本发明属于微波技术领域，尤其涉及一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备及方法。
背景技术：
目前，在微波行业中，正常的微波产品在半成品阶段是直接连接噪声分析测试系统测试，此方案仅限于裸机测试，但在装CAP(防尘/防水盖)后，对产品输入的卫星信号的干扰和衰减未进行测试，因微波产品最终是工作在装配CAP情况下的，因此需要对带CAP的微波产品进行测试，验证其对信号的频闭和衰减。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，旨在解决现有技术中未对带CAP的微波产品进行噪声测试的技术问题。
本发明是这样实现的：提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，包括与待测微波产品连接且用于与待测微波产品导波口装配CAP后匹配的测试治具、与待测微波产品连接且用于给待测微波产品提供全频段工作切换电压及切换工作频率的固有模拟装置、与所述测试治具连接的杂讯源、分别与所述固有模拟装置和杂讯源连接的噪声分析仪，以及与所述固有模拟装置连接的供电电源。
进一步地，所述设备还包括用于固定所述待测微波产品、杂讯源和测试治具的测试支架。
进一步地，所述测试支架呈L字型。
进一步地，所述噪声分析仪输出的中频信号为10M-3GHz。
进一步地，所述供电电源为直流电源。
进一步地，所述供电电源为所述固有模拟装置提供0V-30V直流稳定电压。
进一步地，所述待测微波产品与所述测试治具无缝对接。
本发明还提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，包括以下步骤：
A、在测试低频段时，测试的频率范围为950MHz-1950MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于低频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；在测试高频段时，测试的频率范围为1100MHz-2150MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于高频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；
B、将噪声分析仪测试频率点调整至所需测试信号频率点静止，对噪声分析仪上所选频率点进行读数；
C、测试完成后将测试数据与标准规格进行对比。
进一步地，所述方法还包括在测试前将供电电源调试至20V-22V之间。
进一步地，所述方法还包括在测试前对所述噪声分析仪进行设置：首先输入中频信号频率，然后输入待测微波产品本机振荡频率，再输入待测微波产品特性规格参数，最后输入杂讯源的杂讯值，进行仪器校准。
实施本发明的一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，具有以下有益效果：其通过测试待测微波产品装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接或间接在另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接或间接连接到另一个元件。
还需要说明的是，本发明实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。
如图1所示，本发明实施例提供的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，为微波产品装配CAP测试时对信号的干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度。具体地，该设备包括测试治具2、固有模拟装置3、杂讯源4、噪声分析仪5和供电电源6。其中，测试治具2与待测微波产品1连接并用于与待测微波产品1导波口装配CAP后匹配；固有模拟装置3与待测微波产品1连接且用于给待测微波产品1提供全频段工作切换电压及切换工作频率；杂讯源4与测试治具2连接，该杂讯源4是一种能产生随机连续频谱的装置，在规定的频带内具有一定的输出噪声功率和均匀的功率谱密度；噪声分析仪5分别与固有模拟装置3和杂讯源4连接；供电电源6与固有模拟装置3连接且用于为固有模拟装置3供电。在本发明实施例中，测试治具2、固有模拟装置3、杂讯源4和噪声分析仪5均可分别采用现有技术中常用的测试治具、固有模拟装置、杂讯源和噪声分析仪。另外，测试治具2与待测微波产品1之间、固有模拟装置3与待测微波产品1之间、杂讯源4与测试治具2之间、噪声分析仪5与固有模拟装置3和杂讯源4之间，以及供电电源6与固有模拟装置3之间的连接均可以是电性连接。
本发明实施例通过测试待测微波产品1装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。
进一步地，本发明实施例的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备还包括测试支架7，该测试支架7用于固定待测微波产品1、杂讯源4和测试治具2，使得在测试时待测微波产品1不会因晃动而影响测试结果，同时还可将待测微波产品1进行隔离测试。优选地，在本发明的一个实施例中，测试支架7呈L字型，以便于固定待测微波产品1、杂讯源4和测试治具2。进一步优选地，待测微波产品1、杂讯源4和测试治具2均可拆卸连接在测试支架7上，因此可根据实际需要装配多种不同规格的测试治具2，以满足不同微波产品的测试需求。
优选地，本发明实施例使用的噪声分析仪5，其输出10M-3GHz中频信号，以便于对待测微波产品1的噪声进行测试。
优选地，本发明实施例使用的供电电源6为直流电源。进一步优选地，本发明实施例使用的供电电源6为固有模拟装置3提供0V-30V的直流稳定电压，以便于对待测微波产品1的噪声进行测试。
优选地，待测微波产品1与测试治具2无缝对接，以便于对待测微波产品1的噪声进行测试。
本发明实施例还提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，包括以下步骤：
A、在测试低频段时，测试的频率范围为950MHz-1950MHz，将待测微波产品1接上固有模拟装置3，该固有模拟装置3固定于低频段，然后切换13/18V，在切换13/18V的同时将待测微波产品1转动90°；在测试高频段时，测试的频率范围为1100MHz-2150MHz，将待测微波产品1接上固有模拟装置3，该固有模拟装置3固定于高频段，然后切换13/18V，在切换13/18V的同时将待测微波产品1转动90°；
B、将噪声分析仪5测试频率点调整至所需测试信号频率点静止，对噪声分析仪5上所选频率点进行读数；
C、测试完成后将测试数据与标准规格进行对比。
进一步地，本发明实施例的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法还包括在测试前将供电电源6调试至20V-22V之间，该电压为固有模拟装置3提供脉冲电压并模拟产品工作电压。
进一步地，本发明实施例的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法还包括在测试前对噪声分析仪5进行设置。具体地，噪声分析仪5的设置包括以下内容：首先输入中频信号频率IF，该频率点由信号频率产生器所设定的任意频率点RF-待测微波产品1本机振荡频率LO得来；然后输入待测微波产品1本机振荡频率LO，正常微波产品在低频段本振频率为9.75GHZ，高频段本振频率为10.6GHZ；再输入待测微波产品1特性规格参数；最后输入杂讯源4的杂讯值，进行仪器校准。
综上所述，本发明实施例通过测试待测微波产品1装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。