散射光，
[0111]散射光检测单元至少包括:
[0112]物镜，被配置为收集从微粒发出的光；
[0113]光分离元件，被配置为将通过物镜收集的光中的散射光划分为第一散射光和第二散射光；
[0114]第一散射光检测器，被配置为接收第一散射光；以及
[0115]象散元件，布置在光分离元件与第一散射光检测器之间，象散元件被配置为向第一散射光施加象散，
[0116]其中，从物镜的后侧主点至象散元件的前侧主点的长度L与象散元件的焦距f之间的关系满足以下公式(I)
[0117]1.5f ^ L ^ 2.5f (I)。
[0118](2)根据(I)所述的微粒测量装置，其中，光分离元件是被配置为将散射光分成S偏振光分量和P偏振光分量的偏振兀件，并且第一散射光是S偏振光分量。
[0119](3)根据⑴或者⑵所述的微粒测量装置，其中，象散元件是圆柱形透镜。
[0120](4)根据⑴至(3)的任一项所述的微粒测量装置，其中，当将光到微粒的输入方向定义为Z方向，将微粒的流动方向定义为X方向，以及将与Z和X方向垂直的方向定义为y方向时，象散元件布置在与y方向垂直的平面上以在象散元件的母线与沿X方向延伸的线或者沿z方向延伸的线之间具有0°至5°的角度。
[0121](5)根据⑴至(4)的任一项所述的微粒测量装置，其中，第一散射光检测器是具有被分为多个区域的光接收面的检测器。
[0122](6)根据⑴至(5)的任一项所述的微粒测量装置，其中，第一散射光检测器是象限光电二极管。
[0123](7)根据⑴至(6)的任一项所述的微粒测量装置，其中，当将光到微粒的输入方向定义为Z方向，将微粒的流动方向定义为X方向，以及将与Z和X方向垂直的方向定义为y方向时，第一散射光检测器布置在与y方向垂直的平面上以在第一散射光检测器的分界线与沿X方向延伸的线或者沿z方向延伸的线之间具有40°至50°的角度。
[0124](8)根据⑴至(7)的任一项所述的微粒测量装置，其中，基于第一散射光的光接收位置的变化来检测微粒的流动位置。
[0125](9)根据⑴至⑶的任一项所述的微粒测量装置，其中，
[0126]第一散射光检测器的光接收面被分成格子形状以具有第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域，以及
[0127]第一散射光检测器基于第一区域的检测值A与没有邻近于第一区域的第三区域的检测值C之间的差值(A-C)获取微粒的位置信息。
[0128](10)根据⑴至⑶的任一项所述的微粒测量装置，其中，
[0129]第一散射光检测器的光接收面被分成格子形状以具有第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域，以及
[0130]第一散射光检测器基于第一区域的检测值A和没有邻近于第一区域的第三区域的检测值C之间的总和(A+C)与邻近于第一区域的第二区域的检测值B和没有邻近于第二区域的第四区域的检测值D的总和(B+D)之间的差值((A+C)-(B+D))获取微粒的位置信息。
[0131](11)根据⑴至(10)的任一项所述的微粒测量装置，其中，光照射单元利用光照射通过包含微通道的分析芯片流动的微粒。
[0132]参考标记列表
[0133]I微粒测量装置
[0134]2 光源
[0135]3 流道
[0136]4光谱过滤器
[0137]5偏振兀件
[0138]6散射光强度检测器
[0139]7颗粒位置检测器
[0140]7a分界线
[0141]8分光元件
[0142]9荧光检测器
[0143]9a至9z光接收元件
[0144]10 微粒
[0145]11 激发光
[0146]12、14 荧光
[0147]13 散射光
[0148]13s S 偏振光
[0149]13p P 偏振光
[0150]20 微芯片
[0151]21 物镜
[0152]22 象散元件
[0153]22a 母线
[0154]23 聚光透镜
[0155]24、25 反射镜
[0156]30 层流
[0157]31 激发光照射单元
【主权项】
1.一种微粒测量装置，包括: 光照射单元，被配置为利用光照射通过流道流动的微粒；以及 散射光检测单元，被配置为检测来自所述微粒的散射光， 所述散射光检测单元至少包括: 物镜，被配置为收集从所述微粒发出的光； 光分离元件，被配置为将通过所述物镜收集的所述光中的所述散射光划分为第一散射光和第二散射光； 第一散射光检测器，被配置为接收所述第一散射光；以及 象散元件，布置在所述光分离元件与所述第一散射光检测器之间，所述象散元件被配置为向所述第一散射光施加象散，其中 从所述物镜的后侧主点至所述象散元件的前侧主点的长度L与所述象散元件的焦距f之间的关系满足以下公式(I) 1.5f ^ L ^ 2.5f (I)。
2.根据权利要求1所述的微粒测量装置，其中，所述光分离元件是被配置为将所述散射光分成S偏振光分量和P偏振光分量的偏振元件，并且所述第一散射光是所述S偏振光分量。
3.根据权利要求1所述的微粒测量装置，其中，所述象散元件是圆柱形透镜。
4.根据权利要求3所述的微粒测量装置，其中，当将光对所述微粒的输入方向定义为z方向，将所述微粒的流动方向定义为X方向，并将与所述z方向和所述X方向垂直的方向定义为I方向时，所述象散元件布置在与所述I方向垂直的平面上以在所述象散元件的母线与沿所述X方向延伸的线或者沿所述z方向延伸的线之间具有0°至5°的角度。
5.根据权利要求1所述的微粒测量装置，其中，所述第一散射光检测器是具有被分成多个区域的光接收面的检测器。
6.根据权利要求5所述的微粒测量装置，其中，所述第一散射光检测器是象限光电二极管。
7.根据权利要求6所述的微粒测量装置，其中，当将光对所述微粒的输入方向定义为z方向，将所述微粒的流动方向定义为X方向，并将与所述z方向和所述X方向垂直的方向定义为y方向时，所述第一散射光检测器布置在与所述y方向垂直的平面上以在所述第一散射光检测器的分界线与沿所述X方向延伸的线或者沿所述z方向延伸的线之间具有40°至50°的角度。
8.根据权利要求1所述的微粒测量装置，其中，基于所述第一散射光的光接收位置的变化来检测所述微粒的流动位置。
9.根据权利要求8所述的微粒测量装置，其中 所述第一散射光检测器的光接收面被分为格子形状以具有第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域，以及 所述第一散射光检测器基于所述第一区域的检测值A与不邻近所述第一区域的所述第三区域的检测值C之间的差值(A-C)获取所述微粒的位置信息。
10.根据权利要求8所述的微粒测量装置，其中 所述第一散射光检测器的光接收面被分成格子形状以具有第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域，以及 所述第一散射光检测器基于所述第一区域的检测值A和不邻近所述第一区域的所述第三区域的检测值C的总和(A+C)与邻近于所述第一区域的所述第二区域的检测值B和不邻近于所述第二区域的所述第四区域的检测值D的总和(B+D)之间的差值((A+C)-(B+D))获取所述微粒的位置信息。
11.根据权利要求1所述的微粒测量装置，其中，所述光照射单元利用光照射通过包含微通道的分析芯片流动的所述微粒。
【专利摘要】提供一种微粒测量装置，能够精确检测在通道内流动的微粒的位置。该微粒测量装置具有用于利用光照射通道内流动的微粒的光照射单元以及用于检测从微粒发出的散射光的散射光检测器，其中该散射光检测器设有：用于收集从微粒发出的光的物镜，用于将由物镜收集的光中的散射光分离成第一散射光和第二散射光的光分离元件，用于接收S偏振光分量的第一散射光检测器，以及设置在光分离元件与第一散射光检测器之间并且向第一散射光施加象散的象散元件；并且该散射光检测器被设置使得从物镜的后侧主点至象散元件的前侧主点的长度(L)与象散元件的焦距(f)之间的关系满足以下公式(I)：1.5f≤L≤2.5f(I)。
【IPC分类】G01N21-21, G01N15-14, G01N21-49
【公开号】CN104718444
【申请号】CN201380052651
【发明人】竹内太一, 今西慎悟
【申请人】索尼公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2013年8月30日
【公告号】EP2889603A1, US20150276575, WO2014061368A1