一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统的制作方法

本实用新型涉及微波射频电路领域，尤其涉及一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统。

背景技术：

晶体振荡器通常需要进行高低温性能指标测试。在高低温测试过程中，需要在不同的温度点测试晶体振荡器的频率、输出功率、谐波抑制等技术参数。单个人工测试时生产效率低下，并且测试结果的系统性分析差。采用批量化的自动化测试方法可以在高低温箱中一次放置多个晶体振荡器同时进行高低温实验，测试时通过计算机控制提取多个晶体振荡器的频率、输出功率、谐波抑制等参数，并可以将提取的结果根据需要做出分析。自动化测试系统可以极大的节省人力和时间，提高测试效率。

技术实现要素：

本实用新型针对晶体振荡器的自动化测试，提供了一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统。

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：

一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统，包括高低温试验箱、测试板、功率计、频率计、频谱分析仪和计算机，所述测试板放置于高低温试验箱内，计算机通过温度控制线控置高低温试验箱的工作温度，通过开关控制线控置测试板上的射频开关，测试板输出的总信号输出线接至频率计、功率计、频谱分析仪，计算机通过GPIB接口读取频率计、功率计及频谱仪等各仪器设备所测量的结果。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：

本实用新型一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统是实现了晶体振荡器的自动化高低温测试，提高生产效率，测试结果直接存储分析，实现系统化分析。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型单块测试板结构图

图2是本实用新型多块测试板扩展后结构图

图3是本实用新型晶体振荡器高低温自动化测试系统框图

图4是本实用新型测试流程图

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

本实用新型一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统，包括高低温试验箱、测试板、功率计、频率计、频谱分析仪和计算机，测试板放置于高低温试验箱内，测试板上安插有所需测试的晶体振荡器，电源线为所需测试的晶体振荡器提供电源，每一个晶体振荡器的输出端与射频开关相连。测试板上有五个四路射频开关，计算机通过开关控制线控制射频开关的开和闭状态，开关控制线选择待测试的晶体振荡器，测试板1与另外三块测试板接入射频开关6，通过射频开关6选择测试哪一块测试板上的晶体振荡器。测试板上的射频开关选择槽位上的晶体振荡器。测试时只有一路射频开关闭合，并测试这个晶体振荡器的技术参数。如1号槽位相连的开关闭合，该槽位上的晶体振荡器被测试，计算机读取频率计、功率计、频谱分析仪测量的频率、功率、谐波抑制等参数，测试完成1号槽位上晶体振荡器的所有性能指标后进行下一个槽位的晶体振荡器的性能指标。

图3为晶体振荡器高低温自动化测试系统框图。电源线为晶体振荡器提供电源。计算机通过温度控制线设置高低温试验箱的工作温度，通过开关控制线设置需要测试的晶体振荡器编号。测试板输出的总信号输出线接至频率计、功率计、频谱分析仪等测试仪器。晶体振荡器的技术参数有频率、功率、谐波抑制等，可以分别由频率计、功率计、频谱分析仪等测试仪器来测试。计算机通过GPIB接口读取频率计、功率计及频谱分析仪等各仪器设备所测量的结果并保存。

图4为具体测试流程。将所有晶体安装在带编号的槽位上，放入高低温试验箱，到达一定温度时，温度稳定20min后开始测试。开关控制选择1号槽位的晶体振荡器输出，计算机读取功率计、频率计、频谱分析仪等各仪器分别测量的输出功率、输出频率、谐波抑制等性能指标。1号槽位晶体振荡器性能指标测试完成后，将1号槽位晶体振荡器的输出开关断，将2号槽位的输出开关打开，重复测试过程，直至测完所有晶体振荡器的参数。每个参数测试完成后的结果都存于计算机。