技术特征：
技术总结
本发明涉及一种电阻测试装置，包括底座、支承部、固定机构及测试机构，支承部设置于底座，固定机构包括升降组件、固定部及压持部，升降组件用于驱动固定部沿垂直于支承面的方向远离或靠近支承面，压持部用于压紧产品；测试机构包括探针固定座、第一驱动件及装设于探针固定座的至少两个探针，探针固定座活动连接于固定部朝向支承面的一侧，至少两个探针相对支承面呈不同方向延伸，第一驱动件设置于固定部远离支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的探针固定座沿预设方向移动。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。
技术研发人员：刘铭
受保护的技术使用者：广东长盈精密技术有限公司
技术研发日：2017.05.02
技术公布日：2017.09.29