一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片的制作方法
【专利摘要】本发明提出了一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片。上述电路用于对封装后的成品芯片进行修调，包括：数据传输模块、控制模块和反馈单元。数据传输模块与第一引脚连接，采用异步逻辑传输从第一引脚处输入的脉冲触发信号。控制模块与数据传输模块连接，接收脉冲触发信号，并控制电源管理芯片上的熔丝读写单元的读写，其中，上述电路还包括与控制模块连接的反馈单元，反馈单元能将电路修调后的信号反馈至第一引脚输出。通过使用本发明的电源管理芯片的修调测试电路，可以对封装后的成品芯片的关键指标进行测试和调修，且及大地节约了成本。
【专利说明】
一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片
技术领域
[0001]本发明涉及电源管理芯片技术领域，尤其涉及一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片。
[0002]
【背景技术】
[0003]目前，很多电源管理芯片都需要通过修调的方式来提高产品的性能以及以较低的成本扩展产品。传统的芯片修调方式为，在芯片上增加修调焊盘，在芯片的中测阶段对芯片的性能进行调整，然后，才进行芯片的封装。由于封装会对制造芯片的晶圆结构造成一定的影响，容易导致封装后的芯片成品的参数，和中测时的芯片参数之间存在偏差，造成良率的损失。同时，传统的修调方式无法对芯片成品再做调整，因此，会造成生产备货上的压力。
[0004]传统的方法为采用面积较大的焊盘作为探针的物理接触，烧断选定的熔丝，或者使用复杂的数字电路，控制熔丝的状态。然而，上述方案一般成本较高，且无法实现封装后的修调。现有技术中，也可以实现在成品阶段对芯片进行修调，但往往带来成本的大幅上升，实际使用价值不高。另外，对某些特殊的产品，比如只有三个引脚的装置，这些方案也无能为力。
[0005]
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的一个技术问题是，降低测试成本。为了解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，提供了一种电源管理芯片的修调测试电路，包括:数据传输模块、控制模块和反馈单元。数据传输模块与第一引脚连接，采用异步逻辑传输从第一引脚处输入的脉冲触发信号。控制模块与数据传输模块连接，接收脉冲触发信号，并控制电源管理芯片上的熔丝读写单元的读写。其中，上述电路还包括与控制模块连接的反馈单元，反馈单元能将电路修调后的信号反馈至第一引脚输出。
[0007]优选地，电路还包括与数据传输模块连接的数据分组解码单元。数据解码单元接收脉冲触发信号并将其分组解码为相应的测试信号和/或修调信号。
[0008]优选地，控制模块包括依次串联的测试模式控制器和修调模式控制器。测试模式控制器接收测试信号，对电路进行相应地测试;修调模式控制器接收修调信号，控制熔丝读写单元的读写。
[0009]优选地，测试模式控制器和修调模式控制器均与反馈单元连接，并通过反馈单元和第一引脚输出测试信息和/或修调信息。
[0010]优选地，上述电路还包括连接至所述修调模式控制器的修调模式定义单元，所述修调模式定义单元能预设修调模式信息。
[0011]优选地，电路还包括与第一引脚连接的测试模式判断模块，测试模式判断模块用于判断脉冲触发信号是否满足测试要求以进入测试模式。
[0012]优选地，电路还包括与熔丝读写单元连接的第二引脚，第二引脚用于将经修调后的信号连接至内部电路。
[0013]优选地，反馈单元包括相互连接的数据路由器和/或多路复用器。
[0014]优选地，控制电源管理芯片上的熔丝的读写，为通过控制金属氧化物半导体晶体管的导通，进而控制熔丝是否被永久烧断，以调整电路中输出的电平的高低。
[0015]根据本发明的另一个方面，还提供了采用了上述的修调测试电路的电源管理芯片。
[0016]本发明的优点在于:(I)在避免使用焊盘的情况下，通过优化电路，具体地通过采用引脚复用、信号反馈、数据串行传输与数据分组解码等，实现了对封装后的成品芯片的关键指标进行测试和调修，及大地节约了成本。(2)由于采用了修调模式定义单元，可以方便的对所需的电路特性参数的数量做修改。比如在需要修调基准电压、基准电流和基准时钟时，可以预设三个修调模式;而在只需要修改基准电压时，可以预设一个修调模式，因此电路的扩展性好。(3)测试功能全面，除了可以控制一定的修调量，还可以进行很多单纯的测试功能。
[0017]
【附图说明】
[0018]在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中:
为了更清楚地说明本发明的实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本发明实施例的电源管理芯片的修调测试电路的原理框图；
图2为本发明另一实施例的电源管理芯片的修调测试电路的原理框图；
图3为图2的修调测试电路应用于三端稳压器的连接原理图；以及
图4为本发明实施例的熔丝读写单元的电路连接原理图。
[0020]在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。
[0021]
【具体实施方式】
[0022]下面将结合附图对本发明作进一步说明。
[0023]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0024]在本发明的一个具体的实施例中，如图1所示，电源管理芯片的修调测试电路，包括:数据传输模块，与第一引脚连接，采用异步逻辑传输从第一引脚处输入的脉冲触发信号；以及控制模块，与数据传输模块连接，接收脉冲触发信号，并控制电源管理芯片上的熔丝读写单元的读写;其中，电路还包括与控制模块连接的反馈单元，反馈单元将电路修调后的信号反馈至第一引脚输出。在这种情况下，由于摒弃了传统的复杂数字电路，而采用异步逻辑使得电路不需要振荡器来同步数据，从而简化了电路结构，节约了成本。同时，电路通过反馈单元将内部的修调后的信号反馈至复用引脚，使得被测结果数据与输入端共用同一引脚输出信号。
[0025]在本发明的一个具体的实施例中，如图1所示，电源管理芯片的修调测试电路还包括与数据传输模块连接的数据分组解码单元。数据解码单元接收脉冲触发信号并将其分组解码为相应的测试信号和/或修调信号。由此，可以实现对封装后的成品芯片的关键指标进行测试和调修。
[0026]为了使测试电路不仅可以控制一定的修调量，还可以进行很多单纯的测试功能，测试电路的控制模块包括依次串联的测试模式控制器和修调模式控制器。测试模式控制器接收测试信号，对电路进行相应地测试;修调模式控制器接收修调信号，控制熔丝读写单元的读写操作。具体地，如图2所示，脉冲触发信号从复用引脚输入，经上电复位测试模式检测器实现上电复位，并检测从复用引脚输入的信号是否满足进入测试模式要求。
[0027]脉冲触发信号分两路分别传输至异步移位缓冲器和分组计数器，进行关键逻辑运算后输入至数据寄存器中。从数据寄存器中输出的信号先后输入至测试模式控制器和修调模式控制器中。测试模式控制器接收并识别测试信号，对电路进行相应地测试;修调模式控制器接收并识别修调信号，控制熔丝读写单元的读写操作。
[0028]另外，测试模式控制器和修调模式控制器均与反馈单元连接，并通过反馈单元和第一引脚输出测试信息和/或修调信息。优选地，反馈单元包括相互连接的数据路由器和/或多路复用器。上述的测试模式控制器和修调模式控制器均连接至数据路由器之后再与多路复用器连接。多路复用器连接至复用引脚，将测试信号和修调信号反馈至复用引脚输出。
[0029]为了能预先设定修调模式，上述电路还包括连接至修调模式控制器的修调模式定义单元，修调模式定义单元能预设修调模式信息。在这种情况下，通过预先设置修调模式的个数和类别，可以对所需的电路特性参数的数量和不同性能做修改。具体地，在需要修调基准电压、基准电流和基准时钟时，可以预设三个修调模式;而在只需要修改基准电压时，可以预设一个修调模式，因此电路的扩展性好。
[0030]在本发明的一个具体的实施例中，如图1所示，电路还包括与第一引脚连接的测试模式判断模块，测试模式判断模块用于判断脉冲触发信号是否满足测试要求以进入测试模式。另外，与熔丝读写单元连接还设有第二引脚，用于将经修调后的信号连接至内部电路。上述的脉冲触发信号可以为脉冲宽度调制信号。
[0031]另外，本发明还提供了一种使用了上述电路的电源管理芯片。
[0032]图3为本发明实施例的修调测试电路应用于三端稳压器的连接原理图。从图中可知，输出端定义为复用引脚。这样，脉冲宽度调制信号从上述的输出端加入，而芯片内部关键节点，例如，基准源节点，内置误差放大器负反馈节点等的电压电流信号也从该输出端引出。这样，通过在复用引脚加入预设的脉冲宽度调制信号，触发芯片进入调试模式。在复用引脚可测得芯片内部的关键信号，例如，第一测试模式下的偏移量以得到修调编码信息。之后，将上述的修调编码信息通过复用引脚输入芯片，芯片自动执行修调动作，烧断对应的熔丝。待第一测试模式的修调结束后，可以输入下一个测试模式指令，对下一个信号进行修调。
[0033]图4为本发明实施例的熔丝读写单元的电路连接原理图。从图中可知，通过控制金属氧化物半导体晶体管Ml、M2、M3、M4的导通，可以控制熔丝读写单元上的熔丝FUSE是否被永久烧断，以调整电路中输出的电平的高低。具体地，晶体管M1、M 2接收控制信号E N和WRITE，将M3栅极信号拉低，M3开启。M3驱动M4将FUSE在电源和地之间短路，从而将FUSE熔断。晶体管M5接收READ信号，在一个窄脉冲内，如果LATCH的输入被拉低，则输出低电平，反之输出高电平。
[0034]虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
【主权项】
1.一种电源管理芯片的修调测试电路，其特征在于，包括: 数据传输模块，与第一引脚连接，采用异步逻辑传输从所述第一引脚处输入的脉冲触发信号；以及 控制模块，与所述数据传输模块连接，接收所述脉冲触发信号，并控制所述电源管理芯片上的恪丝读写单元的读写； 其中，所述电路还包括与所述控制模块连接的反馈单元，所述反馈单元能将所述电路修调后的信号反馈至所述第一弓I脚输出。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括与所述数据传输模块连接的数据分组解码单元； 所述数据解码单元接收所述脉冲触发信号并将其分组解码为相应的测试信号和/或修调信号。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述控制模块包括依次串联的测试模式控制器和修调模式控制器;所述测试模式控制器接收所述测试信号，对所述电路进行相应地测试;所述修调模式控制器接收所述修调信号，控制所述熔丝读写单元的读写。4.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述测试模式控制器和修调模式控制器均与所述反馈单元连接，并通过所述反馈单元和第一引脚输出测试信息和/或修调信息。5.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，还包括连接至所述修调模式控制器的修调模式定义单元，所述修调模式定义单元能预设修调模式信息。6.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括与所述第一引脚连接的测试模式判断模块，所述测试模式判断模块用于判断所述脉冲触发信号是否满足测试要求以进入测试模式。7.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括与所述熔丝读写单元连接的第二引脚，所述第二引脚用于将经修调后的信号连接至内部电路。8.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述反馈单元包括相互连接的数据路由器和/或多路复用器。9.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述控制电源管理芯片上的熔丝的读写，为通过控制金属氧化物半导体晶体管的导通，进而控制熔丝是否被永久烧断，以调整电路中输出的电平的高低。10.—种电源管理芯片，其特征在于，采用了如以上任一权利要求所述的修调测试电路。
【文档编号】G01R31/28GK106093755SQ201610659518
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年8月12日 公开号201610659518.5, CN 106093755 A, CN 106093755A, CN 201610659518, CN-A-106093755, CN106093755 A, CN106093755A, CN201610659518, CN201610659518.5
【发明人】魏汝新, 唐沛寅
【申请人】上海宝司芯微电子有限公司