本发明涉及背光检测技术领域，特别是涉及了一种扩散膜遮瑕性的测试方法。
背景技术：
背光的薄型化及高亮要求，及无边框背光的出现会导致背光异物较普通背光增多，另外如果搭配复合膜其雾度胶普通增加低，因此需搭配高雾度的扩散膜。因此各家扩散制造上纷纷推出高遮瑕性的扩散膜，但目前对于扩散膜遮瑕性没有很好的测试方法，而若扩散膜遮瑕性不足，则会导致如下问题：（1）导光板网点的规律排布，经点亮后因遮瑕性不足导致背光及模组可见规律纹路；（2）背光异物，因遮瑕性不足导致透点，亮点。
因此，需要提供一种测试方法可为扩散膜的开发导入提供标准。
技术实现要素：
为了弥补已有技术的缺陷，本发明提供一种扩散膜遮瑕性的测试方法。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
一种扩散膜遮瑕性的测试方法，包括以下步骤：
s1.制作雾度卡：在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案，所述图案包括若干横排及若干竖排，各横排之间的图案大小不同，各横排还设有表示该图案等级的标记；
s2.将上述雾度卡置于平面光源上，所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡；
s3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上；
s4：观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。
进一步地，所述透明基材为菲林片。
进一步地，所述图案为圆点或字符。
进一步地，所述图案为白色或黑色。
进一步地，所述平面光源是背光源或灯箱。
进一步地，所述步骤s3为：在所需测试的扩散膜上贴附设置增光膜获得复合膜，将复合膜置于雾度卡上。
本发明具有如下有益效果：
本发明通过观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即可测试扩散膜的遮瑕性，测试方便快速，成本低。
附图说明
图1为本发明雾度卡的结构示意图。
图中：1、透明基材，2、图案，3、标记。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明，实施例仅是本发明的优选实施方式，不是对本发明的限定。
一种扩散膜遮瑕性的测试方法，包括以下步骤：
s1.制作雾度卡：在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案，所述图案包括若干横排及若干竖排，各横排之间的图案大小不同，各横排还设有表示该图案等级的标记；优选地，在所述透明基材上从上至下各横排之间的图案依次减小，而每横排上的图案大小相同；优选地，所述图案为圆点或字符，但不局限于此；所述图案为白色或黑色，更优选为黑色。更优选地，所述图案为圆点，矩阵排列的圆点包括11个横排和11个竖排，在所述透明基材上从上至下各横排的圆点的半径分别为：0.30mm、0.20mm、0.10mm、0.08mm、0.07mm、0.06mm、0.05mm、0.04mm、0.03mm、0.02mm、0.01mm，各横排还设有表示该图案等级的数字标记，所述透明基材优选为菲林片，其图案的精准度更好，使用寿命更长。
s2.将上述雾度卡置于平面光源上，所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡。所述平面光源优选为背光源或灯箱，但不局限于此。
s3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上；或者在所需测试的扩散膜上贴附设置增光膜获得复合膜，将复合膜置于雾度卡上。
s4：观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。
需要说明的是，该测试方法同样适用于具有遮瑕功能的增光膜和偏光片。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本发明的保护范围之内。