裸视板光学测试治具及其使用方法与流程

本发明涉及一种裸视板光学测试治具及其使用方法。

背景技术：

显示设备依据用途或组件组设态样可分为众多类别，例如直下式、侧入式显示设备或反射式显示设备等，该些显示设备多半都须透过光源构件提供充足光线进行显示。光源构件主要仰赖光学组件使灯源光线形成面光源，并照射至显示面板进而显示所需画面。在光源构件中，光学的呈现为影响显示效果的重要因素之一，例如当出光均匀度略有偏差时，显示设备的画面清晰度则会受其影响而大幅下降，整体光学品味亦随之劣化。

一般来说，在设计光源构件中的光学组件时，是依据配合使用的灯源种类、光学组件材质、尺寸等条件进行设计，利用光学组件将灯源光线均匀地照射至显示面板。然而，光线极为敏感，些许结构变化或灯源选择等因素即会改变整体光学呈现与光学品味，例如当光学组件与其余材质薄膜结合使用时，受薄膜影响则会造成如局部区域过亮而导致光源构件形成亮暗分明的面光源等情况发生，降低了光学品味的呈现。因此为符合各种出光需求进行光学组件设计时，必须考虑各种参数，并微调修正各项变因，再逐次进行光学实验及重复前述步骤直至获得所需的出光效果为止，方可完成光源构件的整体设计。而后续若更改配合使用的薄膜时，以设计完成的光学组件，必须再对应变更或调整原先的结构以维持如出光均匀的要求，故针对不同的薄膜皆须反复进行光学实验与调整修正，才能再次获得新产品的设计态样。

因此在光学组件产品开发上，皆须经过众多光学测试、打样及修正才可获得相关参数以完成产品设计，此举造成开发成本大幅增加，并需花费极长时间进行光学实验。所以，本发明人于此提出一种裸视板光学测试治具及其使用方法，以有效缩减现今光学产品开发的缺失。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中设计光源构件中的光学组件时的开发过程繁复，以及需要费时逐次检验光学效果的缺陷，提供一种裸视板光学测试治具及其使用方法，降低试误下衍生的裸视板样品制作成本与逐次量测及修改的时间，有效加速产品开发。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

一种裸视板光学测试治具，用于覆设于至少一光学薄膜一侧进行测试，用以开发一裸视板，包括：

一光学基材，具有一入光侧，用于接收至少一光源发出的光线；及

一测试网点群，邻近该入光侧并呈带状布设于该光学基材，且该测试网点群与该入光侧的距离渐变；

其中，当该入光侧接收该光源发出的光线后，该测试网点群形成一主亮带分布区段，透过观察该主亮带分布区段的光学表现，即可取得一取光能力调整位置，用以开发该裸视板。这样，相对地有效缩减过往裸视板开发过程中试误所衍生的样品成本与测试时间。

较佳地，该测试网点群为倾斜布设而与该入光侧具有渐变距离，而可利用主亮带分布区段相对入光侧的距离判得取光能力调整位置信息。

较佳地，除如前述测试网点群为倾斜布设外，该测试网点群为分段设置，而于该光学基材形成面积相等的若干布设区，且该若干布设区为阶梯状排列，由此可利用布设区更为精确地撷取取光能力调整位置。

较佳地，该测试网点群为梯形布设，且其布设宽度自一端朝另端渐减，亦可于光学基材接收光源的光线后，形成主亮带分布区段以取得取光能力调整位置。

此外，测试网点群亦可如下态样设置，该测试网点群是为分段设置，而于该光学基材形成面积渐减的若干布设区，并各该布设区的中心线相互重合，由此以进行测试取得取光能力调整位置。

或者，部分的该测试网点群为倾斜布设而与该入光侧具有渐变距离，部分的该测试网点群为水平布设且布设宽度自一端朝另端渐减，而使测试网点群形成特殊布设态样以因应光学薄膜种类进行测试。

本发明还揭示了一种裸视板光学测试治具的使用方法，包含以下步骤：

S1、提供一测试治具，受至少一光学薄膜覆盖，其中该测试治具包括一光学基材与一测试网点群，该光学基材具有用于接收光线的一入光侧，该测试网点群邻近该入光侧并呈带状布设于该光学基材，且该测试网点群与该入光侧的距离渐变；及

S2、点亮该光学基材，该测试网点群形成一主亮带分布区段后，透过观察该主亮带分布区段的光学表现，即可取得一取光能力调整位置，以开发一裸视板。较佳地，该测试网点群为倾斜布设而与该入光侧具有渐变距离，而可依据主亮带分布区段与入光侧的间距获得取光能力调整位置作为裸视板开发信息。

较佳地，该测试网点群为分段设置，而于该光学基材形成面积相等的若干布设区，且该若干布设区为阶梯状排列，以利用该些布设区更为精准地取得取光能力调整位置。

较佳地，该测试网点群为梯形布设，且其布设宽度自一端朝另端渐减，亦可使光学基材被点亮后于测试网点群形成主亮带分布区段，进而取得取光能力调整位置。

此外测试网点群亦可呈如下所述的态样设置，该测试网点群为分段设置，而于该光学基材形成面积渐减的若干布设区，并各该布设区的中心线相互重合，以由此进行测试取得取光能力调整位置。

或者，部分的该测试网点群为倾斜布设而与该入光侧具有渐变距离，部分的该测试网点群为水平布设且布设宽度自一端朝另端渐减，而使测试网点群形成特殊布设态样以因应光学薄膜种类进行测试。

本发明的积极进步效果在于：

本发明的裸视板光学测试治具及其使用方法，可有效地降低裸视板开发与逐次测试的设计成本，提供更为快速的裸视板开发测试工序。利用测试网点群即可获得配合各种光学薄膜时，裸视板可能形成的光学表现信息，光线进入光学基材后，受光学薄膜及测试网点群影响，会出现主亮带分布区段，依据主亮带分布区段的光学表现即可取得取光能力调整位置，进行裸视板的开发。

附图说明

图1为本发明实施例1的示意图。

图2为本发明实施例1的使用示意图。

图3为本发明实施例1再一实施态样的示意图。

图4为本发明实施例1再一实施态样的使用示意图。

图5为为本发明实施例1次一实施态样的使用示意图。

图6为本发明实施例1又一实施态样的使用示意图。

图7为本发明实施例2的步骤流程图。

1：测试治具

10：光学基材

101：入光侧

102：布设区

11：测试网点群

2：光学薄膜

3：光源

A：主亮带分布区段

具体实施方式

下面举个较佳实施例，并结合附图来更清楚完整地说明本发明。

实施例1

请参阅图1和图2，其为本发明实施例1的示意图及使用示意图。本发明揭示一种裸视板光学测试治具1，用于覆设于至少一光学薄膜2一侧进行测试，用以开发一裸视板。所述的测试治具1包括一光学基材10及一测试网点群11。

光学基材10具有一入光侧101，用于接收至少一光源3如发光二极管所发出的光线，较佳地，光学基材10为一板体。测试网点群11邻近入光侧且呈带状布设于光学基材10上，测试网点群11与入光侧101的距离并为渐变态样。由此，当入光侧101接收光源3发出的光线后，测试网点群11位置会形成一主亮带分布区段A，透过观察主亮带分布区段A的光学表现，即可取得一取光能力调整位置，以利用取光能力调整位置进行裸视板的开发与设计。例如由于测试网点群11与入光侧101的距离渐变，因而在主亮带分布区段A形成后，利用主亮带分布区段A与入光侧101的间距数值，并藉此决定取光能力调整位置，而后在裸视板对应取光能力调整位置处进行出光调配，即可解决裸视板因应光学薄膜而衍生的出光影响。裸视板指可应用于反射式显示设备的面光源构件，亦即藉由裸视板可提供显示设备所需光线，以显示画面之用。因应不同的显示设备规格以及需求，当裸视板搭配各类光学薄膜使用时，受光学薄膜的物理性质影响，不同的光学薄膜会使裸视板具有大相径庭的光学呈现。透过本实施例揭示的测试治具1，即可快速检测裸视板配合光学薄膜2后的光学呈现，并透过观察光学表现而取得开发裸视板所需的参数，减少试误下而衍生的样品成本与开发时间。

于本实施例中，测试网点群11的布设态样为倾斜，进而与入光侧101具有渐变距离，且较佳地，测试网点群11的布设密度为一定值，使非覆设于光学薄膜2时，光线进入光学基材10后测试网点群11各区域的出光量相等。当光源3光线由入光侧101进入光学基材10后，于测试网点群11处会形成出光，但受光学薄膜2影响，在主亮带分布区段A会有属非均匀出光的光学表现，而后透过观察主亮带分布区段A以了解光线受光学薄膜2的物性如折射率影响后，所形成的亮暗分布现象，再藉此得到取光能力调整位置。例如撷取主亮带分布区段A与入光侧101的最大及最小距离参数作为取光能力调整位置信息，由此而于裸视板对应区域做适当的取光能力调配，使裸视板获得所需的出光效果。相对过往需因应相异的光学薄膜2而逐次修正裸视板设计的方式，透过该测试治具1即可快速取得在不同的光学薄膜2覆设下可能产生的出光现象，并依其测试结果来设计所需的裸视板，免除重复设计、打样以及测试等开发步骤，有效降低了开发设计成本。其中，第2图中为利于显示主亮带分布区段A，因此测试网点群11中非属主亮带分布区段A位置，是以相较主亮带分布区段A更为密集的剖面线示意之，表示该处的出光强度小于主亮带分布区段A的出光强度。

请续参阅图3及图4，其为本发明实施例1另一实施态样的示意图及使用示意图。以下进一步揭示测试网点群11的较佳布设态样，例如基于倾斜带状态样下，为可更为精准地取得取光能力调整位置，亦可使测试网点群11为分段设置，而于光学基材10形成面积相等的若干布设区102，且该些布设区102为阶梯状排列设置，如第3图所示。阶梯状的测试网点群11亦相对入光侧101具有相异的距离，例如当主亮带分布区域A形成后依据其所在的布设区102位置即可得知主亮带分布区域A与入光侧101的间距，进而获得取光能力调整位置。其中，第4图中为利于显示主亮带分布区段A，因此测试网点群11中非属主亮带分布区段A位置，是以相较主亮带分布区段A更为密集的剖面线示意，表示该处的出光强度小于主亮带分布区段A的出光强度，并主亮带分布区段A位于测试网点群11布设区域内，图式中框选区域仅为便于示意，非为实际主亮带分布区段A。

请续参阅第5图，其为本发明实施例1次一实施态样的使用示意图。测试网点群11除可为倾斜或阶梯状布设于光学基材10外，亦可为梯形布设，且测试网点群11的布设宽度自一端朝另端渐减。透过此种态样的测试网点群11，同样可在光学基材10覆设于光学薄膜2并由入光侧101接收光线后，于测试网点群11位置形成主亮带分布区段A，再利用主亮带分布区段A取得取光能力调整位置。其中，图5中为利于显示主亮带分布区段A，因此测试网点群11中非属主亮带分布区段A位置以较深的剖面线示意，表示该处的出光强度小于主亮带分布区段A的出光强度。

此外，请参阅图6，其为本发明实施例1再一实施态样的使用示意图。测试网点群11亦可为分段设置，而于光学基材10形成面积渐减的若干布设区102，并各布设区102的中心线相互重合。同样地，利用该种态样的测试网点群11，亦可在光学基材10覆设于光学薄膜2并接收光线后形成主亮带分布区段A，以取得取光能力调整位置。或测试网点群11亦可呈现部分为倾斜布设而与入光侧101具有渐变距离，部分为水平布设且布设宽度自一端朝另端渐减，而使测试网点群11形成特殊布设态样以因应光学薄膜2种类进行测试。其中，图6中为利于显示主亮带分布区段A，因此测试网点群11中非属主亮带分布区段A位置以较深的剖面线示意，表示该处的出光强度小于主亮带分布区段A的出光强度，并主亮带分布区段A位于测试网点群11布设区域内，图式中框选区域仅为便于示意，非为实际主亮带分布区段A所包含范围。

实施例2

请参阅图7，其为本发明实施例2的步骤流程图，并请复搭配参阅图1和图2。本发明亦揭示一种裸视板光学测试治具的使用方法，包含以下步骤。首先，提供一测试治具1，受至少一光学薄膜2覆盖，其中测试治具1包括光学基材10与测试网点群11，光学基材10具有用于接收光线的入光侧101，测试网点群11邻近入光侧101并呈带状布设于光学基材10，且测试网点群11与入光侧101的距离为渐变(步骤S01)。测试治具1的态样即如第1图所示，于光学基材10上布设前述测试网点群11，且测试网点群11与入光侧101具有渐变的距离。

接续，点亮光学基材10，测试网点群11形成主亮带分布区段A后，透过观察主亮带分布区段A的光学表现，即可取得取光能力调整位置，以开发裸视板(步骤S02)。如图2所示，透过光源3点亮光学基材10后，光线自入光侧101进入光学基材10并于测试网点群11形成主亮带分布区段A，即可藉由观察其光学表现来决定取光能力调整位置，进而使欲设计的裸视板依据取光能力调整位置进行光学设计，以符合出光需求。详细的测试举例已于实施例1述及，于此即不再加以赘述。

同样地，于光学基材10上的测试网点群11，其设置态样除如第1及2图为倾斜带状布设外，亦可如图3所示为分段设置而于光学基材10形成面积相等，且为阶梯状排列的若干布设区102，并其使用状态可参阅图4；或如图5所示，测试网点群11为宽度由一端朝另端渐减的梯形布设态样；或如图6所示，测试网点群11亦可为分段设置而于光学基材10形成面积渐减的若干布设区102，且各布设区102的中心线相互重合的设置态样；或测试网点群11可为水平布设，或部分呈水平布设而另一部分呈倾斜布设的态样等。以上态样的测试网点群11，皆有助于取得测试治具1覆设于光学薄膜2后会产生的光学现象，进而获得取光调整位置以针对裸视板进行对应设计，大幅降低开发各类裸视板所需的成本与试误下各样品版次的制作成本。

综上所述，透过本发明揭示的裸视板光学测试治具及其使用方法，可有效降低裸视板开发成本与时间，藉由观察测试治具产生的光学表现，而可取得对应裸视板的取光能力设计位置。于光学基材上布设的测试网点群与入光侧具有相异距离，因此当光线进入覆设于光学薄膜的光学基材，并于测试网点群形成主亮带分布区段后，即可藉由主亮带分布区段的光学表现，推得取光能力调整位置而可对裸视板进行对应设计与开发，有效免除试误下而衍生的各版本样品成本，以及不断量测与修正的时间成本。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。