1.一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，包括与待测微波产品连接且用于与待测微波产品导波口装配CAP后匹配的测试治具、与待测微波产品连接且用于给待测微波产品提供全频段工作切换电压及切换工作频率的固有模拟装置、与所述测试治具连接的杂讯源、分别与所述固有模拟装置和杂讯源连接的噪声分析仪，以及与所述固有模拟装置连接的供电电源。
2.如权利要求1所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述设备还包括用于固定所述待测微波产品、杂讯源和测试治具的测试支架。
3.如权利要求2所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述测试支架呈L字型。
4.如权利要求1至3任一项所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述噪声分析仪输出的中频信号为10M-3GHz。
5.如权利要求1至3任一项所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述供电电源为直流电源。
6.如权利要求1至3任一项所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述供电电源为所述固有模拟装置提供0V-30V直流稳定电压。
7.如权利要求1至3任一项所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，其特征在于，所述待测微波产品与所述测试治具无缝对接。
8.一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，其特征在于，包括以下步骤：
A、在测试低频段时，测试的频率范围为950MHz-1950MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于低频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；在测试高频段时，测试的频率范围为1100MHz-2150MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于高频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；
B、将噪声分析仪测试频率点调整至所需测试信号频率点静止，对噪声分析仪上所选频率点进行读数；
C、测试完成后将测试数据与标准规格进行对比。
9.如权利要求1所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，其特征在于，所述方法还包括在测试前将供电电源调试至20V-22V之间。
10.如权利要求1所述的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，其特征在于，所述方法还包括在测试前对所述噪声分析仪进行设置：首先输入中频信号频率，然后输入待测微波产品本机振荡频率，再输入待测微波产品特性规格参数，最后输入杂讯源的杂讯值，进行仪器校准。