1.一种用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：包括二维工作台、平台控制器、控制单元、边界扫描检测模块和LCD显示模块；其中，二维工作台分别与平台控制器、控制单元、边界扫描检测模块连接；控制单元分别与平台控制器、二维工作台、边界扫描检测模块、LCD显示模块连接；边界扫描检测模块分别与二维工作台、控制单元连接。
2.根据权利要求1所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的控制单元为嵌入式计算机系统，包含相互连接的嵌入式处理器和存储器。
3.根据权利要求2所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的嵌入式处理器为嵌入式ARM微处理器S3C2440。
4.根据权利要求2所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的存储器包括Flash存储器和SDRAM存储器，Flash存储器和SDRAM存储器分别与嵌入式处理器连接。
5.根据权利要求4所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的Flash存储器为E28F128J3A150存储芯片；所述的SDRAM存储器为HY57V641620存储芯片。
6.根据权利要求1所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的边界扫描检测模块为FPGA芯片EP2C8Q208C8N。
7.根据权利要求1所述用于集成电路测试的边界扫描测试装置，其特征在于：所述的LCD显示模块为彩色CSTN液晶显示屏。