测试装置及检测方法与流程

本发明涉及电子电路领域，尤其涉及一种测试装置及检测方法。

背景技术：

目前，在液晶显示装置的生产过程中，需要对液晶显示装置中的背光模块进行检验，主要是要对背光模块上的LED(发光二极管)电灯通电情况进行检验，即要检测点灯率。现有的检测方法是利用手工将背光源点灯装置的两个电极与背光模块中的金手指的两个电极相连接。但由于背光源点灯装置的两个电极端一般人工添加极性标记，但由于操作人员的疏忽时常发生忘记标记或者极性标记错误的问题，而金手指的两个电极端虽然同样添加有电极标记，但由于将背光源点灯装置的两电极与金手指的两电极进行连接后，为防止连接处断裂，通常会使用胶带缠绕连接处，所使用的胶带经常会遮盖金手指上的电极标记，影响了操作人员对电极连接状态进行确认。

如果背光源点灯装置的两电极与金手指的两电极极性反接，则背光模块无法正常被点亮，给测试者带了很大的不便，影响了测试者的工作效率。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种测试装置及检测方法，其可以实现背光源点灯装置和背光模块之间极性的自动匹配。

根据本发明的第一方面，提供了一种测试装置，用于为待测模块提供测试信号，所述待测模块具有第一极性的第一输入端口和具有第二极性的第二输入端口，包括：驱动模块，产生具有第一极性的第一测试信号和具有第二极性的第二测试信号；控制模块，用于根据所述第一测试信号产生控制信号；以及继电器，用于根据所述控制信号为所述背光模块提供与所述背光模块的第一输入端口和第二输入端口的极性相匹配的测试信号。

优选地，所述驱动模块具有电源端、接地端、第一输出端以及第二输出端，所述驱动模块的电源端接收第一电压，所述驱动模块的接地端接地，所述驱动模块的第一输出端和第二输出端分别用于输出第一测试信号和第二测试信号；

所述继电器具有控制输入端、第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端、第一输出端和第二输出端，所述继电器的控制输入端用于接收控制信号，所述继电器的第一输入端和第四输入端与驱动模块的第一输出端相连，所述继电器的第二输入端和第三输入端与驱动模块的第二输出端相连，所述继电器的第一输出端用于在所述控制信号为第一电平时输出第一测试信号，在所述控制信号为第二电平时输出第二测试信号，所述继电器的第二输出端用于在所述控制信号为第一电平时输出第二测试信号，在所述控制信号为第二电平时输出第一测试信号。

优选地，所述控制模块包括：比较模块，用于将第一测试信号与第一电压比较运算模块，基于第二电压对比较模块的比较结果进行逻辑运算以生成控制信号。

优选地，所述比较模块包括：第一电阻，所述第一电阻的第一端用于接收第一测试信号；第二电阻，所述第二电阻的第一端接地，所述第二电阻的第二端与所述第一电阻的第二端相连；比较器，所述比较器的同相输入端与所述第二电阻的第二端连接，所述比较器的同相输入端接收第一电压。

优选地，所述运算模块包括：与门，所述与门的第一输入端与所述比较器的输出端相连，所述与门的第二输入端与所述与门的输出端相连；第三电阻，所述第三电阻的第一端接收第二电压，所述第三电阻的第二端与所述与门的第二输入端相连；以及非门，所述非门与所述与门的输出端相连，所述非门的输出端用于输出控制信号。

优选地，所述第一极性为正极性，第二极性为负极性。

优选地，所述第二电压为3.3V。

优选地，所述待测模块包括液晶显示装置的背光模块，所述第一测试信号和第二测试信号为背光模块的点灯信号。

根据本发明的第二方面，提供一种检测方法，包括：产生具有第一极性的第一测试信号和具有第二极性的第二测试信号；根据所述第一测试信号产生控制信号；以及利用继电器根据所述控制信号为所述背光模块提供与所述背光模块的第一输入端口和第二输入端口的极性相匹配的测试信号。

优选地，所述第一测试信号产生控制信号包括：将第一测试信号与第一电压比较；基于第二电压对比较模块的比较结果进行逻辑运算以生成控制信号。

根据本发明实施例的测试装置及检测方法，可以实现测试装置和待测模块极性的自动匹配，其在与待测模块连接时，无论二者连接端极性是否匹配，均可以正常完成测试操作，避免了现有技术中由于操作人员连接错误造成测试装置无法正常使用，以及由此带来的工作效率降低的问题。

附图说明

通过以下参照附图对发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出了本发明第一实施例提供的测试装置的结构图；

图2示出了本发明第一实施例提供的测试装置中控制模块的等效电路图；

图3示出了图2中示波器的显示情况。

具体实施方式

以下基于实施例对本发明进行描述，但是本发明并不仅仅限于这些实施例。在下文对本发明实施例的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分，对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本发明。为了避免混淆本发明的实质，公知的方法、过程、流程没有详细叙述。

在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。附图中的流程图、框图图示了本发明的实施例的系统、方法、电路的可能的体系框架、功能和操作，附图的方框以及方框顺序只是用来更好的图示实施例的过程和步骤，而不应以此作为对发明本身的限制。

图1示出了本发明第一实施例提供的测试装置的结构图。如图1所示，本发明第一实施例提供的测试装置包括控制模块100、驱动模块200以及继电器300，所述驱动模块200用于产生具有第一极性的第一测试信号A和具有第二极性的第二测试信号K；所述控制模块100用于根据所述第一测试信号产生控制信号CONTROL；所述继电器300用于根据所述控制信号CONTROL为所述待测模块提供与所述待测模块的第一输入端口BL_A和第二输入端口BL_K的极性相匹配的测试信号，所述继电器300例如为双通道继电器，所述待测模块的第一输入端口BL_A具有第一极性，所述待测模块的第二输入端口BL_K具有第二极性，所述待测模块包括液晶显示装置的背光模块，所述第一测试信号A和第二测试信号K例如为背光模块的点灯信号，所述第一极性例如为正极，所述第二极性例如为负极。

图1(a)示出了本发明第一实施例提供的测试装置中控制模块的结构图。如图1a所示，所述控制模块100包括比较模块110和运算模块120，所述比较模块110包括第一电阻R1、第二电阻R2以及比较器U1，所述运算模块120包括第三电阻R3、与门U2以及非门U3。

所述第一电阻R1的第一端用于接收第一测试信号A；所述第二电阻R2的第一端接地，所述第二电阻R2的第二端与所述第一电阻R1的第二端相连；所述比较器U1的同相输入端与所述第二电阻R2的第二端连接，所述比较器U1的同相输入端接收第一电压VCC1，所述比较器U1的电源端接收第二电压VCC2，所述比较器U1的接地端接地；所述与门U2的第一输入端与所述比较器U1的输出端相连；所述第三电阻R3的第一端接收第二电压VCC2，所述第三电阻R3的第二端同时连接至所述与门U2的第二输入端和输出端；所述非门U3与所述与门U2的输出端相连，所述非门U3的输出端用于输出控制信号CONTROL。

所述第一电压VCC1的例如为2.5V；所述第二电压VCC2例如为3.3V；所述第一电阻R1例如为阻值50KΩ、误差5％的R0603型电阻；所述第二电阻R2例如为阻值10KΩ、误差5％的R0603型电阻；所述第三电阻R3例如为阻值10KΩ、误差5％的R0603型电阻。

图1(b)示出本发明第一实施例提供的测试装置中驱动模块的结构图。如图1(b)所示，所述驱动模块200具有电源端A0、接地端A1、第一输出端A2以及第二输出端A3。所述驱动模块的电源端A0接收供电电压VIN，所述供电电压VIN例如为12V，所述接地端A1接地。所述第一输出端A2和第二输出端A3分别用于输出第一测试信号A和第二测试信号K。

图1(c)示出本发明第一实施例提供的测试装置中继电器的结构图。如图1(c)所示，所述继电器具有控制输入端A5、第一输入端K11、第二输入端K12、第三输入端K21、第四输入端K22、第一输出端C1、第二输出端C2以及电源端A4。

其中，所述继电器300的第一输入端K11用于接收第一测试信号A，所述继电器300的第二输入端K12用于接收第二测试信号K，所述继电器300的第一输出端C1和第一输入端K11之间构成第一常闭触点，所述继电器300的第一输出端C1和第二输入端K12之间构成第一常开触点，所述继电器300的第三输入端K21用于接收第二测试信号K，所述继电器300的第四输入端K22用于接收第一测试信号A，所述继电器300的第二输出端C2和第三输入端之间K21构成第二常闭触点，所述继电器300的第二输出端C2和第四输入端K22之间构成第二常开触点，所述电源端A4用于接收第二电压VCC2，所述控制输入端A5用于接受所述控制模块提供的控制信号CONTROL。所述继电器300的第一输出端C1和第二输出端C2用于与所述待测模块连接，用于为所述待测模块提供测试信号。同前文所述，所述第二电压VCC2例如为3.3V。

所述继电器300还包括线圈(图中未示出)，当所述线圈未得电时，所述继电器300的第一常闭触点闭合，所述第一常开触点断开，所述第一输出端C1和所述第一输入端K11相连通；所述第二常闭触点闭合，所述第二常开触点断开，所述第二输出端C2和所述第三输入端K21相连通。

为了便于更好地实施本发明，本发明第二实施例提供一种检测方法。其中名词的含义与上述测试装置中相同，具体实现细节可参考测试装置实施例中的说明。

开始检测时，若所述继电器300的第一输出端C1连接至待测模块的第一输入端口BL_A，且所述继电器300的第二输出端C2连接至待测模块的第二输出端口，由于连接端极性相匹配，所述驱动模块100将供电电压VIN经升压后经由所述第一输出端A2输出，得到具有第一电平的第一测试信号A，所述第一测试信号A的电平值例如为21V～24V。

所述比较器U1同相输入端电压高于所述比较器U1反相输入端电压，所述比较器U1输出为高电平。此时，所述与门U2的第一输入端由于连接至所述比较器U1的输出端，所述与门U2的第一输入端为高电平。本领域的技术人员应清楚，所述与门U2在当前的连接关系下，当所述与门U2的第一输入端为高电平时，所述与门U2的输出端也为高电平。对应地，所述非门U3的输入端为高电平，所述非门U3的输出端输出低电平的控制信号CONTROL。

由于在所述继电器300的线圈未得电时，所述继电器300的第一常闭触点闭合，所述第一常开触点断开，所述第一输出端C1和所述第一输入端K11相连通；所述第二常闭触点闭合，所述第二常开触点断开，所述第二输出端C2和所述第三输入端K21相连通。

此时，所述继电器300接收所述低电平的控制信号CONTROL，使得所述继电器300第一常闭触点、第一常开触点、第二常闭触点以及的第二常开触点继续保持当继电器300线圈不得电时的状态，所述第一输出端C1和所述第一输入端K11相连通，接收并输出具有正极性的第一测试信号A，所述第二输出端C2和所述第三输入端K21相连通，接收并输出具有负极性的第二测试信号K，所述测试装置与所述待测模块正确匹配，可正常进行测试操作。

若所述继电器300的第一输出端C1连接至待测模块的第二输入端口BL_K，且所述继电器300的第二输出端C2连接至待测模块的第一输出端口，由于连接端极性不相匹配，所述驱动模块100无升压作用，将所述供电电压VIN经所述第一输出端A2直接输出，得到第一测试信号A，所述第一测试信号A的电平值与供电电压VIN的电平值相同为12V。

所述比较器U1同相输入端电压低于所述比较器U1反相输入端电压，所述比较器U1输出为低电平。所述与门U2第一输入端由于连接至所述比较器U1的输出端，所述比较器U1的第一输入端为低电平，所述与门U2第一输入端同样也为低电平，由与门U2的逻辑关系可知，所述与门U2的输出端必然也为低电平。由于所述与门U2的第二输入端连接至所述与门U2的输出端，所述与门U2的第二输入端电压被拉至低电平。对应地，所述非门U3的输入端为低电平，所述非门U3的输出端输出高电平的控制信号CONTROL。

由于在所述继电器300的线圈未得电时，所述继电器300的第一常闭触点闭合，所述第一常开触点断开，所述第一输出端C1和所述第一输入端K11相连通；所述第二常闭触点闭合，所述第二常开触点断开，所述第二输出端C2和所述第三输入端K21相连通。

此时，所述继电器300接收所述高电平的控制信号CONTROL，使所述第一常闭触点断开，所述第一常开触点闭合，所述继电器300经由所述第一输出端C1输出具有负极性的第二测试信号K；所述第二常闭触点断开，所述第二常开触点闭合，所述继电器经由所述第二输出端C2输出具有正极性的第一测试信号A，所述测试装置与所述待测模块正确匹配，可正常完成点灯操作。

图2示出了本发明第一实施例提供的测试装置中控制模块的等效电路图。如图2所示，等效电路图中的波形发生器U4的输出端Q对应为图1中控制模块中比较器U1的输出端，所述波形发生器U4例如输出频率5Hz、占空比50％的方波。所述波形发生器U4的输出与图1中比较器U1输出为高电平时等效。

图3示出了图2中示波器的显示情况。如图3所示，波形图中示出了图2中非门U3的输出波形，从图中可以看出，当图2中比较器U1输出为高电平，所述非门U3的输出持续保持为高电平，由此用实验验证了前文的理论论证过程。

相对于现有技术，本发明提供的测试装置及检测方法，由于所述测试装置可以实现极性的自动匹配，其在与待测模块连接时，无论二者连接端极性是否匹配，通过本发明提供的检测方法均可以正常完成测试操作，避免了现有技术中由于操作人员连接错误造成测试装置无法正常使用，以及由此带来的工作效率降低的问题。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。