技术特征：
1.一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：在透射电镜中选择纳米粉晶样品的不同分散区域作为选区，每个选区均套上选区光阑进行电子衍射图的拍摄，从而得到多张电子衍射图；步骤2：根据物相数据标定每张电子衍射图中各衍射环代表的晶面指数和衍射角2θ，并利用图形处理软件得到各衍射环的辉度值y与晶面指数的关系图；步骤3：将多张电子衍射照片中各衍射环的辉度值求平均得到平均辉度值y1；步骤4：将具有等效晶面的衍射环对应的平均辉度值y1进行除权操作，从而得到各衍射环的实际辉度值y2；步骤5：构建与衍射角2θ和辉度值相关的偏移矫正函数；步骤6：根据偏移矫正函数求得的理论辉度值矫正各衍射环的实际辉度值y2，从而得到经偏移矫正后的偏移矫正辉度值y3；步骤7：将步骤6中两个最强的偏移矫正辉度值对应的晶面指数进行叉乘得到主暴露面的对应带轴，根据对应带轴和样品的晶相结构确定主暴露面的晶面指数，从而确定样品的主暴露面。2.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤1中的纳米粉晶为50纳米以下的纯相纳米粉晶。3.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤1中，多张电子衍射图进行拍摄时保持相机长度值不变。4.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤2中记载的图形处理软件采用digital microscope、photoshop。5.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤4具体为：将具有等效晶面的衍射环对应的平均辉度值y1进行下述除权操作得到实际辉度值y2：y2＝y1
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n其中，n为衍射环对应的等效晶面数目，等效晶面与衍射环对应的晶面具有相同衍射半径且相互不平行；不具有等效晶面的衍射环的实际辉度值y2为平均辉度值y1。6.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤5具体为：选取步骤1中最小号的选区光阑对应的电子衍射图，且电子衍射图中包含1
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5个晶粒，在电子衍射图中选择晶面指数为n倍关系且在同一直线上的多个同族衍射点，将多个同族衍射点的衍射角2θ和辉度值y进行数据拟合得到偏移矫正函数y＝f(2θ)。7.根据权利要求1所述的一种纳米粉晶主暴露面的电子衍射辅助测定方法，其特征在于，所述步骤6具体为：取衍射环上辉度值最强的四个衍射环对应的衍射角2θ1、2θ2、2θ3、2θ4，根据偏移矫正函数求得每个衍射环对应的理论辉度值y2#；选取四个衍射环中其中一个衍射环作为参考衍射环，参考衍射环的实际辉度值作为实际参考辉度值m，参考衍射环的理论辉度值作为理论参考辉度值m#；令根据下述公式求得每个衍射环对应的偏移矫正辉度值y3：
其中，y2为衍射环的平均辉度值，y2#为衍射环的理论辉度值，m为参考衍射环的实际参考辉度值，m#为参考衍射环的理论参考辉度值。