一种针对编带上器件的测试系统的制作方法

本发明实施例涉及检测技术领域，尤其涉及一种针对编带上器件的测试系统。

背景技术：

在电子器件成型之后，例如三极管，一般要通过编带机对其进行编带。

现有编带机主要包括产品导轨、分度齿轮盘、位于分度齿轮盘上的盖板、产品成型装置、产品定位装置和产品剔除装置。产品导轨将电子器件逐颗送入分度齿轮盘和盖板之间，随着分度齿轮盘转动，锡纸带页随着分度齿轮盘转动，当器件移动至产品成型装置处时，产品成型装置对器件的管脚进行处理，使器件管脚张开，然后，器件在产品定位装置上被处理并粘在锡纸带上，产品定位装置将锡纸带进行压合处理，完成编带。产品剔除装置中设置有钢刀，可以控制钢刀将已编带好的产品在锡纸上切掉。

在电子器件完成编带之前，一般可以在自动分选机设备上对器件进行测试。然而，在电子器件已经完成编带的情况下，很难再在原有自动分选机设备上进行复测，一般都需要人工对已编带好的器件进行测试，器件测试工艺流程时间就会很长，测试效率较低。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种针对编带上器件的测试系统，以实现已编带的器件的自动测试，提高器件产品的测试效率。

本发明实施例提供一种针对编带上器件的测试系统，包括：

编带传输装置、测试爪、联动装置、测试板和测试控制器；

所述编带传输装置用于将编带传输至所述测试上；

所述测试爪与所述测试板相对设置；

所述联动装置用于前后移动时推动所述测试爪朝向所述测试板移动，以使所述测试爪抵触所述测试板上的编带上器件的管脚；

所述测试爪通过测试线路与所述测试控制器电连接，用于向所述器件提供测试信号。

本发明实施例提供的技术方案，通过将测试爪与测试板相对设置，当编带在编带传输装置带动下运动至测试板面上时，联动机构推动测试爪抵触编带上的器件的管脚，测试控制器通过测试爪向器件的管脚提供测试信号，实现编带上器件的自动测试，方便快捷，提高了编带上器件的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1a是本发明实施例一提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示意图；

图1b是本发明实施例一提供的编带传输装置的结构示意图；

图1c是本发明实施例一提供的紧固装置的结构示意图；

图1d是本发明实施例一提供的测试爪的结构示意图；

图1e是本发明实施例一提供的紧固装置中测试板的结构示意图；

图1f是本发明实施例一提供的测试板的结构示意图；

图1g是本发明实施例一提供的联动装置的结构示意图；

图2a是本发明实施例二提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示意图；

图2b是本发明实施例二提供的进带拉紧装置的结构示意图；

图3a是本发明实施例三提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示意图；

图3b是本发明实施例三提供的通信接口电路的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本发明实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

图1a是本发明实施例一提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示意图。所述针对编带上器件的测试系统10包括：

编带传输装置11、测试爪15、联动装置17、测试板18和测试控制器19；

所述编带传输装置11用于将编带传输至所述测试上；

所述测试爪15与所述测试板18相对设置；

所述联动装置17用于前后移动时推动所述测试爪15朝向所述测试板18移动，以使所述测试爪15抵触所述测试板18上的编带上器件的管脚；

所述测试爪15通过测试线路与所述测试控制器19电连接，用于向所述器件提供测试信号。

其中，联动装置17可由驱动电机带动前后移动，驱动电机可由编带传输装置11控制也可有测试控制器19控制。

参见图1b，其中，所述编带传输装置11包括：

分度齿轮盘111、电机112和编带控制器113；

所述编带控制器113用于控制所述电机112带动所述分度齿轮盘转动111；

所述分度齿轮盘111用于带动所述编带运动至所述测试板18上；

所述电机112还用于带动所述联动装置17前后移动。

需要说明的是，在本实施例中，编带控制器和测试控制器可以集成为一个总的控制器，由该总的控制器完成编带上器件测试过程所有控制指令的发送和器件测试。

在本实施例中，分度齿轮盘111、电机112和编带控制器113，可以为原有编带机上的装置部件。

进一步的，所述系统还包括紧固装置16，参见图1c，所述紧固装置16包括一固定块161；

所述固定块161的两个相对的第一侧面上各开有凹槽162，所述凹槽162中设置有螺纹孔163(另一凹槽上的螺纹孔未画出)。参见图1d，所述测试爪15上设置有与所述螺纹孔163对应的孔洞151。可以使用螺钉穿过孔洞151拧入螺纹孔163，使测试爪15固定于固定块161的凹槽162中，实现紧固装置16 对于测试爪15的固定。在本实施例中，示例性的在每个凹槽162中固定三个测试爪15，所述测试爪15的数量可以少于三个，也可以根据测试爪15的尺寸，设置凹槽162的尺寸，使凹槽162中固定的测试爪15的数量大于三个。

进一步的，参见图1e，所述紧固装置16还包括矩形面板165，所述矩形面板165上的一端开有第一长形孔166，所述矩形面板上的另一端开有第二长形孔167，所述固定块161上未开有凹槽的第二侧面上设置有与所述第一长形孔166对应的螺纹孔164，所述测试板18上设置有与所述第二长形孔167对应的螺纹孔。

进一步的，参见图1f，所述测试板18包括第一矩形块181和第二矩形块182，所述第二矩形块182位于所述第一矩形块181的一端，所述第一矩形块181的另一端上开有至少一个长形孔183，所述第二矩形块182上设置有与所述矩形面板165上的所述第二长形孔167对应的螺纹孔184。所述测试板18可以为陶瓷材质制作而成。

在本实施例中，可先通过长形孔183将测试板18进行固定，可以通过长形孔183将测试板18固定到测试平台上，使编带在运动的过程中，编带的一个面贴着第二矩形块182上与测试爪15相对的面运动即可。通过矩形面板165上的第二长形孔167和第二矩形块182上对应设置的螺纹孔184将矩形面板165固定在测试板18上。通过矩形面板165上的第一长形孔166和固定块上的螺纹孔164，将固定测试爪15的紧固装置16固定于矩形面板165上，使测试爪15与第二矩形块182的一个面(此面上有运动的编带通过)相对固定。

进一步的，参见图1g，所述联动装置17包括：

第一面板171和第二面板172，所述第一面板171和第二面板172垂直连 接；

所述第一面板171上设置有销钉173，所述销钉173上穿出所述第一面板171部分174套有非导电部件；

所述第二面板172上有至少一个长形孔175，所述第二面板172通过所述长形孔175固定于与所述电机112的联动轴连接的第三面板上。

在本实施例中，电机112转动时，可以带动与电机联动轴连接的第三面板往复移动，进而带动第一面板171和第二面板172往复移动，位于第一面板上171的销钉173上穿出所述第一面板171的部分174可以推动测试爪15抵触变带上器件的管脚，由于测试爪15为金属弹片制作，一般都具有一定的弹性，当第一面板171带动销钉172回复至远离编带位置时，金属弹片也会弹回至远离编带的位置，与编带上器件的管脚分离。

由于要使用销钉173推动测试爪15移动，而测试爪15在测试的时候需要向器件管脚传输电信号，因此，在销钉173上套非导电部件，以使销钉173与测试爪15绝缘隔离，非导电部件可以为陶瓷或者玻璃部件。

本实施例提供的技术方案，通过紧固装置将测试爪固定，并将测试爪与测试板相对设置，当编带在分度齿轮盘带动下运动至测试板面上时，联动机构推动测试爪抵触编带上的器件的管脚，测试控制器通过测试爪向器件的管脚提供测试信号，实现编带上器件的自动测试，方便快捷，提高了编带上器件的测试效率。

实施例二

图2a是本发明实施例二提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示 意图。参见图2a，在上述实施例一的基础上，所述系统10还包括：进带导向轮20、进带拉紧装置21和收带轮22；

所述进带导向轮20用于控制编带进入所述分度齿轮盘111的方向和角度；

所述进带拉紧装置21用于将运动的编带拉紧；

所述收带轮22用于收入编带。

进一步的，参见图2b，所述进带拉紧装置21包括：

第一固定块211和第二固定块212，所述第二固定块212为l型块；

所述第一固定块211固定于所述第二固定块212的第一内侧面上，与所述第二固定块212的第二内侧面之间有一定的缝隙213，所述缝隙213用于通过运动的编带，所述第一固定块211和所述第二固定块212夹持所述缝隙213的两个面向所述运动的编带提供摩擦力，以拉紧所述运动的编带。

所述第一固定块211上设置有长形孔214，所述第二固定块212上设置有与所述长形孔214对应的螺纹孔215，可以通过长形孔214和螺纹孔215将第一固定块211固定于所述第二固定块212上。

进一步的，所述第一固定块211和所述第二固定块212夹持所述缝隙213的两个面上设置有橡胶皮垫。设置的橡胶皮垫用于增加摩擦力。

进一步的，所述进带拉紧装置还包括至少一个弹性部件216，所述第一固定块211和第二固定块212的底端部位分别设置有螺钉217和螺钉218，所述弹性部件的两端分别固定于所第一固定块上的螺钉217和第二固定块的螺钉218上。设置弹性部件可以拉紧第一固定块和第二固定块，增强第一固定块211和第二固定块夹持缝隙的两个面向运动的编带提供的摩擦力。也可以解决进带拉紧装置在长时间使用过程中，第一固定块和第二固定块之间缝隙变大，以至 于无法拉紧编带的问题。弹性部件可以为弹簧或者橡皮条。

本实施例提供的技术方案，可以通过设置进带导向轮，可以方便地调整编带进入分度齿轮盘的方向和角度，进带拉紧装置可以拉紧编带，方便编带上器件的测试，所述收带轮可以将测试完的编带收录，设置的进带导向轮、进带拉紧装置和收带轮可以提高测试系统的测试效率，节省人力。

实施例三

图3a是本发明实施例三提供的一种针对编带上器件的测试系统的结构示意图，参见图3a，在上述实施例的基础上，所述系统还包括：

光纤传感器24和器件剔除装置25；

所述光纤传感器24与所述编带控制器113电连接，用于检测所述测试爪15是否抵触编带上的器件的管脚；

所述编带控制器113用于在所述测试爪15抵触编带上器件的管脚后，向所述测试控制器19发送第一通知信号，以通知所述测试控制器19对所述器件进行测试；例如，测试控制器19通过施加相应的电信号，采用开尔文测试法对器件进行电参数测试。

所述测试控制器19用于在接收到所述第一通知信号后，通过所述测试爪15对器件进行测试，并在确定所述器件不合格时，向所述编带控制器113发送第二通知信号，以通知所述编带控制器113通过所述器件剔除装置25剔除所述不合格的器件。

进一步的，继续参加图3a，所述系统还包括通信接口电路23；

所述编带控制器113通过所述通信接口电路23与所述测试控制器19相连；

所述编带控制器113用于通过所述通信接口电路23向所述测试控制器19发送所述第一通知信号；

所述测试控制器19用于通过所述通信接口电路23向所述编带控制器113发送所述第二通知信号。

进一步的，参见图3b，所述通信接口电路23包括：

第一电阻r1、第二电阻r2、第三电阻r3、第四电阻r4、第五电阻r5、第六电阻r6、第七电阻r7、第一三极管q1、第二三极管q2、第三三极管q3、二极管d1以及电源vcc；

所述测试控制器19的信号输出端out1通过所述第三电阻r3与所述第一二极管q1的基极相连，所述电源vcc通过所述第一电阻r1与所述第一三极管q1的集电极相连，所述电源vcc通过所述第二电阻r2与所述第二三极管q2的集电极相连，所述第一三极管的集电极q1与所述第二三极管q2的基极相连，所述第一三极管q1和第二三极管q2的发射极接地，所述第二三极管q2的集电极与所述编带控制器113的信号输入端in1相连；

所述第四电阻r4和第六电阻r6组成第一串联电路，所述编带控制器113的信号输出端out2通过所述第一串联电路接地，所述第五电阻r5和所述二极管d1组成第二串联电路，所述第三三极管q3的基极通过所述第二串联电路连接于所述第四电阻r4和第六电阻r6之间，所述第三三极管q3的基极与所述二极管d1的阳极相连，所述第三三极管q3的发射极与所述电源vcc相连，所述第三三极管q3的集电极通过所述第七电阻r7接地，所述第三三极管q3的集电极与所述测试控制器19的信号输入端in2相连。

其中，第一三极管q1和第二三极管q2为npn型三极管，第三三极管q3 为pnp型三极管。

例如，在测试控制器19的信号输出端out1输出高电平信号时，第二三极管q2的集电极的电平为高电平，会在编带控制器113的信号输入端in1输入一高电平信号，该高电平信号可作为第二通知信号。在编带控制器113的信号输出端out2输出低电平信号时，第三三极管q3的集电极的电平为高电平，会在测试控制器19的信号输入端in2输入一高电平信号，该高电平信号可作为第一通信信号。在本实施例中，通过测试系统对编带上器件的测试过程如下：编带控制器113控制电机112转动，电机112带动分度齿轮盘111转动，在分度齿轮盘111的转动带动下编带依次运动通过进带导向轮20、进带拉紧装置21、分度齿轮盘111、测试板18和收带轮22，进带拉紧装置提供的摩擦力拉紧编带，可以方便测试爪接触编带上的产品并进行测试。编带在测试板18上运动时，贴着测试板18的一个面上运动，电机112带动联动装置17推动测试爪15抵触运动至测试板18面上的编带上的器件的管脚，编带控制器113通过光纤传感器检测到测试爪15抵触到器件的管脚后，通过通信接口电路23向编带控制器113测试控制器19发送第一通知信号，测试控制器19接收到第一通知信号之后，向测试爪15施加测试信号对与测试爪15接触的器件进行测试。经过测试，测试控制器19在确定测试的器件不合格时，通过通信接口电路23向编带控制器113发送第二通知信号，编带控制器113接收到第二通知信号时，控制器件剔除装置25剔除该不合格的器件，测试系统重复上述测试步骤完成编带上各器件的自动测试。

本实施例提供的技术方案，通过设置光纤传感器和通信接口电路，可以确保在测试爪与编带上器件引脚接触后，测试控制器才提供测试信号进行测试， 提高测试的可靠性和准确性，并在出现不合格的器件时，及时将不合格的器件剔除。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。