光学检测装置及其光学检测治具的制作方法

本发明有关于一种检测治具，尤指一种光学检测治具。

背景技术：

传统在感测芯片(image sensor)的测试卡上会放置光学转换元件，以便在检测感测芯片的过程中提供合适光学条件的测试光线，有助快速检测出影像感测芯片是否存在缺陷。

然而，在光学转换元件放置于测试卡上并对准感测芯片时，测试卡常常部分遮蔽了上述用于检测感测芯片的光线并降低光线的光照强度，进而影响了感测芯片的检测结果。

为此，若能提供一种解决方案的设计，可解决上述需求，让业者于竞争中脱颖而出，即成为亟待解决的一重要课题。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的一目的在于提供一种光学检测装置及其光学检测治具，用以解决以上先前技术所提到的困难。

为了达到上述目的，依据本发明的一实施方式，此种光学检测治具包含一第一框架、一第二框架与至少一放置面。第一框架具有至少一第一支臂。第二框架与第一框架相互间隔出一以供光源光照的光运行通道，第二框架具有至少一第二支臂，第二支臂与第一支臂相互分离。放置面位于第一框架与第二框架之间，连接第一框架与第二框架至少其中之一，用以承载一光学转换元件。

如此，由于本实施方式的光学检测治具并未全面地包覆光运行通道，使得光学转换元件得以接收更多方向的光线，不致过度降低光线遮蔽程度，故，本实施方式不仅得以让光学转换元件尽可能地靠近感测芯片，却又得以维持光源的光照强度，以降低影响检测结果的风险。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第一支臂与第二支 臂共同朝一第一轴向延伸。放置面朝一垂直第一轴向的第二轴向延伸。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第一支臂、第二支臂与放置面为多数个时，这些第一支臂之间形成至少一第一间隙。这些第二支臂之间形成至少一第二间隙。光运行通道连接第一间隙与第二间隙。这些放置面位于光运行通道中，分别连接第一支臂与第二支臂，且第一间隙与第二间隙分别分离这些放置面。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，当第一支臂与第二支臂皆为单一个，且放置面为二个时，这二个放置面位于光运行通道中，分别连接这些第一支臂与这些第二支臂，且光运行通道分离第一支臂与第二支臂，以及分离这二个放置面。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，光学检测治具还包含一套筒。套筒包含一筒体、一容置空间与一开口。筒体的一端共同连接第一框架与第二框架，容置空间形成于筒体的那端，开口形成于筒体的另端，使得单个放置面为筒体的另端内面，且容置空间连接开口与光运行通道。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第一支臂还包含一第一限位条。第二支臂还包含一第二限位条。第一限位条与第二限位条共同沿第一轴向延伸，用以限制光学转换元件离开光运行通道。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第一框架相对放置面的一端具有一第一挂载部、第二框架相对放置面的一端具有一第二挂载部。光运行通道介于第一挂载部与第二挂载部之间。

依据本发明的另一实施方式，此种光学检测装置包含一光学转换元件、一如上述的光学检测治具与一光源。光源用以对光运行通道透过光学转换元件光照一待测芯片。

如此，由于此种光学检测治具使得光学转换元件尽可能地靠近感测芯片，却又不致阻碍光源的光照强度，以免影响检测结果。

在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，光学转换元件为一镜头或一扩散片。

以上所述仅是用以阐述本发明所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本发明的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1绘示依照本发明第一实施方式的光学检测治具与光学转换元件的分解图；

图2绘示图1的光学检测治具与光学转换元件的组合图；

图3A绘示具有图1的光学检测治具的光学检测装置的示意图；

图3B绘示第一实施方式的光学检测装置于另种选项下的示意图；

图4绘示依照本发明第二实施方式的光学检测治具的立体图；以及

图5绘示依照本发明第三实施方式的光学检测治具的立体图。

具体实施方式

以下将以附图揭露本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。

有鉴于已知技术中，在光学转换元件对准感测芯片时，所述的测试卡常常部分遮蔽并降低光线的光照强度，进而影响了感测芯片的检测结果，本发明的光学检测治具包含二框架与放置面。此二框架相互间隔出一以供光源光照的光运行通道，且此二框架的各支臂相互分离。放置面位于第一框架与第二框架之间，用以承载光学转换元件。

如此，由于本实施方式的光学检测治具并未全面地包覆光运行通道，使得光学转换元件得以接收更多方向的光线，不致过度降低光线遮蔽程度，故，本实施方式不仅得以让光学转换元件尽可能地靠近感测芯片，却又得以维持光源的光照强度，以降低影响检测结果的风险。

第一实施方式

图1绘示依照本发明第一实施方式的光学检测治具100与光学转换元件 300的分解图。图2绘示图1的光学检测治具100与光学转换元件300的组合图。如图1与图2所示，光学检测治具100包含一第一框架110与一第二框架120。第一框架110与第二框架120彼此分离，甚至完全分离，以致第一框架110与第二框架120彼此之间间隔出一光运行通道130。第一框架110具有二个第一支臂111。第二框架120具有二个第二支臂121。这些第二支臂121与这些第一支臂111藉由光运行通道130彼此分离。

第一框架110还具有二第一放置面113。每一第一放置面113连接其中一第一支臂111末端。第二框架120还具有二第二放置面123。每一第二放置面123连接其中一第二支臂121末端。这些第一支臂111与这些第二支臂121皆共同朝一第一轴向(如Z轴)延伸。第一放置面113与第二放置面123皆朝一垂直第一轴向的第二轴向(如X轴或Y轴)延伸，且这些第一放置面113与这些第二放置面123皆位于光运行通道130中，以便共同承载一个光学转换元件300。

较佳地，这些第一放置面113与这些第二放置面123共处同一平面，使得此光学转换元件300能够平稳地位于这些第一放置面113与这些第二放置面123上。然而，本发明不限于这些第一放置面113与这些第二放置面123必须共处同一平面。

此外，这些第一支臂111之间形成一第一间隙112，且第一间隙112完全分离这些第一支臂111，也完全分离这些第一放置面113。这些第二支臂121之间形成一第二间隙122，且第二间隙122完全分离这些第二支臂121，也完全分离这些第二放置面123。

图3A绘示具有图1的光学检测治具100的光学检测装置10的示意图。如图2与图3A所示，光学检测装置10包含一测试卡400、上述光学转换元件300、光学检测治具100与一光源600。光源600位于光学检测治具100相对光学转换元件300的一侧，朝光运行通道130对准光学转换元件300。然而，只要光源600能朝光运行通道130对准光学转换元件300，本发明不限于光源600的位置。

故，当光学检测治具100锁固于测试卡400上，且光学转换元件300于光学检测治具100上面向且对准一待测芯片700顶面的光感应区(chip sensing area)710时，光源600便透过光学转换元件300光照此待测芯片700的光感 应区710，以便测试卡400进行后续的测试流程。

如此，由于光学检测治具100的第一间隙112与第二间隙122露出更多空隙，有助光学转换元件300得以接收更多光线，不致过度降低光线遮蔽程度，以提供足够的光照强度，进而降低影响检测结果的风险。

在本实施方式中，每一第一支臂111还包含一第一限位条114。每一第二支臂121还包含一第二限位条124。这些第一限位条114相互面对，且这些第一限位条114皆共同朝第一轴向(如Z轴)延伸。这些第二限位条124相互面对，且这些第二限位条124皆共同朝第一轴向(如Z轴)延伸。如此，当光学转换元件300共同放置这些第一放置面113与这些第二放置面123时，光学转换元件300得以受到这些第一限位条114与这些第二限位条124的限制，而停留于光运行通道130中，不致离开光运行通道130。

此外，第一框架110相对第一放置面113的一端具有一第一挂载部115，第二框架120相对第二放置面123的一端具有一第二挂载部125。光运行通道130介于第一挂载部115与第二挂载部125之间。如此，透过第一挂载部115与第二挂载部125的作用，光学检测治具100便可固定于测试卡400上，对准待测芯片700的光感应区710。

较佳地，这些第一挂载部115与这些第二挂载部125共处同一平面，使得光学检测治具100便可平稳地放置于测试卡400上。然而，本发明不限于这些第一挂载部115与这些第二挂载部125必须共处同一平面，且本发明不限透过这些第一挂载部115与这些第二挂载部125放置于测试卡400上。

图3B绘示光学检测装置10于第一实施方式的另种选项下的示意图。如图3B所示，在另种选项中，为了协助光学转换元件300平稳地放置于第一放置面113与这些第二放置面123上，可选择性地于光运行通道130内放置至少一位置调校件500，以让光学转换元件300受调校至合适位置，进而顺利后续测试。需了解到，在光学转换元件受调校至合适位置后，位置调校件可被移除以进行后续测试，或者，在不影响光照强度的前提下，位置调校件也可继续位于原处。然而，本发明不限于此，上述位置调校件的外型与种类仅是其中一种选项，甚至，上述位置调校件可以被省略。

第二实施方式

图4绘示依照本发明第二实施方式的光学检测治具101的立体图。第二实施方式的光学检测治具101与第一实施方式的光学检测治具100大致相同，其差异之一为，如图4所示，第一框架110仅具有一第一支臂211与一第一放置面213，第二框架120仅具有一第二支臂221与一第二放置面223。光运行通道130分离第一支臂211与第二支臂221，甚至完全分离第一支臂211与第二支臂221。第一放置面213连接第一支臂211末端。第二放置面223连接第二支臂221末端，且第一放置面213与第二放置面223位于光运行通道130中。

如此，由于第一放置面213与第二放置面223相互相对配置，可让光学转换元件的二端放置于第一放置面213与第二放置面223上，较佳地，第一放置面213与第二放置面223共处同一平面，使得光学转换元件能够平稳地位于第一放置面213与第二放置面223上。然而，本发明不限于第一放置面213与第二放置面223必须共处同一平面。

需了解到，尽管第一支臂211与第二支臂221可能遮蔽光线，然而，由于光运行通道130完全分离第一框架110与第二框架120，未阻挡X轴方向的空间，故，光运行通道130具有足够空隙，有助光学转换元件得以接收合适的光线。

第三实施方式

图5绘示依照本发明第三实施方式的光学检测治具102的立体图。第三实施方式的光学检测治具102与第一实施方式的光学检测治具100大致相同，其差异之一为，如图5所示，光学检测治具102还包含一套筒200。套筒200包含一筒体210、一容置空间220与一开口230。筒体210的一端共同连接第一框架110与第二框架120，容置空间220形成于筒体210的该端，用以放置光学转换元件。开口230形成于筒体210的另端，使得筒体210的另端内面211用以放置光学转换元件，且容置空间220连接开口230与光运行通道130。

如此，由于筒体210的另端内面211围绕开口230，可让光学转换元件300较稳固地放置于套筒200上，可让光学转换元件300较稳固地位于筒体210的另端内面211上。

最后，上述所揭露的各实施例中，并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，皆可被保护 于本发明中。因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。