技术总结
本发明提出一种粗糙表面的面外偏振双向反射函数测量装置，包括光源、偏振态发生器、用于夹持待测材料的夹持器、偏振态分析器和探测器；所述夹持器包括一个能俯仰180°旋转的转轴和一个能中心360°旋转的圆形旋转台以及支撑柱；转轴的一端用于放置待测材料，转轴的一端固定在圆形旋转台上，圆形旋转台固定在支撑柱上。本发明所述装置成本低、体积小，使用方便，能测得粗糙材料表面的面外偏振反射函数，同时能有效测量方位角改变对偏振双向反射函数的影响。
技术研发人员：潘佳惠;陈钱;吕芳;俞晓东
受保护的技术使用者：南京理工大学
文档号码：201510479356
技术研发日：2015.08.03
技术公布日：2017.02.15