一种柔性面板的检测装置及检测方法与流程

本发明涉及检测领域，特别涉及一种柔性面板的检测装置及检测方法。

背景技术：

目前柔性主动矩阵发光二极体面板(Flexible AMOLED，后简称柔性面板)制程中发现有部分不良产品在单元测试中(Cell Test)检测为良品，但是在模组检测或者终端客户检测过程中，就有一些点/线不良产生，这个现象在柔性面板行业比较常见，其主要影响是造成了模组材料(COF/FPC/IC/偏光板等材料)的浪费，如果出货到终端客户，则造成客户投诉风险。

为解决上述缺陷，有必要提出一种新的柔性面板的检测装置及检测方法。

技术实现要素：

本发明提供的柔性面板的检测装置结构简单，能够准确地检测出柔性面板中的不良产品，避免在模组检测或终端客户检测过程中出现点/线不良的产生，有效地避免偏光板的浪费，也降低客户投诉的风险。

为实现上述目的，本发明提供一种柔性面板的检测装置，其中，所述检测装置包括：

点灯机，其包括：点灯机本体和曲面状的点灯机背板，所述点灯机本体与所述点灯机背板的一侧面相连接，所述点灯机背板远离所述点灯机的表面为曲面且用以安置待检测的柔性面板；

探针，其设置于所述点灯机且用以将待检测的所述柔性面板与所述点灯机背板相连接。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述点灯机背板的曲面表面的弯曲程度小于或等于所述柔性面板所能承受的最大弯曲程度。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述检测装置还包括磁环，所述磁环设在所述柔性面板远离所述点灯机背板的表面上。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述磁环外包裹有缓冲层。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述缓冲层由铁氟龙制成。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述点灯机背板上设有多个贯穿其上下表面的通孔。

如上所述的柔性面板的检测装置，其中，所述点灯机背板设有紧固治具，所述探针设置于所述紧固治具。

本发明还提供一种柔性面板的检测方法，该检测方法操作步骤简单，能够准确地检测出柔性面板中的不良产品，避免在模组检测或终端客户检测过程中出现点/线不良的产生。

为实现上述目的，本发明提供一种柔性面板的检测方法，其中，使用如上所述的检测装置对柔性面板进行检测，所述检测方法包括以下步骤：

S1)：将所述柔性面板设于所述点灯机背板的曲面表面；

S2)：将探针连接所述柔性面板；

S3)：点亮点灯机来对所述柔性面板进行检测。

如上所述的检测方法，其中，在步骤S1)中，通过真空吸附将所述柔性面板吸附在所述点灯机背板的曲面表面。

如上所述的检测方法，其中，在步骤S3)中，点亮所述点灯机后利用包裹缓冲层的磁环对所述柔性面板表面碾压来对所述柔性面板进行检测。

本发明的检测装置结构简单，能够准确地检测出柔性面板的隐形点/线的不良产品，有效避免免偏光板的浪费，也降低客户投诉的风险。同时该检测装置可以有效地避免在检测过程中对柔性面板造成损害。

本发明的检测方法操作步骤简单，采用该检测方法能够准确地检测出柔性面板中的不良产品，尤其能够准确地检测出柔性面板中的隐形点/线不良产品，有效避免在模组检测或终端客户检测过程中出现点/线不良的产生，该检测方法通过真空吸附将所述柔性面板吸附在所述点灯机背板上，可以实现稳定地将柔性面板设置在点灯机背板上，可防止在检测过程中对柔性面板造成损伤。

附图说明

在此描述的附图仅用于解释目的，而不意图以任何方式来限制本发明公开的范围。另外，图中的各部件的形状和比例尺寸等仅为示意性的，用于帮助对本发明的理解，并不是具体限定本发明各部件的形状和比例尺寸。本领域的技术人员在本发明的教导下，可以根据具体情况选择各种可能的形状和比例尺寸来实施本发明。

图1为本发明的柔性面板的检测装置的结构示意图；

图2为根据本发明中的一实施例的柔性面板的结构示意图；

图3为本发明的柔性面板的检测方法的流程示意图。

具体实施方式

结合附图和本发明具体实施方式的描述，能够更加清楚地了解本发明的细节。但是，在此描述的本发明的具体实施方式，仅用于解释本发明的目的，而不能以任何方式理解成是对本发明的限制。在本发明的教导下，技术人员可以构想基于本发明的任意可能的变形，这些都应被视为属于本发明的范围，下面将结合附图对本发明作进一步说明。

图1至图3分别为本发明的柔性面板的检测装置的结构示意图、根据本发明中的一实施例的柔性面板的结构示意图以及柔性面板的检测方法的流程示意图。

如图1所示，本发明的柔性面板的检测装置包括：点灯机1和探针2，其中，点灯机1包括点灯机本体11和曲面状的点灯机背板12，点灯机本体11与点灯机背板12的一侧面相连接，点灯机背板12远离点灯机本体11的表面为曲面且用以安置待检测的柔性面板3，探针2与柔性面板3的端子部31相连接用以将待检测的柔性面板3与点灯机背板12相连接。

具体地，点灯机背板12的曲面表面的弯曲程度小于或等于柔性面板3所能承受的最大弯曲程度，即弯曲的点灯机背板12的曲率半径小于或等于柔性面板3的最大曲率半径(柔性面板3最大弯曲状态下所对应的曲率半径)，柔性面板3所能承受的最大弯曲程度为当柔性面板3超过其最大弯曲程度时，柔性面板3受到损害，影响其正常工作状态，也就是弯曲的点灯机背板12的曲率半径小于或等于含有柔性面板3的终端产品弯曲半径，从而实现准确地检测出柔性面板中的隐形点/线不良产品，尤其能够准确地检测出柔性面板3在其终端产品中能否正常地工作。进一步地，在上文中提到的点灯机本体11与点灯机背板12之间的连接以及探针2与端子部31之间的连接是指可传输电信号式的电连接，从而使得电信号能够在本发明的检测装置中顺利地传输。

具体地，如图2所示，在本发明的一实施例中，柔性面板3包括柔性基板31、阵列基板32(TFT Array)、支撑柱33、阳极34、有机发光层35(organic multi-layers)、阴极36、保护层37(encapsulation，或称为封装层/包装层)，其中柔性基板31为柔性聚酰亚胺基板(柔性PI基板)，阵列基板32设于柔性基板31上，支撑柱33设于阵列基板32用来支撑阳极34，有机发光层35设于阳极34和阴极36之间，保护层37覆盖在阴极36，并包裹在阳极34的两侧。当阳极34和阵列基板32之间存在颗粒38(也可能为金属粒状物)时，其可能会给柔性面板3带来隐形点/线不良产品发生，但在现在技术中的柔性面板检测过程中，并不能检测出柔性面板3中的隐形点/线不良产品，在一具体实施例中，柔性面板3的厚度为0.5mm，即柔性面板3的保护层37的上表面到柔性基板31的下表面之间的距离为0.5mm。

进一步地，本发明的检测装置还包括磁环4，磁环4设在柔性面板3上，在检测过程中，磁环4在柔性面板3表面来回碾压，当柔性面板3的阳极34和阵列基板32之间存在颗粒38时，由于磁环4对颗粒38的吸附作用，透过柔性面板3内的颗粒38等异物，会进一步地造成柔性面板3的低温多晶硅TFT开关(LTPS TFT开关)动作异常，检测人员会在观察侧A更加准确地检测出柔性面板3产生灰阶现象，从而准确地检测出柔性面板3的隐形点/线不良产品。

进一步地，磁环4外包裹有缓冲层5，从而防止磁环4在碾压柔性面板3的保护层37时对柔性面板3造成损害的发生，进一步地增加在检测过程中防止对柔性面板3造成损害，在一具体实施例中，缓冲层5采用铁氟龙材料制成，当然缓冲层5在满足其效果的前提下也可采用其他材料制成，在此不做具体限制。

进一步地，点灯机背板12上设有多个贯穿其上下表面的通孔121，将柔性面板3设于点灯机背板12上，其中，柔性面板3与点灯机背板12保持相同的弯曲程度，通过通孔121与抽气泵相连，从而实现通过真空吸附将柔性面板3稳定地吸附在点灯机背板12上，采取这样的设置方式可以有效地防止在检测过程中对柔性面板3造成损害，即本发明通过在弧形的金属点灯机背板12表面安装多孔质真空吸附平台将柔性面板3吸附在点灯机背板12上，在一实施例中，点灯机背板12和点灯机本体11之间设有斜柱122，以稳定设置点灯机背板12。

进一步地，探针2稳定地设置在紧固治具21上，紧固治具21稳定地设置在点灯机背板12上，探针2穿过紧固治具21与柔性面板3的端子部31相连接，探针2用以将待检测的柔性面板3与点灯机背板12相连接，从而实现传输电信号的目的。

本发明的柔性面板的检测装置结构简单，能够实现准确地检测出柔性面板中的不良产品，避免在模组检测或终端客户检测过程中出现点/线不良的产生，有效地避免偏光板的浪费，也降低客户投诉的风险。

如图1和3所示，本发明的柔性面板的检测方法包括：以下步骤：

S1)：将柔性面板3设于点灯机背板12的曲面表面；

S2)：将探针2连接到柔性面板3；

S3)：点亮点灯机1对柔性面板3进行检测。

具体地，在本发明中，在步骤S1)中，通过真空吸附将柔性面板3吸附在点灯机背板12上，具体地，如上所述，点灯机背板12上设有多个通孔121，将柔性面板3设于点灯机背板12的的曲面表面上，其中，柔性面板3与点灯机背板12保持相同的弯曲程度，通过通孔121与抽气泵相连，从而实现通过真空吸附将柔性面板3稳定地吸附在点灯机背板12上，采取这样的设置方式可以有效地防止在检测过程中对柔性面板3造成损害，即本发明通过在弧形的金属点灯机背板12表面安装多孔质真空吸附平台将柔性面板3吸附在点灯机背板12的曲面表面上，从而实现安全地将柔性面板3设于点灯机背板12上，即有效地防止在检测过程中对柔性面板3造成损害。

进一步地，在步骤S3)中，点亮点灯机1后利用包裹缓冲层5的磁环4对柔性面板3的表面碾压来对柔性面板3进行检测，具体地，如上所述，磁环4设在柔性面板3上，在检测过程中，磁环4在柔性面板3表面来回碾压，当柔性面板3的阳极34和阵列基板32之间存在颗粒38时，由于磁环4对颗粒38的吸附作用，透过柔性面板3内的颗粒38等异物，会进一步地造成柔性面板3的低温多晶硅TFT开关(LTPS TFT开关)动作异常，检测人员会在观察侧A更加准确地检测出柔性面板3产生灰阶现象，从而准确地检测出柔性面板3的隐形点/线不良产品，进一步地，磁环4外包裹有缓冲层5，从而防止磁环4在碾压柔性面板3的保护层37时对柔性面板3造成损害的发生，进一步地增加在检测过程中防止对柔性面板3造成损害，在一具体实施例中，缓冲层5采用铁氟龙材料制成，当然缓冲层5在满足其效果的前提下也可采用其他材料制成，在此不做具体限制。

本发明的柔性面板的检测过程具体为：在弧形金属点灯机背板12的表面上安装多孔质真空吸附平台，将柔性面板3放置在真空吸附平台上，柔性面板3吸附牢固后，探针2连接柔性面板3的端子部31，点亮点灯机背板12后利用包裹铁氟龙的磁环4在柔性面板3的表面碾压，透过柔性面板3内的颗粒38等异物，让LTPS TFT开关作动异常，从而实现检测出柔性面板3隐性点/线不良的产品。

本发明的检测方法操作步骤简单，采用该检测方法能够准确地检测出柔性面板3中的不良产品，尤其能够准确地检测出柔性面板3中的隐形点/线不良产品，有效避免在模组检测或终端客户检测过程中出现点/线不良的产生，该检测方法通过真空吸附将所述柔性面板3吸附在点灯机背板12上，可以实现稳定地将柔性面板3设置在点灯机背板12上，可防止在检测过程中对柔性面板3造成损伤。

虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。