技术总结
本发明适用于微波技术领域，提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备及方法，所述用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备包括与待测微波产品连接且用于与待测微波产品导波口装配CAP后匹配的测试治具、与待测微波产品连接且用于给待测微波产品提供全频段工作切换电压及切换工作频率的固有模拟装置、与所述测试治具连接的杂讯源、分别与所述固有模拟装置和杂讯源连接的噪声分析仪，以及与所述固有模拟装置连接的供电电源。本发明通过测试待测微波产品装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。
技术研发人员：何宏平;刘俊杰;詹宇昕;潘雄广
受保护的技术使用者：华讯方舟科技（湖北）有限公司
文档号码：201611201934
技术研发日：2016.12.22
技术公布日：2017.05.31