技术总结
本实用新型公开了一种用于集成电路测试的边界扫描测试装置。该装置包括二维工作台、平台控制器、控制单元、边界扫描检测模块和LCD显示模块；二维工作台分别与平台控制器、控制单元、边界扫描检测模块连接；控制单元分别与平台控制器、二维工作台、边界扫描检测模块、LCD显示模块连接。本实用新型能够对电路芯片的逻辑功能和芯片间的互连线上的故障等进行测试，能够检测短路、开路、固定型故障等多种类型的故障，可以在一定程度上解决传统方法中的测试过程复杂、效率低等问题。
技术研发人员：潘中良;陈翎
受保护的技术使用者：华南师范大学
文档号码：201621073421
技术研发日：2016.09.22
技术公布日：2017.05.10