一种表面波检测表面开口缺陷的对比试块的制作方法

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一种表面波检测表面开口缺陷的对比试块的制作方法与工艺

本实用新型涉及一种对比试块,具体涉及一种表面波检测表面开口缺陷的对比试块。



背景技术:

近年来,加工制造、材料、冶金、装配等行业技术的发展非常迅速,技术的发展对材料和构件的表面提出了越来越高的要求,同时,为了使这些技术应用于大批量工业生产,没有齐全的质量检测手段是无法保证材料和构件质量。在影响材料和构件质量及安全性的诸多因素中,表面开口缺陷的危害性极大。超声表面波技术具有能够发现表面开口缺陷的特征。因此,有必要设计表面波检测表面开口缺陷专用对比试块,用于超声检测仪和表面波探头的组合性能的校验、检测灵敏度和缺陷大小的确定。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点,提供了一种表面波检测表面开口缺陷的对比试块,该对比试块能够用于超声检测仪和表面波探头的组合性能的校验、检测灵敏度和缺陷大小的确定。

为达到上述目的,本实用新型所述的表面波检测表面开口缺陷的对比试块包括试块本体,试块本体的一侧面开设有第一线槽及第二线槽,试块本体的另一侧面开设有第三线槽及第四线槽,第一线槽的宽度、第二线槽的宽度、第三线槽的宽度及第四线槽的宽度均相同,第一线槽的深度、第二线槽的深度、第三线槽的深度及第四线槽的深度均不同。

第一线槽的宽度、第二线槽的宽度、第三线槽的宽度及第四线槽的宽度均为0.2mm。

第一线槽的深度、第二线槽的深度、第三线槽的深度及第四线槽的深度分别为0.2mm、0.4mm、0.6mm及0.8mm。

第一线槽距试块本体左端面的距离、第三线槽距试块本体左端面的距离、第二线槽距试块本体右端面的距离、以及第四线槽距试块本体右端面的距离均为100mm。

试块本体为长方体结构。

本实用新型具有以下有益效果:

本实用新型所述的表面波检测表面开口缺陷的对比试块在使用时,通过超声检测仪及表面波探头完成对各线槽的检测,然后根据检测的结果与各线槽的实际位置及大小进行对比完成超声检测仪和表面波探头的组合性能的校验、表面波的检测灵敏度和缺陷大小的确定,结构简单,操作方便,实用性极强。

附图说明

图1为本实用新型的正视图;

图2为本实用新型的俯视图;

图3为本实用新型中第一线槽1的截面图;

图4为本实用新型中第二线槽2的截面图;

图5为本实用新型中第三线槽3的截面图;

图6为本实用新型中第四线槽4的截面图。

其中,1为第一线槽、2为第二线槽、3为第三线槽、4为第四线槽、5为试块本体。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述:

参考图1,本实用新型所述的表面波检测表面开口缺陷的对比试块包括试块本体5,试块本体5的一侧面开设有第一线槽1及第二线槽2,试块本体5的另一侧面开设有第三线槽3及第四线槽4,第一线槽1的宽度、第二线槽2的宽度、第三线槽3的宽度及第四线槽4的宽度均相同,第一线槽1的深度、第二线槽2的深度、第三线槽3的深度及第四线槽4的深度均不同。

需要说明的是,第一线槽1的宽度、第二线槽2的宽度、第三线槽3的宽度及第四线槽4的宽度均为0.2mm;第一线槽1的深度、第二线槽2的深度、第三线槽3的深度及第四线槽4的深度分别为0.2mm、0.4mm、0.6mm及0.8mm;第一线槽1距试块本体5左端面的距离、第三线槽3距试块本体5左端面的距离、第二线槽2距试块本体5右端面的距离、以及第四线槽4距试块本体5右端面的距离均为100mm;试块本体5为长方体结构。

本实用新型的具体操作过程为:

通过超声检测仪及表面波探头完成对第一线槽1的检测,然后根据检测的结果与第一线槽1的实际位置及深度进行对比完成超声检测仪和表面波探头的组合性能的校验、表面波的检测灵敏度和缺陷大小的确定、检测距离的调整及缺陷位置的确定,通过检测各线槽用于超声波探头检测距离的调整、缺陷位置的确定以及有效检测距离的测试。

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