一种LED组件的光学测试方法与流程

本发明属于led测试技术领域，具体涉及一种led组件的光学测试方法。

背景技术：

如今，在我国现代社会经济不断发展的背景下，led产业也因此获得了良好的发展前景，目前已经在人们的日常生产和生活中实现了非常广泛的应用。主要是因为led照明产品在实际的使用过程中可以发挥出非常明显的优势，不但使用寿命较长，同时还能减少对能源的使用。在led照明产品中，led灯带属于其中非常重要的组成部分，led灯带是由多个led灯组件连接而成，为保证产品质量，在出厂前需要对led灯组件进行测试。

现有技术中，对于led灯组件的测试一般都是通过可拆卸的夹具固定，每检测一次，就需要进行一次拆分和安装，测试效率低。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提供一种led组件的光学测试方法，本发明通过探测模块获得待测led的状态后将其发送至分析模块中，由分析模块分析出所述待测led是否正常，并通过中控模块反馈，无需人工对待测led进行判断，方便快捷又节约成本。

本发明的技术方案为：

一种led组件的光学测试方法，其特征在于，包括测试系统，所述测试系统包括测试夹具、探测模块、接收模块、存储模块、分析模块、记录模块、中控模块，所述中控模块分别与所述探测模块、接收模块、存储模块、分析模块、记录模块连接；包括以下具体步骤：

s1.将所述预设闪烁次数值存入存储模块；

s2.将待测led放入测试夹具，送入测试系统；

s3.开启待测led，探测模块感应所述待测led的状态，并将其发送至接收模块；

s4.所述接受模块将其所述待测led的状态信息发送至记录模块与所述分析模块，由分析模块分析所述待测led是否正常，当所述待测led闪烁时，由中控模块控制进行步骤s5；当所述待测led正常时，由中控模块控制进行步骤s6；

s5.当所述待测led闪烁时，所述记录模块记录所述待测led闪烁的次数，并将其发送至所述分析模块，所述分析模块在所述述记录模块记录到的待测led闪烁的次数超过所述存储模块存储的预设闪烁次数值时分析出所述待测led不正

常，将结果发送中控模块；

s6.当所述待测led正常时，所述分析模块分析出所述待测led正常，同时所述记录模块在所述待测led正常时记录所述待测led的波长信息,将结果发送中控模块；

s7.由中控模块将测试结果发送给智能终端。

进一步的，所述测试夹具包括连接部，所述连接部两侧分别设有测试部和安装部；

所述测试部的中部设有测试槽，所述测试槽的槽口两侧对称设有导电端子；所述导电端子与测试槽倾斜连接。

本发明中，将led灯组件放置在测试槽中，通过与测试槽槽口设置的导电端子接触，实现导通发亮，可送入led光学测试设备中进行光学性能测试。

进一步的，所述测试槽的侧面对称设有铜片，所述铜片与导电端子连接，将铜片导电，可保证导电端子的电性连通。

进一步的，所述导电端子为铜端子。

进一步的，所述导电端子与测试槽之间的角度为110-135°。可用于多种不同宽度的led灯组件的测试。

进一步的，所述测试槽的槽口对称设有弧形口，便于安放和取出led灯组件。

进一步的，所述连接部的侧面对称设有安装孔。

进一步的，所述安装孔上连接有夹片部。

进一步的，所述夹片部包括连接孔，所述连接孔与安装孔对应设置。优选的，所述连接孔与安装孔通过螺栓连接。

通过安装孔的设置，可以根据led灯组件的高度设置夹片部的位置，更有利于固定led灯组件。

进一步的，所述夹片部为弹性夹片部，可实现led灯组件的固定和拆分。

进一步的，所述安装部的中部设有安装槽，所述安装槽连接有底座，可以夹具整体提供稳定支撑，更利于放入led光学测试设备时保持稳定。

本发明通过导电端子与弹性夹片部配合，可以实现led灯组件在光学测试的过程中易于固定和拆分，有效提高了测试的效率。

本发明测试方法，通过探测模块获得待测led的状态后将其发送至分析模块中，由分析模块分析出所述待测led是否正常，并通过中控模块反馈，无需人工对待测led进行判断，方便快捷又节约成本。

附图说明

图1为本发明测试系统的示意图；

图2为本发明夹具的结构示意图；

图3为本发明夹具与底座连接的结构示意图；

图4为本发明夹具的结构示意图；

图5为本发明夹具的一实施例夹片部的结构示意图；

图6为本发明夹具的一实施例夹片部的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

一种led组件的光学测试方法，其特征在于，包括测试系统，所述测试系统包括测试夹具10、探测模块20、接收模块30、存储模块40、分析模块50、记录模块60、中控模块70，所述中控模块分别与所述探测模块、接收模块、存储模块、分析模块、记录模块连接；包括以下具体步骤：

s1.将所述预设闪烁次数值存入存储模块；

s2.将待测led放入测试夹具，送入测试系统；

s3.开启待测led，探测模块感应所述待测led的状态，并将其发送至接收模块；

s4.所述接受模块将其所述待测led的状态信息发送至记录模块与所述分析模块，由分析模块分析所述待测led是否正常，当所述待测led闪烁时，由中控模块控制进行步骤s5；当所述待测led正常时，由中控模块控制进行步骤s6；

s5.当所述待测led闪烁时，所述记录模块记录所述待测led闪烁的次数，并将其发送至所述分析模块，所述分析模块在所述述记录模块记录到的待测led闪烁的次数超过所述存储模块存储的预设闪烁次数值时分析出所述待测led不正

常，将结果发送中控模块；

s6.当所述待测led正常时，所述分析模块分析出所述待测led正常，同时所述记录模块在所述待测led正常时记录所述待测led的波长信息,将结果发送中控模块；

s7.由中控模块将测试结果发送给智能终端80。

进一步的，所述测试夹具10包括连接部1，所述连接部两侧分别设有测试部2和安装部3；

所述测试部的中部设有测试槽21，所述测试槽的槽口两侧对称设有导电端子22；所述导电端子与测试槽倾斜连接。

所述连接部1、测试部2、安装部3通过螺孔配合安装连接。

本发明中，将led灯组件放置在测试槽中，通过与测试槽槽口设置的导电端子接触，实现导通发亮，可送入led光学测试设备中进行光学性能测试。

进一步的，所述测试槽的侧面对称设有铜片23，所述铜片与导电端子连接，将铜片导电，可保证导电端子的电性连通。

进一步的，所述导电端子为铜端子。

进一步的，所述导电端子与测试槽之间的角度为110-135°。可用于多种不同宽度的led灯组件的测试。

进一步的，所述测试槽的槽口对称设有弧形口211，便于安放和取出led灯组件。

进一步的，所述连接部的侧面对称设有安装孔11。

进一步的，所述安装孔上连接有夹片部4。

进一步的，所述夹片部包括连接孔41，所述连接孔与安装孔对应设置。优选的，所述连接孔与安装孔通过螺栓连接。

通过安装孔的设置，可以根据led灯组件的高度设置夹片部的位置，更有利于固定led灯组件。

进一步的，所述夹片部为弹性夹片部，可实现led灯组件的固定和拆分。

进一步的，所述安装部的中部设有安装槽31，所述安装槽连接有底座5，可以夹具整体提供稳定支撑，更利于放入led光学测试设备时保持稳定。

本发明通过导电端子与弹性夹片部配合，可以实现led灯组件在光学测试的过程中易于固定和拆分，有效提高了测试的效率。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。需注意的是，本发明中所未详细描述的技术特征，均可以通过任一现有技术实现。