一种钢珠跌落测试装置的制作方法

本实用新型涉及智能卡的测试设备领域，更具体地说，涉及一种钢珠跌落测试装置。

背景技术：

目前市面上已开发出一种带显示屏的智能卡，多用于银行卡，该卡片是由PVC卡片、芯片、LCD显示屏组装而成，这种带有显示屏的智能卡在组装完成后，需要对智能卡的LCD显示屏进行防撞击测试，目前还没有一种专门的测试设备来完成这种测试作业。

技术实现要素：

本实用新型为了克服现有技术之不足，提出了一种操作简便，通用性较加强且可以灵活调节高度的钢珠跌落测试装置。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的。

一种钢珠跌落测试装置，包括底座、安装板、支撑板、透明圆管、滑轨、下落高度调节滑块、锁紧螺丝、卡片放置板和钢珠，所述安装板呈水平设置且固定连接至底座上，所述支撑板垂直且固连在安装板上，所述透明圆管平行于支撑板且固定设置在支撑板的邻侧，所述钢珠可自由落体的安装在透明圆管内，所述滑轨设置在支撑板上，所述下落高度调节滑块可上下滑动的连接在滑轨上且通过锁紧螺丝锁紧固定至滑轨上，所述下落高度调节滑块内设置一滑槽，所述滑槽内设置一可水平运动的活动吸块，活动吸块邻近透明圆管的一端设置有磁铁，所述底座与安装板之间设置一卡片放置板，所述卡片放置板可活动设置在底座上，卡片放置板的一侧设置用于将卡片放置板压紧至底座的压杆，所述压杆螺接在一滑块上，所述滑块滑动设置在安装板上的调节轨道内。

更具体的，所述底座包括一水平底板以及设置在水平底板相对两侧边的一对侧板，所述侧板的高度大于水平底板的厚度，所述安装板固连接至一对侧板。

更具体的，所述卡片放置板上设置有一L型的定位挡块。

更具体的，还包括一用于将钢珠从透明圆管底端移到下落高度调节滑块一侧的复位磁铁，所述复位磁铁可分离的设置在所述测试装置以外。

更具体的，活动吸块与一手柄连接，所述手柄从所述下落高度调节滑块上伸出。

更具体的，所述支撑板设置有刻度尺。

更具体的，所述透明圆管的底端与卡片放置板之间设有间隔。

本实用新型的有益效果在于，本测试装置结构简单，用于测试带显示屏的智能卡组装完成后的显示屏耐撞击程度，钢珠下落高度(即撞击力)可灵活调节，智能卡易于固定，通用性较强。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为底座及安装板的结构示意图。

图3为下落高度调节滑块的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图给出本实用新型较佳实施例，以详细说明本实用新型的技术方案。

如图1至图3，一种钢珠跌落测试装置的实施例，包括底座1、安装板2、支撑板3、透明圆管4、滑轨5、下落高度调节滑块6、锁紧螺丝7、卡片放置板8和钢珠(图中未示出)，所述安装板2呈水平设置且固定连接至底座1上，具体的，所述底座1包括一水平底板10以及设置在水平底板10相对两侧边的一对侧板11，所述侧板11的高度大于水平底板10的厚度，所述安装板2固连接至一对侧板11。

所述支撑板3垂直且固连在安装板2上，所述透明圆管4平行于支撑板3且固定设置在支撑板3的邻侧，所述透明圆管4的底端与卡片放置板8之间设有间隔，便于卡片放置板8在底座上无障碍的移动；所述钢珠可自由落体的安装在透明圆管4内，透明圆管4用于对钢球运动进行导向，防止钢珠到处滚落；所述滑轨5设置在支撑板3上，所述下落高度调节滑块6可上下滑动的连接在滑轨5上且通过锁紧螺丝7锁紧固定至滑轨5上，所述下落高度调节滑块6内设置一滑槽，所述滑槽内设置一可水平运动的活动吸块61，活动吸块61邻近透明圆管4的一端设置有磁铁(图中未示出)，所述底座1与安装板2之间设置一卡片放置板8，所述卡片放置板8可活动设置在底座1上，卡片放置板8的一侧设置用于将卡片放置板8压紧至底座1的压杆9，所述压杆9螺接在一滑块91上，所述滑块91滑动设置在安装板2上的调节轨道92内。

所述卡片放置板8上设置有一L型的定位挡块81。

还包括一用于将钢珠从透明圆管4底端移到下落高度调节滑块6一侧的复位磁铁71，所述复位磁铁71可分离式的设置在所述测试装置以外。

活动吸块61与一手柄62连接，所述手柄62从所述下落高度调节滑块6上伸出，便于手指推动活动吸块来回运动进行测试操作。

所述支撑板3设置有刻度尺31，用于显示钢珠下落高度。

工作原理：事先沿滑轨5上下滑动所述的下落高度调节滑块6，设定好钢珠的下落高度，用手旋扭锁紧螺丝7，使下落高度调节滑块6与滑轨5相对固定，将待测试的双界面芯片固定在卡片放置板8上，并移动到透明圆管4的底端，使LCD显示屏正对透明圆管4的出口位置，再旋扭压杆9，压杆9底端会将卡片放置板8压紧至底座1上从而使两者固定，随后在透明圆管4外侧使用复位磁铁71吸附钢珠并移动至下落高度调节滑块6的邻侧，在活动吸块61一端的磁铁作用下，钢珠被活动吸块61吸附，随后移走复位磁铁71，随后用手推动活动吸块61的手柄62，使活动吸块61远离钢珠，随后失去磁吸力的钢珠在自身重力作用下会自由落体并撞击在芯片上，从而完成一次对芯片的测试过程。

虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。