技术特征：
技术总结
本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法，从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI和初级输入PI，根据测试指令，通过测试壳输入端口装载将SI测试数据装载到IP核的扫描链，将PI测试数据通过测试壳的WBR单元施加到IP核的输入端口，并卸载由SI测试数据经过IP核的内部逻辑电路后转换得到的SO测试数据以及PO测试数据，将SO测试数据与IP核测试图形中的SO图形进行测量比对，并将PO测试数据与IP核测试图形中的PO图形进行测量比较。因此能够使用IP核的测试图形，得到基于测试壳的IP核测试数据，并与测试图形中的相应图形进行比对。
技术研发人员：冯燕;陈岚;彭智聪
受保护的技术使用者：中国科学院微电子研究所
技术研发日：2016.05.04
技术公布日：2017.11.14