技术总结
本实用新型涉及电能表技术领域，尤其涉及一种MCU上电检测电路，它包括第一电阻R117、第二电阻R119、电容C23以及限压二极管VD6，所述第一电阻R117一端、第二电阻R119一端、电容C23一端以及限压二极管VD6的正极均与MCU连接，所述第一电阻R117的另一端与外部电源连接，所述第二电阻R119的另一端接地，所述电容C23的另一端接地，所述限压二极管VD6的负极与内部电源连接。这种MCU上电检测电路成本较低、电路简单且隐患较低。
技术研发人员：金海波;童赳健;毛犇;赖济民;胡钱波
受保护的技术使用者：宁波三星医疗电气股份有限公司
技术研发日：2017.11.01
技术公布日：2018.06.19