电流测试方法及电子设备与流程

本发明涉及电子技术，尤其涉及一种电流测试方法及电子设备。

背景技术：

电子设备不论在出厂前的测试还是投入使用后的测试，都需要获取电子设备运行时的电流，以通过电流得到功耗并判断电子设备的工作状态。

现有技术中，为了得到电子设备运行时的电流，通过外部的直流电源向电子设备供电，并通过电脑检测直流电源向电子设备输出的电流，从而得到电子设备运行时的电流。

采用现有技术，测试电子设备的电流时所需的仪器较多，电流测试的方法较为复杂。

技术实现要素：

本发明提供一种电流测试方法及电子设备，简化了电流测试的方法。

本发明提供一种电流测试方法，包括：通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上；

根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

在本发明一实施例中，所述根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流之后，还包括：

将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内。

在本发明一实施例中，所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后，还包括：

所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流，并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上。

在本发明一实施例中，所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流，并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上之后，还包括：

所述电子设备根据所述第一电流得到所述电子设备的电流功耗。

在本发明一实施例中，所述通过电子设备的模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压包括：

所述ADC每间隔第一时间对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

在本发明一实施例中，所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后，还包括：

获取所述内部寄存器中的每间隔第一时间得到的所述第一电流。

在本发明一实施例中，所述通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压之前还包括：

开启所述ADC的采样开关，使所述ADC开始对所述第一电阻上的电压进行采样。

本发明提供一种电子设备，包括：

模/数转换器ADC、电池和第一电阻；

所述第一电阻串接在所述电子设备和所述电池之间的回路上；

所述ADC用于对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，以使所述电子设备根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

在本发明一实施例中，还包括：内部寄存器；

所述内部寄存器用于储存所述第一电流。

在本发明一实施例中，所述ADC还用于每间隔第一时间对所述第一电阻的电压进行采样得到每间隔第一时间的第一电压，以使所述电子设备根据所述每间隔第一时间的第一电压与所述第一电阻的比值得到每间隔第一时间的第一电流；

所述内部寄存器还用于储存所述每间隔第一时间的第一电流。

本发明提供一种电流测试方法及电子设备，其中，电流测试方法包括：通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上，根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。本发明提供的电流测试方法及电子设备，通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样，并由电子设备自身得到第一电流，从而在电流测试时不需要设置其他测试设备，简化了电流测试的方法。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明电流测试方法实施例一的流程示意图；

图2为本发明电流测试方法实施例二的流程示意图；

图3为本发明电流测试方法实施例三的流程示意图；

图4为本发明电子设备实施例一的结构示意图；

图5为本发明电子设备实施例二的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

图1为本发明电流测试方法实施例一的流程示意图。如图1所示，本实施例的执行主体是电子设备，电子设备包括：移动终端、笔记本电脑或台式电脑等。如图1所示，本实施例电流测试方法包括：

S101：通过模/数转换器(Digital-to-Analog Converter，简称ADC)对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

其中，第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上。具体地，ADC连接第一电阻，并通过对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。其中，第一电阻在电子设备和电子设备的电池之间的回路上，电子设备的电池用于向电子设备系统的运行提供电量。电子设备的电池向电子设备供电时包括正负极两路构成供电回路，第一电阻可以设置在该供电回路的任一位置。当电子设备的系统运行时，电子设备的电池通过供电回路对电子设备的系统提供运行的电量。则此时，电子设备的电池输出的电流都会经过供电回路，第一电阻上的电流即为电子设备的系统运行时所需要的电流。为了得到电子设备的系统运行时所需要的电流，电子设备通过电子设备中的ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

S102：根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

具体地，电子设备通过公式计算得到第一电流。其中，R为第一电阻的阻值，U为S101中得到的第一电压的电压值，I为第一电流，第一电流为电子设备运行时，电池通过第一电阻向电子设备提供的电量。

其中，第一电阻的阻值应小于10毫欧，可使第一电阻对电子设备的电池的电量的消耗与第一电流的计算结果相比较小，可以忽略不计。

本实施例提供的电流测试方法通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样，并由电子设备自身得到第一电流，从而在电流测试时占用仪器较少，不需要设置其他测试设备，通过电子设备实现自身电流的测试，简化了电流测试的方法。并且由于方案简单直观、方便灵活，可有效提高电子设备研发人员电流测试的工作效率。

图2为本发明电流测试方法实施例二的流程示意图。如图2所示，本实施例电流测试方法在图1所示实施例的基础上，包括：

S201：通过模/数转换ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

本步骤具体实施方式同S101，其原理与实现方式相同，不再赘述。

S202：根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

本步骤具体实施方式同S102，其原理与实现方式相同，不再赘述。

S203：将第一电流储存在电子设备的内部寄存器内。

具体地，电子设备通过S202得到第一电流后，将第一电流值储存在电子设备的内部寄存器内。

S204：电子设备获取内部寄存器中的第一电流，并将第一电流显示在电子设备的显示装置上。

具体地，电子设备将内部寄存器中的储存的第一电流显示在显示装置上。其中，当电子设备检测到内部寄存器中储存第一电流后，立即将内部寄存器中的储存的第一电流显示在显示装置上。从而实现电子设备在测试时，工作人员需要实时获取电子设备工作电流的需求。

S205：电子设备根据第一电流得到电子设备的电流功耗。

具体器，电子设备在获取第一电流之后，也可以实时将获取到的第一电流的电流值进行积分并和时间做平均，从而得到电流功耗，电流功耗的单位为mA/h。

可选地，S205之后还包括：将电流功耗显示在电子设备的显示装置上。

图3为本发明电流测试方法实施例三的流程示意图。如图3所示，本实施例电流测试方法，包括：

S301：ADC每间隔第一时间对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

其中，本实施例的应用场景可以是电子设备进入待机状态而屏幕未亮时，由电子设备后台执行本实施例的步骤。

则此时，电子设备不通过外界的操作，电子设备每隔第一时间，通过ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

S302：根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

本步骤具体实施方式同S102，其原理与实现方式相同，不再赘述。

S303：将第一电流储存在电子设备的内部寄存器内。

具体地，电子设备通过S302得到第一电流后，将第一电流值储存在电子设备的内部寄存器内。

由于S301是每隔第一时间对第一电阻上的电压进行采样，并通过S302计算第一电流，则S303中的电子设备的内部寄存器中包括了电子每隔第一时间得到的第一电流。

S304：获取内部寄存器中的每间隔第一时间得到的第一电流。

本步骤中，当电子设备结束待机状态即屏幕电量后，需要获取测试结果时，电子设备获取内部寄存器中的每间隔第一时间得到的第一电流，即本次待机时间内所有的每间隔第一时间得到的第一电流，待机时间应大于第一时间。

进一步地，在上述图2和图3所示，S201和S301之前，还包括：开启ADC的采样开关，使ADC开始对第一电阻上的电压进行采样。

可选地，S205和S304之后，还包括：关闭ADC的采样开关，使ADC停止对第一电阻上的电压进行采样。

图4为本发明电子设备实施例一的结构示意图。如图4所示，本实施例电子设备包括：ADC41、电池42和第一电阻43。其中，第一电阻43串接在电子设备4和电池42之间的回路上，ADC41用于对第一电阻43上的电压进行采样得到第一电压，以使电子设备4根据第一电压与第一电阻43的比值得到第一电流。

具体地，电子设备4可以是：移动终端、笔记本电脑或台式电脑等。图中电池42的供电回路为从电池的正极到电池的负极，电池42通过该供电回路为电子设备供电。其连接关系为，电池42的正极和负极分别连接电子设备的系统形成回路，以向电子设备提供电子设备的系统运行时的电流，图4中电池42的供电回路仅为示意图，其中，电子设备4的电池42向电子设备4供电时包括正负极两路构成供电回路，第一电阻43可以设置在该供电回路的任一位置。例如：第一电阻43可以设置为：第一电阻43的第一端连接电池42的正极，第二端连接系统，第一电阻43也可以设置为：第一电阻43的第一端连接电池42的负极，第二端连接系统。当电子设备的系统运行时，电子设备的电池42通过供电回路对电子设备的系统提供运行的电量。则此时，电子设备的电池42输出的电流都会经过供电回路，第一电阻43上的电流即为电子设备4的系统运行时所需要的电流。为了得到电子设备的系统运行时所需要的电流，电子设备通过ADC41对第一电阻43上的电压进行采样得到第一电压。

随后，电子设备4通过公式计算得到第一电流。其中，R为第一电阻43的阻值，U为第一电压的电压值，I为第一电流，第一电流为电子设备4运行时，电池42通过第一电阻43向电子设备4提供的电量。

图5为本发明电子设备实施例二的结构示意图。如图5所示，在上述实施例的基础上，电子设备4还包括：内部寄存器44，内部寄存器44用于储存第一电流。

具体地，电子设备4得到第一电流后，将第一电流值储存在电子设备的内部寄存器44内。可选地，内部寄存器44与电子设备的系统连接，以使用户在使用电子设备时通过电子设备系统内的应用程序获取内部寄存器44中的第一电流。

进一步地，在图5所示实施例中，ADC41还用于每间隔第一时间对第一电阻43的电压进行采样得到每间隔第一时间的第一电压，以使电子设备4根据每间隔第一时间的第一电压与第一电阻43的比值得到每间隔第一时间的第一电流。内部寄存器44还用于储存每间隔第一时间的第一电流。

具体地，本实施例的应用场景可以是电子设备4进入待机状态而屏幕未亮时，由电子设备4后台主动获取每间隔第一时间的第一电流。则此时，电子设备不4通过外界的操作，电子设备4每隔第一时间，通过ADC41对第一电阻43上的电压进行采样得到第一电压，并根据每间隔第一时间的第一电压与第一电阻43的比值得到每间隔第一时间的第一电流。随后将每间隔第一时间的第一电流放入内部寄存器44进行储存。当电子设备4结束待机状态即屏幕电量后，需要获取测试结果时，电子设备4能够获取内部寄存器44中的每间隔第一时间得到的第一电流，即本次待机时间内所有的每间隔第一时间得到的第一电流，其中，待机时间应大于第一时间。

本实施例提供的电子设备通过ADC对第一电阻的电压进行采样，并由电子设备得到第一电流，从而在电流测试时占用仪器较少，不需要设置其他测试设备，通过电子设备实现自身电流的测试，简化了电流测试的方法。并且由于方案简单直观、方便灵活，可有效提高电子设备研发人员电流测试的工作效率。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。