本实用新型涉及老化装置
技术领域：
，具体涉及一种电子元器件老化装置。
背景技术：
：目前，科技创新日新月异，科技感十足的现代电子产品越来越多的出现在了普通老百姓的日常生活中，而电子产品则是由大量的电子元器件所组成，电子元器件需求量巨大。为了对电子元器件进行老化测试，要用高温箱来提高试验环境温度。最终使箱内电子元器件的绕组温度在30天的试验周期内达到理论试验温度值来模拟电子元器件的10年连续工作寿命。其中，热态温度的测量，电阻法测量、热电偶法测量等。GB4706.1规定，热态绕组温度，如电器产品中的电动器具、变压器、待测电子元器件、带线圈的控制器等，其热态温度主要由线圈、绕组、铁芯引起，为了准确的测量数据，采用电阻法测量。而在现有技术中，用电阻法测量温度的原理都是一样的，一般金属导体具有一定的电阻温度系数，电阻率随温度上升而增加，电阻法测量即利用导体电阻随温度变化的这一特性来实现的温度间接测量方法。而现在普遍用的是二线电阻法测量绕组电阻，但是这种能够测量方式存在的问题是误差比较大，特别是电阻值越小，误差更大，这就会影响到测量的温度值，导致不准确，从而对整个老化测试产生误差较大的结果。因此，提供一种能够精确测量电阻值的电子元器件老化装置是很有必要的。技术实现要素：本实用新型的目的在于克服现有技术由于电阻测量不准确导致老化测试结果误差较大的不足，提供一种新型的电子元器件老化装置。该装置的测量装置采用的四线式电阻测量电路来替代传统的二线式电阻测量电路，测量电阻值精确，提升了测试结果准确性，从而提高了整个装置的可靠性。本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：一种电子元器件老化装置，包括:稳压电源，温度控制器，待测电子元器件，测量装置，数字万用表；稳压电源的输入端与外部市电直接连接，稳压电源输出端与待测电子元器件连接；待测电子元件与测量装置，温度控制器，数字万用表连接。上述方案中，为优化，进一步地，所述测量装置是电阻式测量装置。进一步地，所述电阻式测量装置的测量电路是四线式电阻式电路。进一步地，所述电阻式测量装置的电阻是可调电阻。进一步地，所述待测电子元器件外面设置外罩，外罩为空心箱体，待测电子元器件位于空心箱体内控部分。进一步地，所述空心箱体处设置有温度控制器，温度控制器用于调整空心箱体内的温度。进一步地，所述待测电子元器件与温度控制器之间，以及待测电子元器件与测量装置之间均设置有串联的开关和LED指示灯。一般金属导体具有一定的电阻温度系数，电阻率随温度上升而增加，电阻法测量即利用导体电阻随温度变化的这一特性来实现的温度间接测量方法。如果分别测出常温和发热状态下绕组线圈的电阻值，绕组线圈的热态温度可由下式计算：t2＝R2/R1(234.5+t1)-234.5式中:R1—试验开始时的绕组电阻,(冷态电阻)Ω；R2—热态时的绕组电阻，(热态电阻)Ω；t1—试验开始时的环境温度，℃；t2—热态时的环境温度，℃；k—对铜绕组取234.5对铝绕组取225。因此，只要确定发热状态下绕组的电阻值，就能确定绕组的热态温度，这时温度的测量就变成了电阻的测量。①将待测电子元器件放入箱体内，引出外连接线，测量出待测电子元器件绕组的冷态电阻值R1，并记录下高温箱内的初态环境温度t1值；②给待测电子元器件通电并使电源电压稳定，找出理论试验温度值，对箱体也加温使箱体内温度缓慢上升以促使待测电子元器件绕组温度上升；③4小时后测量出待测电子元器件绕组热态电阻值R2，用公式t2＝R2/R1(234.5+t1)-234.5求出绕组热态温度值，与理论试验温度比较，再相应地调整箱体内温度；④在以后每隔4小时测一次待测电子元器件绕组热态电阻值,同样求出待测电子元器件绕组温度值，再与理论试验温度比较再相应地调整箱体内温度，最终在24小时后使箱内的待测电子元器件达到理论试验温度值；⑤24小时后，保证箱体内温度在24小时所定值的±2℃内进行周期为30天的试验。如图2和图3所示，待测元器件的绕组线圈等效于电阻Rx，四线冷热态电阻测量是将数字多用表的恒流源电流流入被测电阻Rx的两根电流线和数字多用表的电压测量端的两根电压线分离开，使得数字多用表测量端的电压不再是恒流源两端的直接电压，四线冷热态电阻测量法比通常的二线测量法多了两根馈线，断开了电压测量端与恒流源两端连线。避免了用二线法测量时馈线RL1和RL2或馈线RL1和RL2和引线(插头线等)的电阻，由于电压测量端与恒流源端断开，恒流源与被测电阻Rx、馈线RL1、RL2构成一个回路。送至电压测量端的电压只有Rx两端的电压，馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。因此，馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响。馈线电阻RL3和RL4对测量有影响，但影响很小，由于数字多用表的输入阻抗(MΩ级)远大于馈线电阻(Ω级)，所以，四线冷热态电阻测量法测量电阻的精度很高。本实用新型的有益效果是：本实用新型的测量装置采用的四线式电阻测量电路来替代传统的二线式电阻测量电路，具有测量冷热态电阻值精确的优点，提升了测试结果准确性，从而提高了整个装置的可靠性。附图说明图1为本实用新型的总构成图；图2为本实用新型的测量装置电路对比电路-二线式电阻测量电路图3为本实用新型的测量装置电路-四线式电阻测量电路；具体实施方式下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。实施例1如图1所示，本实施例提供一种电子元器件老化装置，包括:稳压电源，温度控制器，待测电子元器件，测量装置，数字万用表；稳压电源的输入端与外部市电直接连接，稳压电源输出端与待测电子元器件连接；待测电子元件与测量装置，温度控制器，数字万用表连接。具体地，所述测量装置是电阻式测量装置。具体地，所述电阻式测量装置的测量电路是四线式电阻式电路。具体地，所述电阻式测量装置的电阻是可调电阻，根据不同的待测元器件的需求进行调整电阻值。具体地，所述待测电子元器件外面设置外罩，外罩为空心箱体，待测电子元器件位于空心箱体内空部分。具体地，所述空心箱体处设置有温度控制器，温度控制器用于调整空心箱体内的温度。具体地，所述待测电子元器件与温度控制器之间，以及待测电子元器件与测量装置之间均设置有串联的开关和LED指示灯，用于控制测试过程中，测量回路的关断和开通。实施方式：①将待测电子元器件放入箱体内，引出外连接线，测量出待测电子元器件绕组的冷态电阻值R1，并记录下高温箱内的初态环境温度t1值；②给待测电子元器件通电并使电源电压稳定，找出理论试验温度值，对箱体也加温使箱体内温度缓慢上升以促使待测电子元器件绕组温度上升；③4小时后测量出待测电子元器件绕组热态电阻值R2，用公式t2＝R2/R1(234.5+t1)-234.5求出绕组热态温度值，与理论试验温度比较，再相应地调整箱体内温度；④在以后每隔4小时测一次待测电子元器件绕组热态电阻值,同样求出待测电子元器件绕组温度值，再与理论试验温度比较，再相应地调整箱体内温度，最终在24小时后使箱内的待测电子元器件达到理论试验温度值；⑤24小时后，保证箱体内温度在24小时所定值的±2℃内进行周期为30天的试验。而测量过程的实施方式如下，如图2，图3所示，待测元器件的绕组线圈等效于电阻Rx，用二线式测量法测试时，因为测量时用的是万用表测量,而万用表是通过测量恒流源电流流过被测电阻Rx所产生的电压实现的，测试时，恒流源电流通过Hi－Lo端和测量馈线送至被测电阻Rx，电压测量端S1、S2通过短路线接至Hi－Lo端，万用表实际测量到的电阻值包括被测电阻Rx及馈线电阻RL1和RL2。四线冷热态电阻测量是将数字多用表的恒流源电流流入被测电阻Rx的两根电流线和数字多用表的电压测量端的两根电压线分离开，使得数字多用表测量端的电压不再是恒流源两端的直接电压。四线冷热态电阻测量法比通常的二线测量法多了两根馈线，断开了电压测量端与恒流源两端连线。避免了用二线法测量时馈线RL1和RL2或馈线RL1和RL2和引线(插头线等)的电阻，由于电压测量端与恒流源端断开，恒流源与被测电阻Rx、馈线RL1、RL2构成一个回路。送至电压测量端的电压只有Rx两端的电压，馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。因此，馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响。馈线电阻RL3和RL4对测量有影响，但影响很小，由于数字多用表的输入阻抗(MΩ级)远大于馈线电阻(Ω级)，所以，四线冷热态电阻测量法测量电阻的精度很高。对于两种测量电阻方式进行了试验，结果如下：R(Ω)1005010510.50.1二线102.452.712.16.923.951.811.42四线100.550.310.15.181.080.530.12对测量结果的比较可以看出，对于100Ω的电阻，二线法测量相对误差在2％左右，随着电阻值变小，测量误差越来越大，原因主要是馈线电阻的影响；用四线冷热态电阻法，测量5Ω电阻的相对误差都在2％以下。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围，则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。当前第1页1 2 3