一种安全仪控系统机柜电容性能检测方法与流程

本发明属于核电安全仪控系统技术领域，具体涉及一种安全仪控系统机柜电容性能检测方法。

背景技术：

安全仪控系统机柜包括信号采集机柜、处理器机柜、逻辑表决机柜、驱动设备机柜和报警信息采集处理机柜，机柜内布置有子机架装置，子机架有独立的供电模件，机柜电源通过供电模件转换后输出工作电压对子机架内的功能模件供电。

每个机柜中均布置有三对大容量的电容元件，当机柜失电时电容释放自身储存的电压，使子机架电源模件输出工作电压维持一段时间后再消失，以保证子机架内功能模件进行数据缓存。

电容具有一定的使用寿期，寿期长短主要取决于工作环境温度。田湾核电站电子设备间环境温度一直保持在20～22度之间，电容工作环境良好，运行至今未发生过电容故障。为了对电容性能进行把控，发现电容不满足工作要求时及时进行更换，需要制定一种试验策略对电容进行测试。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种安全仪控系统机柜电容性能检测方法，该方法能够充分利用现场机柜功能，在线验证电容性能是否满足工作要求。

实现本发明目的的技术方案：一种安全仪控系统机柜电容性能检测方法，该方法具体包括如下步骤：

步骤(1)连接安全仪控系统机柜电容性能检测系统

步骤(1.1)首先断开电源开关K，使待测安全仪控系统机柜机架与机柜电源Vcc断开，即测安全仪控系统机柜断电；

步骤(1.2)将电压检测输出卡件插入待测安全仪控系统机柜机架空余槽位内；

步骤(1.3)将电压检测输出卡件的输出端与信号采集显示记录仪的信号采集端连接；

步骤(1.4)将电源开关K的A端与信号采集显示记录仪的电源输入端连接；

步骤(2)闭合电源开关K，恢复机柜供电，测量机柜供电电压UIN；

步骤(3)信号采集显示记录仪采集机柜供电电压UIN信号曲线X和电压检测卡件输出电压曲线Y；

步骤(4)断开电源开关K，在信号采集显示记录仪中记录曲线X、Y，信号采集显示记录仪记录机柜供电电压UIN从断电前电压水平下降1V至电压检测输出卡件检测到机架电压被切断之间时间T，该时间T即为待测安全仪控系统机柜的电容C的工作时间；

步骤(5)通过上述步骤(4)中得到的待测安全仪控系统机柜电容C的工作时间T，判断待测安全仪控系统机柜电容C的性能是否良好。

所述的步骤(2)中用万用表测量机柜供电电压UIN。

所述的步骤(5)中判断待测安全仪控系统机柜电容C的性能是否良好的具体步骤如下：

步骤(5.1)如果T>10ms，证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能良好；

步骤(5.1)如果5ms≤T≤10ms，证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能良好；

步骤(5.3)如果T<5ms；证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能差，须 更换待测安全仪控系统机柜内的电容C。

本发明的有益技术效果：本发明的检测方法能够真实模拟出电容工作过程，通过精确的记录电源模件失电后保持输出的时间间隔，可以对电容进行性能分析。该电容性能测试方法，通过监测电容工作时间来判别模件是否性能下降，为系统可靠性维修提供了数据支持。该电容性能检测方法把对电子元件的性能通过测试数据量化，通过定期对电容进行测试来监测其性能，对同类仪控设备性能监测具有推广意义。

附图说明

图1为本发明所提供的一种安全仪控系统机柜电容性能检测系统的示意图；

图2为电压曲线示意图。

图中：1.待测安全仪控系统机柜机架，2.电压检测输出卡件，3.信号采集显示记录仪，Vcc.机柜电源，K.电源开关，C.待测安全仪控系统机柜电容。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明。

如图1、2所示，本发明所提供的一种安全仪控系统机柜电容性能检测方法，该方法具体包括如下步骤：

步骤(1)连接安全仪控系统机柜电容性能检测系统

步骤(1.1)首先断开电源开关K，使待测安全仪控系统机柜机架1与机柜电源Vcc断开，即测安全仪控系统机柜断电；

步骤(1.2)将电压检测输出卡件2插入待测安全仪控系统机柜机架1空余槽位内；

步骤(1.3)将电压检测输出卡件2的输出端通过信号线与信号采集显示记录仪3的信号采集端连接；

步骤(1.4)将电源开关K的A端通过电线与信号采集显示记录仪3的电源输入端连接；

步骤(2)闭合电源开关K，恢复机柜供电，测量机柜供电电压UIN

用万用表测量电源开关K的A端电压，即机柜供电电压UIN，供电电压UIN至少为额定电压24V；

步骤(3)信号采集显示记录仪3采集机柜供电电压UIN信号曲线X和电压检测卡件输出电压曲线Y；

步骤(4)断开电源开关K，在信号采集显示记录仪3中记录曲线X、Y，信号采集显示记录仪3记录机柜供电电压UIN从断电前电压水平下降1V至电压检测输出卡件(2)检测到机架电压被切断之间时间T(见图2)，该时间T即为待测安全仪控系统机柜的电容C的工作时间。

步骤(5)通过上述步骤(4)中得到的待测安全仪控系统机柜电容C的工作时间T，从而判断待测安全仪控系统机柜电容C的性能是否良好

步骤(5.1)如果T>10ms，证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能良好，经过一段时间后(2年)必须重新进行测试电容C的性能是否良好；

步骤(5.1)如果5ms≤T≤10ms，证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能良好，经过一段时间后(1年)必须重新进行测试电容C性能是否良好；

步骤(5.3)如果T<5ms；证明待测安全仪控系统机柜电容C的性能差，须更换待测安全仪控系统机柜内的电容C。

例如，采用上述方法测定的某安全仪控机柜子机架断电电容工作时间T均远远大于10ms，证明该机柜电容性能良好。

上面结合附图和实施例对本发明作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明 宗旨的前提下作出各种变化。本发明中未作详细描述的内容均可以采用现有技术。