1.一种测试效率高的集成电路测试装置，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)的上端滑动连接有导向座(3)，所述导向座(3)的前端通过螺纹连接有铰接钉(4)，所述铰接钉(4)的外侧铰接有挡块(5)，所述导向座(3)内滑动连接有支撑板(6)，所述支撑板(6)的前端设置有支撑凸条(12)，所述支撑板(6)的上端粘合有橡胶垫(7)，所述橡胶垫(7)的上端摆放有集成电路板(8)，所述集成电路板(8)与导向座(3)滑动连接，所述导向座(3)与挡块(5)接触，所述支撑板(6)的下端固定连接有导杆(9)，所述导杆(9)的外侧套装有弹簧(10)，所述支撑台(1)的上端固定连接有支撑架(13)，所述支撑架(13)内开设有通孔(14)，所述通孔(14)内转动连接有螺纹杆(15)，所述支撑架(13)的中部下端固定连接有气缸(17)，所述气缸(17)设置有气缸杆(18)，所述气缸杆(18)的下端通过螺栓安装有连接套(19)，所述连接套(19)的下端固定连接有测试板(20)。
2.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述支撑台(1)上开设有导向孔(2)，所述导向孔(2)的数量为两个，且每个导向孔(2)内均滑动连接有导杆(9)。
3.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述导向座(3)的数量为两个，且导向座(3)在支撑台(1)的上端呈对称分布，且每个导向座(3)内均通过螺纹连接有螺纹杆(15)。
4.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述挡块(5)内开设有铰接孔(51)，所述铰接孔(51)与铰接钉(4)转动连接，所述挡块(5)的下端与支撑凸条(12)接触。
5.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述弹簧(10)的上端与支撑板(6)的下端接触，所述弹簧(10)的下端与支撑台(1)的上端接触，所述导杆(9)的下端通过螺纹连接有第一限位环(11)。
6.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述螺纹杆(15)的数量为两个，且每个螺纹杆(15)的外侧通过螺纹连接有第二限位环(16)，所述第二限位环(16)与支撑架(13)的表面接触。