一种弧面缺陷测量卡的制作方法

文档序号:12560567阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种弧面缺陷测量卡,其特征在于:包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体,所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。

2.根据权利要求1所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体由透明材质制成。

3.根据权利要求2所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体由透明亚克力板制成。

4.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述长度刻度设置在卡片本体的边缘处。

5.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述宽度条系列分为两列以上排列,各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直。

6.根据权利要求5所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述宽度条系列设有两列,两列宽度条系列分别设置在卡片本体的两个相邻侧边的边缘处。

7.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述圆圈系列设有两列,分别为空心圆圈系列和实心圆圈系列。

8.根据权利要求7所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述空心圆圈系列和实心圆圈系列并列设置,两列之间设有圆圈直径值标识。

9.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体为长方形,并且四角为倒圆角。

10.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体的厚度为0.1mm~0.2mm。

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