均匀检查的技术效果。当然，各个支撑杆I之间的距离可视待测基板5的大小灵活调整。
[0041]而且，为了使所有支撑杆I均能与待测基板5的底面接触，达到同步顶起待测基板5，同时也是为了保证检测的准确性。支撑杆I顶端面距待测基板5底面之间的距离相同。当然，出于结构紧凑及美观的考虑，每个支撑杆I的长度也应该相等。
[0042]本实施例中传感器2选为反射型光纤传感器，且其通过电缆6与控制器4通讯连接。
[0043]其中，反射型光纤传感器自带一个光源和一个光接收装置，光源发出的光束经过待测物体反射后被光敏元件接收，再经过控制电路的处理以反馈至控制器4中。控制器4可为PLC控制器(可编程逻辑控制器)，它采用一类可编程的存储器，用于其内部存储程序，执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数与算术操作等面向用户的指令，可通过设置光量值的阈值以及检测的时间(包括开始时间及结束时间)，即可实现检测基板原材料不良，然后通过数字或模拟式输入/输出实时显示。
[0044]而且，该传感器2可镶嵌于支撑杆I上，结构隐蔽，不会对其它设备造成干涉；当然，对应的，在支撑杆I上还设有用于放置传感器2的空腔，传感器2镶嵌于空腔内，使传感器2上方的前端面与待测基板5底面保持平行，这样光束反射时的转换效率高。
[0045]此外，本实施中的驱动单元3包括马达31和驱动连杆32，马达31通过驱动连杆32连接于支撑杆I的底端，用于带动支撑杆I在待测基板5的下方升降移动。其中，驱动连杆32的作用就是将马达31的回转运动转化为直线运动，在实际生产时可采用丝杠传动。简单地说就是:驱动连杆32为一滚珠丝杠，其丝杆与马达31连接，丝母与丝杆螺纹连接，多个支撑杆I通过连接板与丝母连接；马达31转动时，丝母可在竖直方向上升降移动，从而带动支撑杆I也同步做升降移动，其结构简单，自动化程度高。
[0046]如图3所示，本发明还提供一种生产系统，其包括基台7和上述基板破损检查装置；基板破损检查装置位于基台7的下方，使多个支撑杆I呈散点状均匀分布于基台7的下方；基台7用于放置待测基板5，且在基台7上设有允许支撑杆I通过的穿孔，支撑杆I在上升时可通过穿孔后将待测基板5顶起。
[0047]该生产系统还包括机械手8，机械手8位于基台7的一侧，用于取放待测基板5。例如:当待测基板5被顶起时，机械手8可将待测基板5从上游基台7搬送至下游基台7，其操作方便，自动化程度高。
[0048]此外，本发明还提供一种应用该基板破损检查装置的检查方法，其包括如下步骤:
[0049]S1、将支撑杆置于待测基板的下方；具体的，首先将待测基板放置于基台上，在基台下方均匀分布有多个支撑杆，每个支撑杆与待测基板垂直且距离相等。
[0050]S2、通过驱动单元驱动支撑杆上升至与待测基板底面接触；具体的，开启马达，在驱动连杆的带动下使支撑杆沿垂直方向上升，支撑杆通过穿孔后可将待测基板顶起；
[0051]S3、在支撑杆上升过程中，传感器会向待测基板发射光束，光束经待测基板反射后被传感器接收并反馈至控制器中；该传感器具有发射和接收光束并对光量大小进行判决的功能，在生产中处于常开的状态。
[0052]S4、控制器根据传感器反馈的光束信息进行分析判断:
[0053]若所反馈光束的光量变化为呈增加至定值时，则判断该待测基板无破损情况，其中，支撑杆为匀速上升时，光量变化也会随之呈线性增加至定值；因为在支撑杆上升过程中，所接收光束的光量会呈线性逐渐增大，当支撑杆上升到接触待测基板位置时，传感器所接收到的光量会达到一定值F ;当待测基板完整时，光纤传感器最终所接收到的光量也就是定值F。
[0054]若所反馈光束的光量变化为始终趋近于零(远远小于定值F)时，则判断该待测基板出现破损情况。其中，当待测基板在上升前或上升过程中发生破损(图2待测基板的中部位置)，那么此时与破损所在位置下方的支撑杆所接收到的光量均为零，那么此时PLC控制器就接收到一个小于正常基板所反射光量的信号，经过判断分析后输出一个报警信息，即完成了破损玻璃的检查。待测基板被顶起后，由机械手将其搬送至下游基台，此时，所有传感器所接收到的光量又回归至零，结束检测工艺。
[0055]综上所述，本发明提供一种基板破损检查装置，通过驱动单元驱动支撑杆在待测基板的下方升降移动，而且在支撑杆上设置有传感器，可向待测基板发射光束，光束经待测基板反射后被传感器接收并反馈至控制器中，从而实现在垂直方向上对待测基板的破损检查。该基板破损检查装置结构简单，操作方便，具有相当大的实用价值及推广意义。
[0056]本发明的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本发明限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本发明的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本发明从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
【主权项】
1.一种基板破损检查装置，其特征在于，包括驱动单元、支撑杆、传感器和控制器；所述驱动单元与支撑杆连接，用于驱动所述支撑杆在待测基板的下方升降移动；所述支撑杆上设置有传感器；所述传感器与控制器通讯连接；所述传感器用于向待测基板发射光束，光束经待测基板反射后被所述传感器接收并反馈至所述控制器中。
2.根据权利要求1所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述支撑杆的数量为多个，且均匀地分布于待测基板的下方。
3.根据权利要求2所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述支撑杆呈矩阵式分布，每个支撑杆均与待测基板垂直。
4.根据权利要求2所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述支撑杆顶端面距待测基板底面之间的距离相同。
5.根据权利要求1所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述传感器为反射型光纤传感器，且通过电缆与控制器通讯连接。
6.根据权利要求5所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述支撑杆设有空腔，所述传感器镶嵌于空腔内。
7.根据权利要求1所述的基板破损检查装置，其特征在于，所述驱动单元包括马达和驱动连杆，所述马达通过驱动连杆连接于所述支撑杆的底端，用于带动所述支撑杆在待测基板的下方升降移动。
8.—种生产系统，其特征在于，包括基台和根据权利要求1-7中任一项所述基板破损检查装置；所述基板破损检查装置位于基台的下方，所述基台用于放置待测基板，且在基台上设有允许支撑杆通过的穿孔。
9.根据权利要求8所述的生产系统，其特征在于，还包括机械手，所述机械手位于基台的一侧，用于取放待测基板。
10.一种根据权利要求1-7中任一项所述的基板破损检查装置的检查方法，其特征在于，包括如下步骤: .51、将支撑杆置于待测基板的下方； .52、通过驱动单元驱动支撑杆上升至与待测基板底面接触； .53、在支撑杆上升过程中，传感器向待测基板发射光束，光束经待测基板反射后被传感器接收并反馈至控制器中； .54、控制器根据传感器反馈的光束信息进行分析判断: 若所反馈光束的光量变化为呈增加至定值时，则判断该待测基板无破损情况； 若所反馈光束的光量变化为始终趋近于零时，则判断该待测基板出现破损情况。
【专利摘要】本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板破损检查装置、生产系统及检查方法。该基板破损检查装置包括驱动单元、支撑杆、传感器和控制器；所述驱动单元与支撑杆连接，用于驱动所述支撑杆在待测基板的下方升降移动；所述支撑杆上设置有传感器；所述传感器与控制器通讯连接；所述传感器用于向待测基板发射光束，光束经待测基板反射后被所述传感器接收并反馈至所述控制器中。该基板破损检查装置通过驱动单元及带有传感器的支撑杆，实现了待测基板在垂直方向运动时的破损检查，结构简单，操作方便，具有相当大的实用价值及推广意义。
【IPC分类】G01N21-88
【公开号】CN104655645
【申请号】CN201510100199
【发明人】王志强, 吴斌, 李广志, 岳兴, 余学权, 刘甲甲
【申请人】合肥京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2015年3月6日