞分析仪，根据光源类型可以细分为光谱仪方式 与汞灯方式。光谱仪方式应用较多，因为光源可调制，故采集数据较稳定，但是日常维护费 用高；而汞灯光源方式成本低、应用面广，缺点为汞灯光源交流电供电，无法直接对其进行 调制，且传感器端普遍不陷波，直接进入ADC采样。这样的信号对于50Hz的工频干扰抑制 几乎没有或则效果很差，使得采集数据时波动普遍较大，精度偏低。 实用新型内容
[0004] 为了解决上述现有技术方案中的不足，
[0005] 本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：
[0006] -种汞分析装置，所述汞分析装置包括：
[0007] 萊灯，所述萊灯发出的测量光对应于萊的吸收波长；
[0008] 检测器，所述检测器用于接收与待测汞相互作用后的测量光并转换为电流信号， 并传送到转换器；
[0009] 转换器，所述转换器用于将接收到的电流信号转换为电压信号，并传送到处理 器；
[0010] 处理器，所述处理器用于滤去接收到的电压信号中的频率为[l0Hz，90Hz]的成 分，并传送到分析单元；
[0011] 分析单元，所述分析单元用于分析接收到的电压信号，从而获知汞的含量。
[0012] 根据上述的汞分析装置，优选地，所述处理器采用二阶有源陷波电路。
[0013] 与现有技术相比，本实用新型具有的有益效果为：
[0014] 加入了 2阶有源陷波电路，能够有效地抑制其他干扰信号，尤其是50Hz工频，大大 提升了分析装置的采集精度，进而提高了汞分析精度，避免了一些由于干扰造成的数据波 动。
【专利附图】
【附图说明】
[0015] 参照附图，本实用新型的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的 是：这些附图仅仅用于举例说明本实用新型的技术方案，而并非意在对本实用新型的保护 范围构成限制。图中：
[0016] 图1为本实用新型的汞分析装置的结构简图；
[0017] 图2为本实用新型的处理器的结构简图。
【具体实施方式】
[0018] 图1-2和以下说明描述了本实用新型的可选实施方式以教导本领域技术人员如 何实施和再现本实用新型。为了教导本实用新型技术方案，已简化或省略了一些常规方面。 本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本实用新型的范围内。本领 域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本实用新型的多个变型。由此， 本实用新型并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。
[0019] 实施例：
[0020] 图1示意性地给出了本实用新型实施例的汞分析装置的结构简图，如图1所示，所 述汞分析装置包括：
[0021] 汞灯，所述汞灯发出的测量光对应于汞的吸收波长；
[0022] 检测器，所述检测器用于接收与待测汞相互作用后的测量光并转换为电流信号， 并传送到转换器；
[0023] 转换器，所述转换器用于将接收到的电流信号转换为电压信号，并传送到处理 器；
[0024] 处理器，所述处理器用于滤去接收到的电压信号中的频率为[10Hz，90Hz]的成 分，特别是50Hz的工频信号，并传送到分析单元；
[0025] 分析单元，所述分析单元用于分析接收到的电压信号，从而获知汞的含量。分析单 元是本领域的现有技术，在此不再赘述。
[0026] 图2示意性地给出了本实用新型实施例的处理器的结构简图，如图2所示，所述处 理器采用二阶有源陷波电路，主要由两级二阶多路反馈陷波电路组成 ：
[0027] 第一级电路增益由R355、R353决定；而第一级的陷波参数则由合适的R355、R354、 R353、C353、C355 决定。
[0028] 同样地，第二级的电路增益由R351、R350决定；而第二级的陷波参数则由合适的 R351、R352、R350、C352、C350 决定。
[0029] 最终得到一组参数，实现了对于10Hz以上频率信号的滤除，尤其是随处存在的 50Hz工频信号的干扰。
【权利要求】
1. 一种汞分析装置，所述汞分析装置包括： 汞灯，所述汞灯发出的测量光对应于汞的吸收波长； 检测器，所述检测器用于接收与待测汞相互作用后的测量光并转换为电流信号，并传 送到转换器； 转换器，所述转换器用于将接收到的电流信号转换为电压信号，并传送到处理器； 处理器，所述处理器用于滤去接收到的电压信号中的频率为[l〇Hz，90Hz]的成分，并 传送到分析单元； 分析单元，所述分析单元用于分析接收到的电压信号，从而获知汞的含量。
2. 根据权利要求1所述的汞分析装置，其特征在于：所述处理器采用二阶有源陷波电 路。
【文档编号】G01N21/31GK203894157SQ201420316528
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年6月10日 优先权日:2014年6月10日
【发明者】王大伟, 唐怀武, 付聪 申请人:杭州泽天科技有限公司