一种y波导双通道光学性能测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型设计属于光学器件测量【技术领域】，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫-泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
【专利说明】一种Y波导双通道光学性能测量装置
【技术领域】
[0001] 本实用新型设计属于光学器件测量【技术领域】，具体涉及到一种Y波导双通道光学 性能测量装置。
【背景技术】
[0002] 多功能集成光学器件俗称"Y波导"，一般采用铌酸锂材料作为基底，它将单模光波 导、光分束器、光调制器和光学偏振器进行了高度集成，是组成干涉型光纤陀螺（FOG)和光 纤电流互感器的核心器件，决定着光纤传感系统的测量精度、稳定性、体积和成本。
[0003] 作为高精度光学精密测量仪器中的核心部件，对Y波导精确而全面的测量其特性 的技术，是提高仪器测量精度的关键技术之一。Y波导的重要参量主要包括：波导芯片消光 比、尾纤串音、输出通道光程差，上述参数的温度特性等。对于高精度精密级光纤陀螺中使 用的Y波导芯片，要求消光比达到80dB以上。这么高的性能指标要求，就必须有对Y波导 性能进行测试评价的技术。例如：中国电子科技集团公司第四十四研宄所的华勇、舒平等人 提出的一种提高光纤陀螺用Y波导芯片消光比的方法（CN 201310185490. 2)，已经将波导 芯片消光比提高到80dB以上。但受限于测试仪器性能和测试方法，目前还无法实现高消光 比Y波导芯片消光比准确测量。常用的偏振性能检测仪器一一消光比测试仪，分辨率最高 的美国dBm Optics公司研制Model4810型偏振消光比测量仪也仅有72dB，除此以外，美国 General Photonics 公司的 ERM102 型、韩国 Fiberpro 公司的 ER2200 型，日本 Santee 公司 的PEM-330型最高消光比均只能达到50dB左右，无法满足80dB以上高消光比Y波导器件 的测试需求。
[0004] Y波导器件由输入光纤、波导芯片和输出光纤、调制电极等几部分组成，至少包含 一个输入通道和两个输出通道。结构的复杂性要求除芯片消光比外，其余芯片的线性双折 射射、尾纤串音、插损损耗、输出通道光程差，以及上述参数的温度特性、电压特性等性能也 是必须进行测量的参量。
[0005] 白光干涉技术测量方法的出现，使高消光比的Y波导测试评价方法成为了可能。 20世纪90年代初，法国Herve Lefevre等人（US 4893931)首次公开了基于白光干涉原理 的0⑶P系统，它采用超辐射发光二极管（SLD)和空间干涉光路测量结构。法国Photonetics 公司根据此专利研制了 WIN-P 125和WIN-P 400两种型号0⑶P测试系统，主要用于较短 (500m)和较长（1600m)保偏光纤的偏振特性分析。其主要性能为偏振串音灵敏度为-70dB、 动态范围为70dB，后经过改进，灵敏度和动态范围分别提升到-80dB和80dB。但对于高消 光比Y波导的测量还略显不足。
[0006] 2002 年美国 Fibersense Technology Corporation 公司的 Alfred Healy 等人 公开一种集成波导芯片的输入/输出光纤的親合方法（US6870628)，利用白光干涉测量方 法实现了波导芯片输入/输出光纤的耦合串音的测量；2004年北京航空航天大学的伊 小素、肖文等人公开了一种光纤陀螺用集成光学调制器在线测试方法及其测试装置（CN 200410003424. X)，可以实现器件的损耗、分光比等光学参数的测量；2007年北京航空航天 大学的伊小素、徐小斌等人公开了一种Y波导芯片与保偏光纤在线对轴装置及其在线对轴 方法（CN 200710064176. 3)，利用干涉光谱法同样实现了波导芯片与波导输入/输出光纤 串音的测量。但没有涉及波导芯片消光比的测量问题。
[0007] 2011年，天津大学张红霞等人公开了一种光学偏振器件偏振消光比的检测方法和 检测装置（CN 201110052231. 3)，同样采用空间干涉光路作为0⑶P的核心装置，通过检测 耦合点的耦合强度，推导出偏振消光比。该装置适用于保偏光纤、保偏光纤耦合器、偏振器 等多种光学偏振器件。与Herve Lefevre等人的方案相比，技术性能和指标相近。
[0008] 同年，美国通用光电公司（General Photonics Corporation)的姚晓天等人 公开了一种用于保偏光纤和光学双折射材料中分布式偏振串音测量的全光纤测量系统 (US 20110277552， Measuring Distributed Polarization Crosstalk in Polarization Maintaining Fiber and Optical Birefringent Material)，利用在光程相关器之前增加 光程延迟器，抑制偏振串音测量时杂散白光干涉信号的数量和幅度。该方法可以将全光纤 测量系统的偏振串音灵敏度提高到_95dB，但动态范围保持在75dB。
[0009] 2012年，本研宄组提出了基于全光纤光路的偏振串音测量测试装置 (CN201210379406. 6)及其提高光学器件偏振串音测量性能的方法（CN201210379407. 0)， 解决了高精度白光干涉测量的一些关键技术问题，使偏振串音测量的灵敏度提高的_95dB 以上，同时动态范围能够相应保持在95dB，同时减小了测试系统的体积，增加了测量稳定 性。为高消光比Y波导器件的特性测量奠定了基础。2013年，本研宄组提出了一种多功能 铌酸锂集成器件的光学性能测量方法（CN201310739315. 3)，系统而全面的实现了超大消光 比测量范围、高空间分辨率的集成波导测量与定量的评价与分析。
[0010] 传统观点认为：Y波导的两个输出端的光学性能如芯片消光比、线性双折射是一 致的。但实际测试的研宄表明：受限于Y波导的材料和制作工艺，两输出通道的光学性能 可能具有一定差异性，这对于分析波导的制作工艺和参数具有非常大的意义；基于白光干 涉测量原理的Y波导测量系统，只具备单通道的测试能力，需要对Y波导的两个输出通道进 行测量时，必须分两次测量完成；特别是在外界环境参数（如温度等）或者应用参数（如波 导芯片的电极加载电压等）变化时，两次单通道测量和一次双通道同时测量，在外界加载 条件和测量时间存在差异时，是无法完全等效的。因此，对于Y波导器件不同输出通道的参 数，如：波导芯片消光比、线性双折射、插入损耗、尾纤串音等光学特性的绝对值和差异值， 具有非常重大的实际价值。因此Y波导的双通道同时测量技术的发展，将是进一步提高高 精度精密光学测量器件测量精度的关键之一。2013年，本研宄组提出了一种集成波导调制 器的双通道光学性能测试装置及其偏振串音识别与处理方法（CN201310744466. 8)，提出 了一种集成波导调制器双通道同时测量的装置与方法，其可以同时对Y波导两个通道光学 性能进行测试与评价。但是现有的装置结构中，Y波导每个输出通道均需要一套白光干涉仪 对光程进行解调，如果想要使测试结果具有很好的一致性，这就需要两套解调干涉仪光路 结构、组成元件及器件参数均相同。但是在实际的搭建使用中，很难完全保证这样的要求， 元件之间总是会存在差异，这种差异会导致测试结果具有不一致性。因此对其结构与测试 方法进行改进，消除这种差异的影响，使测试的一致性加强，对于提高测量的精度，是很有 必要的。
[0011] 本实用新型基于现有技术改进，提供了一种Y波导器件的双通道光学性能同时测 试装置，其设计思想是：以待测Y波导做为马赫-泽德干涉仪的分光器，和另外一个2 X 2光 纤耦合器或者偏振分束器一起构成干涉仪主体部分。干涉仪的两臂即为Y波导两个输出 通道、两个输出通道尾纤和2X2光纤耦合器或者偏振分束器两个输入端所连接形成的光 路。在干涉仪一臂加入三端光纤环形器引入光程扫描装置进行一次扫描，即可同时测得干 涉仪两臂的偏振串音曲线。在测试的曲线图中，以中央等光程干涉主峰为分界线，左右两边 偏振串音特性曲线分别对应分布着干涉仪两臂及其延长尾纤的偏振串音峰。与现有技术相 比，该测试装置与方法仅仅采用一套光学干涉仪，即可实现Y波导双通道光学性能的同时 测量。这大大减少了元件数量，降低了测试系统装置的复杂程度，也简化了测试流程，提高 了测试系统的可靠性，简化了测试装置与测试步骤，节约了成本，提高了测试效率。可以广 泛用于达到85dB以上的高消光比集成波导器件的光学性能定量测试与评价分析。 实用新型内容
[0012] 本实用新型的目的在于提供了一种用简单的装置，实现了器件两个输出通道间的 波导芯片消光比、线性双折射、插入损耗、尾纤串音等光学参量的绝对值和差异值的同时测 量的Y波导双通道光学性能测量装置。
[0013] 本实用新型的目的是这样实现的：
[0014] Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干 涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：
[0015] 待测Y波导器件的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫 描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫-泽德干涉仪；
[0016] 光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构 成；
[0017] 光学干涉扫描解调装置的光程扫描台通过一次光程扫描，偏振串音检测与记录装 置即检测到光学干涉扫描解调装置的输出端的光电探测器输出的光信号，利用内置的Y波 导器件偏振串音识别与处理，同时记录与处理Y波导的第一、二输出通道的偏振串音数据， 一次获得其全部光学性能，包括：Y波导器件两输出通道间的波导芯片消光比、线性双折 射、插入损耗、尾纤串音的绝对值。
[0018] 光学干涉扫描解调装置的光程发生器的第一输入端、第二输入端分别通过旋转 连接器连接待测Y波导器件的第一、二输出通道延长保偏尾纤，与待测Y波导器件构成马 赫-泽德白光干涉仪；光学干涉扫描解调装置的光程发生器的一个输出端连接光程扫描装 置的光纤准直透镜；光学干涉扫描解调装置的光程发生器另外两个光信号输出端分别连接 光电探测器；光学干涉扫描解调装置的光程扫描装置由光纤准直透镜和光程扫描台构成。
[0019] 光程发生器，由检偏器、单模光纤三端环形器和单模光纤耦合器组成，其构成元件 的连接关系是：
[0020] 单模光纤親合器的两个输入端分别连接检偏器的输出端和三端单模光纤环形器 的一个输出端；三端单模光纤环形器一个输入端与检偏器连接，一个输出端作为光程发生 器的输出端；检偏器的保偏输入尾纤分别作为光程发生器的光信号输入端。
[0021] 光程发生器，由检偏器、保偏光纤三端环形器和保偏光纤耦合器组成，其构成元件 连接关系是：
[0022] 保偏光纤耦合器两个输出端分别与检偏器的输入端保偏尾纤连接，其对轴角度为 0°?0° ;检偏器的输出端保偏光纤親合器一个输出端作为光程发生器的输入端，另一个 输入端连接保偏光纤三端环形器的一个输出端，其对轴角度为0°?0° ;保偏光纤三端环 形器的一个输入端作为光程发生器的输入端，另一个输出端作为光程发生器的输出端。
[0023] 所光程发生器，由偏振分束器和保偏光纤三端环形器组成，其构成元件的连接关 系是：
[0024] 偏振分束器两个输出端作为光程发生器的输出端；偏振分束器的一个输入端作为 光程发生器的输入端，另一个输入端与保偏光纤三端环形器的一个输出端连接，器对轴角 度为0°?0° ;保偏光纤三端环形器的一个输入端作为光程发生器的输入端，另一个输出 端作为光程发生器的输出端。
[0025] 所述的Y波导和光学干涉扫描解调装置，以及高偏振宽谱光源之间的连接关系 是：Y波导的输入端与高偏振宽谱光源的起偏器输出尾纤用旋转连接器连接；Y波导的第 一、二输出通道的输出保偏尾纤，分别与光学干涉扫描解调装置的两个输入端使用旋转连 接器连接；光学干涉扫描解调装置的两个输出端连接光电探测器，将转换的电信号送给偏 振串音检测与记录装置进行处理。
[0026] 本实用新型的有益效果在于：
[0027] (1)该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性 能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确；
[0028] (2)测试装置测试Y波导双通道光学性能，仅需搭建一套白光干涉信号解调装置， 这可以使测试结果具有更好的一致性，从而避免了搭建两套装置因为元件参数、安装等等 一系列因素带来的两个通道测试结果不一致性影响。
[0029] (3)系统采用全光路设计实现，相比原来装置方法结构更加简单，元件数量更少， 体积可以更小且更易于搭建，这提高了系统的可靠性，减少了不确定性因素给测试系统带 来的影响，更加适合于仪器化。
【专利附图】
【附图说明】
[0030] 图1是基于白光干涉原理的光学相干域偏振测试系统（0⑶P)采用两套白光干涉 仪同时测量Y波导双通道光学性能的测试装置示意图。
[0031] 图2是本实用新型Y波导双通道同时测量光学性能的装置示意图。
[0032] 图3是光程发生器采用单模光纤耦合器的原理图。
[0033] 图4是光程发生器采用保偏光纤耦合器的原理图。
[0034] 图5是光程发生器采用偏振分束器的原理图。
【具体实施方式】
[0035] 为清楚地说明本实用新型集成波导调制器（Y波导）双输出通道同时测量的装置 和测量方法，结合实施例和附图对本实用新型作进一步说明，但不应以此限制本实用新型 的保护范围。
[0036] 本实用新型提供一种简化的Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光 源1、待测Y波导器件2、光学干涉扫描解调装置3、偏振串音检测与记录装置4 :
[0037] 1)待测Y波导器件2的第一、二通道2B、2C输出保偏尾纤22、23与光学干涉扫描 解调装置3的输入端311、312连接，构成马赫-泽德干涉仪；
[0038] 2)光学干涉扫描解调装置3由光程发生器32、光程扫描装置37和光电探测器 341、342连接构成；
[0039] 3)光学干涉扫描解调装置3的光程扫描台通过一次光程扫描，偏振串音检测与记 录装置4即检测到光学干涉扫描解调装置3的输出端的光电探测器341、342输出的光信 号，利用内置的Y波导器件2偏振串音识别与处理算法，同时记录与处理Y波导2的第一、二 输出通道2B、2C的偏振串音数据，一次获得其全部光学性能。包括：Y波导器件两输出通道 间的波导芯片消光比、线性双折射、插入损耗、尾纤串音的绝对值进行测量、存储与显示外， 还要对输出通道2B、2C在外界环境参数（如温度等）或应用参数（如波导芯片的电极加载 电压等）变化时的性能差异进行比较和显示。
[0040] 所述的光学干涉扫描解调装置3是：
[0041] 1)光学干涉扫描解调装置3的光程发生器32两个光信号的光学干涉扫描解调装 置输入端311、312分别通过旋转连接器连接待测Y波导器件2的第一、二输出通道2B、2C 输出保偏尾纤22、23,与待测Y波导器件2构成马赫-泽德白光干涉仪；
[0042] 2)光学干涉扫描解调装置3的光程发生器32的一个输出端36连接光程扫描装置 37的光纤准直透镜371 ;
[0043] 3)光学干涉扫描解调装置3的光程发生器32另外两个光信号输出端331、332分 别连接光电探测器341、342;
[0044] 4)光学干涉扫描解调装置3的光程扫描装置37由光纤准直透镜371和光程扫描 台372构成；
[0045] 所述的光程发生器32是：
[0046] 由检偏器321和322、单模光纤三端环形器3241和单模光纤耦合器3271组成，其 构成元件的连接关系是：
[0047] 单模光纤耦合器的两个输入端326U3262分别连接检偏器321的输出端和三端单 模光纤环形器3241的一个输出端；三端单模光纤环形器3241 -个输入端323与检偏器322 连接，一个输出端作为光程发生器32的输出端36 ;检偏器321、322的光学干涉扫描解调装 置输入端311、312分别作为光程发生器32的光学干涉扫描解调装置输入端311、312 ;
[0048] 所述的光程发生器32,其特征是：
[0049] 可以由检偏器321和322、保偏光纤三端环形器3242和保偏光纤耦合器3272,其 构成元件连接关系是：
[0050] 保偏光纤耦合器3272两个输出端328U3282分别与检偏器321、322的输入端保 偏尾纤321U3212连接，其对轴角度为0°?0° ;检偏器的输出端331、332保偏光纤耦合 器一个输出端311作为光程发生器32的输入端311，另一个输入端连接保偏光纤三端环形 器3242的一个输出端3263,其对轴角度为0°?0° ;保偏光纤三端环形器3242的一个输 入端作为光程发生器32的输入端312,另一个输出端作为光程发生器32的输出端36 ;
[0051] 所述的光程发生器32,其特征是：
[0052] 可以由偏振分束器3273和保偏光纤三端环形器3242组成，其构成元件的连接关 系是：
[0053] 偏振分束器3273两个输出端作为光程发生器32的输出端331、332 ;偏振分束器 3273的一个输入端作为光程发生器32的输入端311，另一个输入端3265与保偏光纤三端 环形器3242的一个输出端3263连接，器对轴角度为0°?0° ;保偏光纤三端环形器3242 的一个输入端作为光程发生器32的输入端312,另一个输出端作为光程发生器32的输出端 36 ；
[0054] 所述的Y波导2和光学干涉扫描解调装置3,以及高偏振宽谱光源之间的连接关系 是：
[0055] 1) Y波导2的输入端2A与高偏振宽谱光源1的起偏器18输出尾纤19用旋转连接 器连接；Y波导2的第一、二输出通道2B、2C的输出保偏尾纤22、23,分别与光学干涉扫描解 调装置3的两个光学干涉扫描解调装置输入端311、312使用旋转连接器连接；
[0056] 2)光学干涉扫描解调装置3的两个输出端331、332连接光电探测器341、342,将 转换的电信号送给偏振串音检测与记录装置4进行处理；
[0057] 所述的Y波导器件2的偏振串音识别与处理算法是：
[0058] 1)￥波导2的输入保偏尾纤21长度11^与两个输出保偏尾纤长度11_。_ 1、11_。_2产生 的光程，分别要求满足下式：
[0059] Sff_j - 1 ff_i X A nf>Sripple (1)
[0060] =1M X A nfii S ff_0_2= 1 ff_0_2 X A nf>Sff= 1 ff X A nff (2)
[0061]其中，Anf为保偏尾纤线性双折射，An^导芯片的线性双折射，S_le为光源 (11)二阶相干峰的光程最大值，Sw是波导芯片快慢轴之间的光程差。
[0062] 2)如若不满足上述条件，则分别需要给其焊接延长保偏光纤长度分别为1"、 ，且对轴角度均为〇°?〇°，并满足下式：
[0063] Sf_i= 1 f_iX Anf>Sripple，Sf-o-F 1 f-o-iX 八?且 S f_0_2= 1 f-o-iX Anf>Sw= 1 WX Anw (3)
[0064] 3)测量并记录Y波导输入保偏尾纤长度、输入尾纤延长保偏尾纤长度、波导芯片 长度、输出保偏尾纤长度、输出延长保偏尾纤长度并记录，其值分别为输入保偏光纤21长 度l w+输入延长保偏光纤长度，波导芯片2D长度lw，波导两个输出保偏尾纤22、23长 度l Wn、lWt2，并计算其光程延迟量；
[0065]4)将装置按照如上描述连接，将旋转连接器均旋转至对轴角度为0°?0°，启动 光程扫描台进行扫描，获取到待测波导芯片噪声本底数据；然后操作旋转连接器20、301、 302,使保偏尾纤19与保偏尾纤21对轴角度为0°?45°，输出保偏尾纤22、23与光学干 涉扫描解调装置输入端311、312之间对轴角度均为45°?0°，启动光程扫描台进行扫描， 即可得出Y波导双通道偏振串音分布曲线。根据上面测得长度和计算所得光程延迟量，即 可以确定各个偏振串音峰值含义。由于其中Y波导两个输出通道分别接在干涉仪两个不同 臂上，则扫描曲线以中央干涉峰值为分界，左右两边分别表示Y波导2两个通道的偏振串音 曲线图；
[0066] 5)当外界环境参数（温度等）或者应用参数（加载电压等）变化时候，重新测量 Y波导的光学参数性能，可以测量出两个通道光学特性随参数改变的变化。
[0067]本实用新型是对基于白光干涉测量技术对一种集成波导器件双通道同时测量装 置的技术改进。现有双通道同时测量的装置图如图1所示。在对Y波导测试的过程中，高 偏振宽谱光源发出的光信号经过Y波导及其输入输出尾纤和尾纤延长光纤，进入白光干涉 仪。两个通道对应两套光程解调装置，共用同一个光程扫描器。光程扫描台通过一次扫描， 即可获得两套光程解调装置的白光干涉信号，这两幅图对应Y波导两个通道的光学性能。 该装置中，要求两个通道的解调干涉仪光路结构、组成元件及器件参数均相同。但是在实际 的搭建使用中，很难完全保证以上要求，两套干涉仪总是会存在微小差异，从而导致测试出 来的Y波导两个通道光学性能评价标准有一定差异。因此对其结构与测试方法进行改进， 消除这种微小差异的影响，对于提高测试器件的精度来说是很有必要的。
[0068] 而本实用新型的装置图如图2所示，在图示的控制计算机（）作用下，光程扫描台 经过一次光程扫描，使干涉仪两臂光程差从Anl经过零，扫描至-Anl，即可获得。其两个 通道的干涉峰表达式如下：
【权利要求】
1. 一种Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源（1)、待测Y波导器件 (2)、光学干涉扫描解调装置（3)、偏振串音检测与记录装置（4)，其特征是： 待测Y波导（2)的第一输出保偏尾纤（22)、第二输出保偏尾纤（23)分别与光学干涉扫 描解调装置（3)的第一输入端（311)、第二输入端（312)连接，构成马赫-泽德干涉仪； 光学干涉扫描解调装置（3)依次由光程发生器（32)、光程扫描装置（37)和光电探测器 (341，342)连接构成； 光学干涉扫描解调装置（3)的光程扫描台（38)通过一次光程扫描，偏振串音检测与记 录装置⑷即检测到光学干涉扫描解调装置⑶的输出端的光电探测器（341，342)输出的 光信号，利用内置的Y波导器件（2)偏振串音识别与处理，同时记录与处理Y波导（2)的第 一、二输出通道（2B，2C)的偏振串音数据，一次获得其全部光学性能，包括：Y波导器件两输 出通道间的波导芯片消光比、线性双折射、插入损耗、尾纤串音的绝对值。
2. 根据权利要求1所述的一种Y波导双通道光学性能测量装置，其特征是：所述的光 学干涉扫描解调装置（3)的光程发生器（32)的第一输入端（311)、第二输入端（312)分 别通过旋转连接器（301，302)连接待测Y波导（2)的第一、二输出通道输出保偏尾纤（22， 23)，与待测Y波导（2)构成马赫-泽德白光干涉仪；光学干涉扫描解调装置（3)的光程发 生器（32)的一个输出端（36)连接光程扫描装置（37)的光纤准直透镜（371);光学干涉扫 描解调装置（3)的光程发生器（32)另外两个光信号输出端（331，332)分别连接光电探测 器（341，342);光学干涉扫描解调装置（3)的光程扫描装置（37)由光纤准直透镜（371)和 光程扫描台（372)构成。
3. 根据权利要求1所述的一种Y波导双通道光学性能测量装置，其特征是：所述的 光程发生器（32)，由检偏器（321，322)、单模光纤三端环形器（3241)和单模光纤耦合器 (3271) 组成，其构成元件的连接关系是： 单模光纤耦合器的两个输入端（3261，3262)分别连接检偏器（321)的输出端和三端单 模光纤环形器（3241)的一个输出端；三端单模光纤环形器（3241) -个输入端（323)与检 偏器（322)连接，一个输出端作为光程发生器（32)的输出端（36);检偏器（321，322)的保 偏输入尾纤（311，312)分别作为光程发生器（32)的光信号输入端（311，312)。
4. 根据权利要求2所述的一种Y波导双通道光学性能测量装置，其特征是：所述的 光程发生器（32)，由检偏器（321，322)、保偏光纤三端环形器（3242)和保偏光纤耦合器 (3272) 组成，其构成元件连接关系是： 保偏光纤耦合器（3272)两个输出端（3281，3282)分别与检偏器（321，322)的输入端 保偏尾纤（3211，3212)连接，其对轴角度为0°?0° ;检偏器的输出端（331，332)保偏光 纤耦合器一个输出端（311)作为光程发生器（32)的输入端（311)，另一个输入端连接保偏 光纤三端环形器（3242)的一个输出端（3263)，其对轴角度为0°?0° ;保偏光纤三端环 形器（3242)的一个输入端作为光程发生器（32)的输入端（312)，另一个输出端作为光程 发生器（32)的输出端（36)。
5. 根据权利要求2所述的一种Y波导双通道光学性能测量装置，其特征是：所述的光 程发生器（32)，由偏振分束器（3273)和保偏光纤三端环形器（3242)组成，其构成元件的连 接关系是： 偏振分束器（3273)两个输出端作为光程发生器（32)的输出端（331，332);偏振分束 器（3273)的一个输入端作为光程发生器（32)的输入端（311)，另一个输入端（3265)与保 偏光纤三端环形器（3242)的一个输出端（3263)连接，器对轴角度为0°?0° ;保偏光纤 三端环形器（3242)的一个输入端作为光程发生器（32)的输入端（312)，另一个输出端作为 光程发生器（32)的输出端（36)。
6.由权利要求1所述的一种Y波导双通道光学性能测量装置，其特征是：所述的Y波 导（2)和光学干涉扫描解调装置（3)，以及高偏振宽谱光源之间的连接关系是：Y波导（2) 的输入端（2A)与高偏振宽谱光源（1)的起偏器（18)输出尾纤（19)用旋转连接器连接；Y 波导（2)的第一、二输出通道（2B，2C)的输出保偏尾纤（22, 23)，分别与光学干涉扫描解调 装置（3)的两个输入端（311，312)使用旋转连接器连接；光学干涉扫描解调装置（3)的两 个输出端（331，332)连接光电探测器（341，342)，将转换的电信号送给偏振串音检测与记 录装置（4)进行处理。
【文档编号】G01M11/02GK204202851SQ201420587780
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年10月11日 优先权日:2014年10月11日
【发明者】杨军, 戴明哲, 柴俊, 李创, 闫德凯, 吴冰, 彭峰, 苑勇贵, 苑立波 申请人:哈尔滨工程大学