一种色母粒薄膜耐热检测设备的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种色母粒薄膜耐热检测设备，属于色母粒检测领域。本设备包括密闭隔热箱体以及从上至下依次设置在所述密闭隔热箱体内的红外光源、水银温度计和数显温度传感器；在所述密闭隔热箱体下部的两侧均开有薄膜出入通道，在所述密闭隔热箱体外部的两侧均设有薄膜卷曲辊，待测薄膜的一端固定在一侧的薄膜卷曲辊上，另一端依次穿过两侧的薄膜出入通道后卷曲在另一侧的薄膜卷曲辊上，待测薄膜在两个薄膜出入通道间是平铺的；所述数显温度传感器均匀分布在待测薄膜的上方和下方。
【专利说明】一种色母粒薄膜耐热检测设备
【技术领域】
[0001]本实用新型属于色母粒检测领域，具体涉及一种色母粒薄膜耐热检测设备。
【背景技术】
[0002]色母粒与基料制成的薄膜可以改善土壤和近地面的温度及水分状况，起到提高土壤温度，保持土壤水分，改善土壤性状，提高土壤养分供应状况和肥料利用率，改善光照条件，减轻杂草和病虫危害等作用。其中有黑色母粒与基料制成的薄膜广泛用于户外保障作物生长，需要有良好的耐热特性。但在薄膜生产时，传统设备无法快速检测薄膜的耐热特性，需要长周期的铺地试验，耽误了生产，消耗了大量时间。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于解决上述现有技术中存在的难题，提供一种色母粒薄膜耐热检测设备，解决传统检测设备的过度延时性，提高生产及时性。
[0004]本实用新型是通过以下技术方案实现的:
[0005]一种色母粒薄膜耐热检测设备，包括密闭隔热箱体以及从上至下依次设置在所述密闭隔热箱体内的红外光源、水银温度计和数显温度传感器；
[0006]在所述密闭隔热箱体下部的两侧均开有薄膜出入通道，在所述密闭隔热箱体外部的两侧均设有薄膜卷曲辊，待测薄膜的一端固定在一侧的薄膜卷曲辊上，另一端依次穿过两侧的薄膜出入通道后卷曲在另一侧的薄膜卷曲辊上，待测薄膜在两个薄膜出入通道间是平铺的；
[0007]所述数显温度传感器均匀分布在待测薄膜的上方和下方。
[0008]在所述密闭隔热箱体的最下部设有土壤抽屉。
[0009]所述红外光源为275w红外光源。
[0010]在所述密闭隔热箱体内设置至少2个275w的红外光源，红外光源在水平线上均布。
[0011]在所述密闭隔热箱体内设置至少6个数显温度传感器，每个数显温度传感器分别与设置在密闭隔热箱体外部的一个数显温度计连接。
[0012]在所述密闭隔热箱体的前侧和后侧上均开有通风口，所述通风口位于水银温度计和待测薄膜上方的数显温度传感器之间。
[0013]在所述密闭隔热箱体的顶部设有钢化玻璃观察窗。
[0014]在所述密闭隔热箱体的上部开有玻璃窗，玻璃窗对应密闭隔热箱体内部的红外光源所在的位置。
[0015]在所述密闭隔热箱体的外部设有定时器。
[0016]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:本实用新型通过对黑色母粒薄膜的破洞时温度，时间，破洞尺寸大小的统计，可以预判黑色母粒薄膜的耐热性，极大缩短了传统铺地试验的检测周期，指导生产工艺，提高了生产时效性、生产效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型的剖视图。
[0018]图2是本实用新型的正视图。
【具体实施方式】
[0019]下面结合附图对本实用新型作进一步详细描述:
[0020]本实用新型提供了一种新型色母粒薄膜快速耐热检测设备，包括80*60*60cm矩形隔热箱体l、275w红外光源4、数显温度计11、100°C水银温度计5、计时器12等等，本实用新型通过对色母粒制成的薄膜在一定时间和温度下进行破洞实验，并通过对色母粒薄膜的破洞时的时间、温度、及破洞的大小尺寸进行记录，分析数据确认色母粒薄膜的耐热成度。
[0021]如图1和图2所示，本设备包括，隔热箱体1，钢化玻璃观察窗2，玻璃观察窗3，275w红外光源4，水银温度计5，通风孔6，薄膜出入通道7，数显温度传感器8，土壤抽屉9，薄膜卷曲辊10，数显温度计11和计时器12。黑色母粒薄膜沿着色母粒薄膜通道进入设备中，开启光源、数显温度计、计时器12，当薄膜出现破孔时，记录当时的温度和时间，待测试完成后，对黑色母粒薄膜的耐热品质进行表征评定。实施例中，上方传感器距离薄膜约3cm，下方传感器距薄膜约1.5cm。左红外光源中心线距左箱体内壁20cm，右红外光源中心线距右箱体内壁20cm。通风口共8个，前后每侧4个(薄膜输送方向的两个箱体壁)，4个通风口中心间隔4cm，平均分配在箱体上。玻璃窗的大小为20cm*40cm，玻璃窗上边缘中心位置与箱体顶端边缘中心位置垂直距离约25cm。水银温度计水平中心位置与红外光光源下边缘的垂直距离约10cm。
[0022]使用本设备的步骤如下:
[0023]首先，准备好设备，放置好样品土壤，将黑色母粒的薄膜制品通过薄膜出入通道7，并把薄膜两侧固定至薄膜卷曲辊10，保证薄膜平整无曲折。
[0024]其次，开启275w红外光源，计时器，数显温度计。通过设备观察窗(指玻璃观察窗2或玻璃窗3，玻璃观察窗2俯视观察，但看不到灯源下面的位置；玻璃窗3可以观察到灯源下面的位置，但观察内壁有困难，两个玻璃窗是互补作用。)观察薄膜受热状态。然后，当薄膜出现破洞时，记录数显温度计的实测值(数显温度计所测温度是薄膜上下方的温度，水银温度计所测温度是光源周围的温度，也可以采用数显温度计测光源周围的温度，不过成本增加了。)。记录计时器的时间，记录完成后，转动卷曲辊将下一个试样摆好位置，进行下一块膜的试验。
[0025]以上所述是本实用新型的实施方式，凡依本实用新型的申请专利范围所作的均等变化和修饰，皆应属于本实用新型专利的涵盖范围。
[0026]上述技术方案只是本实用新型的一种实施方式，对于本领域内的技术人员而言，在本实用新型公开了原理的基础上，很容易做出各种类型的改进或变形，而不仅限于本实用新型上述具体实施例所描述的结构，因此前面描述的只是优选的，而并不具有限制性的意义。
【权利要求】
1.一种色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:所述色母粒薄膜耐热检测设备包括密闭隔热箱体以及从上至下依次设置在所述密闭隔热箱体内的红外光源、水银温度计和数显温度传感器； 在所述密闭隔热箱体下部的两侧均开有薄膜出入通道，在所述密闭隔热箱体外部的两侧均设有薄膜卷曲辊，待测薄膜的一端固定在一侧的薄膜卷曲辊上，另一端依次穿过两侧的薄膜出入通道后卷曲在另一侧的薄膜卷曲辊上，待测薄膜在两个薄膜出入通道间是平铺的； 所述数显温度传感器均匀分布在待测薄膜的上方和下方。
2.根据权利要求1所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体的最下部设有土壤抽屉。
3.根据权利要求1所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:所述红外光源为275w红外光源。
4.根据权利要求3所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体内设置至少2个275w的红外光源，红外光源在水平线上均布。
5.根据权利要求4所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体内设置至少6个数显温度传感器，每个数显温度传感器分别与设置在密闭隔热箱体外部的一个数显温度计连接。
6.根据权利要求1至5任一所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体的前侧和后侧上均开有通风口，所述通风口位于水银温度计和待测薄膜上方的数显温度传感器之间。
7.根据权利要求6所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体的顶部设有钢化玻璃观察窗。
8.根据权利要求7所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体的上部开有玻璃窗，玻璃窗对应密闭隔热箱体内部的红外光源所在的位置。
9.根据权利要求1所述的色母粒薄膜耐热检测设备，其特征在于:在所述密闭隔热箱体的外部设有定时器。
【文档编号】G01N25/20GK203981622SQ201420397028
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年7月17日 优先权日:2014年7月17日
【发明者】李赫然, 程红原, 李明哲, 孙重晓 申请人:北京北化高科新技术股份有限公司