一种实用直流电位测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于电路检测技术领域，涉及一种实用直流电位测试电路，适用于检测电路中测试点的直流电位。
【背景技术】
[0002]在所有的电路设计、电子产品测试、电子产品维修的过程中，都需要测量测试点的直流电位。而大部分需要测量的直流电位是负电压、正电压、零电位这三种情况。
[0003]现在常用的测量直流电位的方法主要是使用电压表测量测试点的电压，然后与系统的正电源电压、负电源电压比较从而判断测试点的直流电位。
[0004]这种使用电压表测量电位的方法有自己的应用领域，但是却有需要电池供电、结构过于复杂、成本高等缺点。本发明电路结构简单，成本低廉，能够测量的直流电位是负电压、正电压、零电位这三种情况，同时也能够检测电子产品外壳漏电现象。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于设计一种实用直流电位测试电路，在电路设计、电子产品测试、电子产品维修的过程中，用于测量测试点的直流电位。
[0006]本发明的技术方案是:一种实用直流电位测试电路，由二极管、第一发光二极管、第二发光二极管、第一电阻、第二电阻、测试探头；其中第一发光二极管与第二发光二极管串联然后与二极管并联构成显示电路；第一电阻一端连接被测电路的正电源另一端连接显示电路；第二电阻一端连接被测电路的负电源另一端连接显示电路。
[0007]上述的一种实用直流电位测试电路，其特征在于测试探头与电路端点I连接。第一发光二极管为红色发光二极管，第二发光二极管为蓝色发光二极管，第一电阻的阻值与第二电阻的阻值相等。
[0008]本发明电路的效益:结构简单，成本低廉，能够测试正电压、负电压、外壳漏电现象。
[0009]本发明的工作原理是:当测试探头为正电压时，第二发光二极管导通发光，第一发光二极管不导通不发光；当测试探头为负电压时，第一发光二极管导通发光，第二发光二极管不导通不发光；当测试探头接触没有设置接地的外壳时，第一发光二极管第二发光二极管任何一个导通发光，就表明存在漏电现象。
【附图说明】
[0010]下面结合设计图对本发明作进一步说明:
图1是本发明一种实用直流电位测试电路的电路图；
图1中:VD1、二极管；LED1、第一发光二极管；LED2第二发光二极管；R1、第一电阻；R2、第二电阻；H、测试探头。
【具体实施方式】
[0011]实施例1:
如图1所示是本发明一种实用直流电位测试电路的电路图，包括:二极管VD1、第一发光二极管LED1、第二发光二极管LED2、第一电阻R1、第二电阻R2、测试探头H ;其中第一发光二极管LEDl与第二发光二极管LED2串联然后与二极管VDl并联构成显示电路；第一电阻Rl —端连接被测电路的正电源Vcc另一端连接显示电路；第二电阻R2 —端连接被测电路的负电源Vss另一端连接显示电路；测试探头H与电路端点I连接。
[0012]实施例二:
如图1所示是本发明一种实用直流电位测试电路的电路图，第一发光二极管LEDl为红色发光二极管，第二发光二极管LED2为蓝色发光二极管，第一电阻Rl的阻值与第二电阻R2的阻值相等。
[0013]使用时，将该发明电路端点Vcc连接测试电路的正电源，电路端点Nss连接测试电路的负电源，测试探头H接触测试电路的被测点，观察第一发光二极管LED1、第二发光二极管LED2的导通发光情况，就可以判断被测点直流电位情况。
[0014]当测试探头为正电压时，第二发光二极管LED2导通发光，第一发光二极管LEDl不导通不发光；当测试探头为负电压时，第一发光二极管LEDl导通发光，第二发光二极管LED2不导通不发光；当测试探头接触没有设置接地的外壳时，第一发光二极管LEDl第二发光二极管LED2任何一个导通发光，就表明存在漏电现象。
[0015]以上实施例仅是对本发明的参考说明，并不构成对本
【发明内容】
的任何限制，显然在本发明的思想下，可做出不同形式的结构变更，但这些均在本发明的保护之列。
【主权项】
1.一种实用直流电位测试电路，其特征在于:由二极管(VD1)、第一发光二极管(LED1)、第二发光二极管(LED2)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、测试探头(H)构成；其中第一发光二极管(LEDl)与第二发光二极管(LED2)串联然后与二极管(VDl)并联构成显示电路；第一电阻(Rl) —端连接被测电路的正电源(Vcc)另一端连接显示电路；第二电阻(R2)一端连接被测电路的负电源(Vss)另一端连接显示电路；测试探头(H)与电路端点(I)连接。
2.根据权利要求1所述的一种实用直流电位测试电路，其特征在于:所述第一发光二极管(LEDl)为红色发光二极管，第二发光二极管(LED2)为蓝色发光二极管， 第一电阻(Rl)的阻值与第二电阻(R2)的阻值相等。
3.根据权利要求1所述的一种实用直流电位测试电路，其特征在于:所述当测试探头为正电压时，第二发光二极管(LED2)导通发光，第一发光二极管(LEDl)不导通不发光；当测试探头为负电压时，第一发光二极管(LEDl)导通发光，第二发光二极管(LED2)不导通不发光；当测试探头接触没有设置接地的外壳时，第一发光二极管(LEDl)第二发光二极管(LED2 )任何一个导通发光，就表明存在漏电现象。
【专利摘要】本发明一种实用直流电位测试电路，由二极管（VD1）、第一发光二极管（LED1）、第二发光二极管（LED2）、第一电阻（R1）、第二电阻（R2）、测试探头（H）构成；当测试探头为正电压时，第二发光二极管（LED2）导通发光，第一发光二极管（LED1）不导通不发光；当测试探头为负电压时，第一发光二极管（LED1）导通发光，第二发光二极管（LED2）不导通不发光；当测试探头接触没有设置接地的外壳时，第一发光二极管（LED1）第二发光二极管（LED2）任何一个导通发光，就表明存在漏电现象。
【IPC分类】G01R19-14, G01R31-02
【公开号】CN104655912
【申请号】CN201310576208
【发明人】何兴诗
【申请人】西安丁子电子信息科技有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月18日