两针一线测试治具的制作方法

本实用新型属于电路板测试治具技术领域，尤其涉及两针一线测试治具。

背景技术：

目前，市面上现有的Pcb测试治具均采用一个测试探针连接一个弹簧或漆包线和对应的测试接口(测试连接针)连接的结构。但是，随着pcb越来越精密，使用现有这些Pcb测试治具进行测试时，测试治具的测试探针与Pcb板上的测试点往往出现位置偏移、难以对准的情况，使测试越来越困难，测试准确度低，从而需要反复检测，以减少错检问题，测试操作十分麻烦，测试效率极低，更无法对规格类似的Pcb板进行测试，通用性较差。

技术实现要素：

为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一种可解决因待测试的Pcb板上测试点位置偏移而难以对准、无法测试的问题，测试准确度和效率高，操作简单、方便，通用性好，且结构简单，制作难度低、周期短、成本低的两针一线测试治具。

本实用新型解决现有技术问题所采用的技术方案为：

一种两针一线测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口；所述针盘的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，所述多条导电线的一端与针盘上受压下移的测试探针一一对应导通连接，另一端以两条以上为一组地连接在测试连接口内的一根测试连接针上；具体为：所述多条导电线的另一端可以以两条、三条、四条或五条为一组地连接在测试连接口内的一根测试连接针上。

进一步地，每条导电线穿设在线盘的一端设有连接触点，所述连接触点是复位弹簧或漆包线。

进一步地，所述复位弹簧的上端绕制有连接一体连接插入部，所述测试探针的下端设有防卡端头，所述防卡端头的横向宽度与连接插入部的插入孔孔径相适配、并大于复位弹簧的孔径；受压下移的测试探针的下端以可分离的方式一对一地插入连接插入部内，且防卡端头压在复位弹簧的孔口外侧，以实现与导电线导通连接。

进一步地，所述防卡端头是扁平端头或球体或半球体，与测试探针连接一体。

进一步地，所述测试探针是金属针，所述导电线为漆包线或OK线。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型通过上述技术方案，即可在测试中无论哪根测试探针接触到待测试的Pcb板上的测试点均可以完成测试，解决了传统测试治在测试时因待测试的Pcb板上测试点位置偏移而难以对准测试点、测试越来越困难，甚至无法测试问题，大大提高了测试准确度，测试操作十分简单、方便，测试效率也明显提高，同时可对规格类似的Pcb板测试，通用性好，而且结构简单，制作难度低、周期短、成本低。

【附图说明】

图1是本实用新型所述两针一线测试治具实施例的结构示意图；

图2是本实用新型所述两针一线测试治具实施例中测试探针与复位弹簧的连接结构示意图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1和图2中所示：

本实用新型实施例提供了一种两针一线测试治具，包括有针盘1、线盘2、测试连接口3；所述针盘1的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针4，所述线盘2上穿设间隔设置的多条导电线5，所述多条导电线5的一端与针盘1上受压下移的测试探针4一一对应导通连接，另一端以两条以上为一组地连接在测试连接口3内的一根测试连接针31上(如图1，所述多条导电线5的另一端可以以两条为一组地连接在测试连接口3内的一根测试连接针31上，当然也可以以三条、四条或五条为一组地连接在测试连接口3内的一根测试连接针31上。)。其中，所述测试探针4可以是金属针，所述导电线5为漆包线或OK线。每条导电线5穿设在线盘2的一端设有连接触点6，所述连接触点6可以是复位弹簧(当然也可以是漆包线)，所述复位弹簧的上端绕制有连接一体连接插入部61，所述测试探针4的下端设有防卡端头41，所述防卡端头41可以是扁平端头，该扁平端头是采用工具在测试探针4的下端打扁形成的扁平外凸端头，其与测试探针4连接一体(当然防卡端头41也可以是球体或半球体，与测试探针4连接一体，例如所述球体或半球体与测试探针4通过数控车床加工一体成型。)；所述防卡端头41的横向宽度与连接插入部61的插入孔孔径相适配、并大于复位弹簧的孔径；受压下移的测试探针4的下端以可分离的方式一对一地插入连接插入部61内，且防卡端头41压在复位弹簧的孔口外侧，以实现与导电线5导通连接。

以上内容是结合具体的优选技术方案对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。