轮胎的均匀性波形的校正方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及对从轮胎均匀性试验机得到的均匀性波形进行校正的技术。
【背景技术】
[0002]—直以来，对制成产品的轮胎进行测量均勾性(uniformity)等来判定优劣的轮胎试验(轮胎均匀性试验)。在该轮胎试验中，将轮胎推压至轮胎均匀性试验机所具备的负荷转鼓的外周面。在此基础上，通过设置于负荷转鼓的测压元件(load cell)等，测量使该轮胎旋转时在轮胎的半径方向、横向方向上施加的载荷来作为均匀性波形，并基于测量到的均匀性波形进行轮胎均匀性的评价。
[0003]但是，虽然设置于轮胎均匀性试验机的负荷转鼓例如被加工成截面为正圆的圆筒形状，但是由于加工精度等的制约，严格来说，该截面并不是完全的正圆。即，在负荷转鼓的外周面会不可避免地产生一些凹凸。这样，如果在使轮胎与并非完全的正圆的负荷转鼓的外周面相接触的基础上使轮胎旋转，则在轮胎通过少量存在于负荷转鼓的外周面的凹凸时，负荷转鼓的旋转轴会产生旋转振动。产生的旋转振动会作为误差而包含在由测压元件测量的均匀性波形中。其结果是，存在基于包含这样的误差的均匀性波形而计算出的轮胎均匀性的精度也发生降低的可能性。
[0004]因此，为了从由测压元件等测量到的均匀性波形中去除起因于这样的负荷转鼓的旋转振动的误差，换言之，为了校正测量到的均匀性波形，已经想出几个校正方法(专利文献1、专利文献2等)。
[0005]例如，在专利文献I的校正方法中，在负荷转鼓的直径外侧设置有能够检测负荷转鼓的外周面的位移(沿着轮胎的半径方向的位移，或者沿着轮胎的横向方向的位移)的检测器(传感器)。并且，由该检测器检测出的负荷转鼓的位移被作为旋转振动来测量。并且，在测量到的负荷转鼓的旋转振动上乘以轮胎的弹簧常数而得到的值被作为由于旋转振动而作用到负荷转鼓的力变动的波形来计算。如果将这样计算出的力变动的波形作为用于校正起因于旋转振动的误差的校正波形，从实际测量到的均匀性波形中减去，就能够对均匀性波形进行校正。
[0006]此外，在专利文献2的校正方法中，由测压元件测量到的均匀性波形被划分成轮胎的每I次旋转的数据区间，划分后的均匀性波形彼此相互叠加。如果这样按轮胎的每I次旋转的数据区间进行均匀性波形的叠加，则误差会通过叠加而被抵消，能够得到平均的均匀性波形。如果从由测压元件实际测量到的均匀性波形中减去这样的平均的均匀性波形，就得到包含因负荷转鼓的旋转振动导致的误差量的波形。接着，如果将所得到的含有误差量的波形划分成负荷转鼓的每I次旋转的数据区间，并使划分后的波形彼此相互叠加，则含有误差量的波形就被平均化。由此，能够与专利文献I同样地求取出用于对因旋转振动导致的误差进行校正的校正波形。
[0007]在先技术文献
[0008]专利文献
[0009]专利文献1:日本国特开昭57-141532号公报
[0010]专利文献2:日本国特开平2-259445号公报
【发明内容】
[0011]发明要解决的课题
[0012]但是，在专利文献I的校正方法中，有时由于轮胎的类别(种类、尺寸)的不同，很难精度良好地计算出上述的校正波形。
[0013]例如，在实际的轮胎均匀性试验机中，将轮胎推压至负荷转鼓的位置大多根据标准的种类、尺寸的轮胎而设定。但是，由轮胎均匀性试验机测量的轮胎中有宽度比标准的轮胎宽的轮胎和宽度比标准的轮胎窄的轮胎。在对这样的轮胎进行试验时，用来检测外周面的位移的检测器的高度会从最佳的位置偏离。即，在专利文献I的校正方法中，根据要测量轮胎均匀性的轮胎的类别的不同，检测器的设置位置会从最佳的位置偏离，而因为检测器的设置位置的偏离会使计算出的校正波形与适当的校正波形相偏离。由此，可能会很难求取出精度良好的校正波形。
[0014]此外，在专利文献2记载的校正方法中，在重叠多个波形进行平均化时，如果存在微小的相位偏离等误差，则这样的误差也会被叠加并被加到校正波形上。其结果是，因叠加反而会使误差变大，与专利文献I的校正方法同样地，有时会很难求取到精度良好的校正波形。
[0015]本发明鉴于上述问题而完成，其目的在于，提供一种轮胎的均匀性波形的校正方法，该校正方法能够将因负荷转鼓的旋转振动造成的影响从测量到的均匀性波形中去除，提高轮胎均匀性的测定精度。
[0016]用于解决课题的手段
[0017]为了达成上述目的，本发明的轮胎的均匀性波形的校正方法采取以下技术手段。
[0018]S卩，本发明是一种在将负荷转鼓推压至直径与该负荷转鼓不同的轮胎的基础上，在使轮胎旋转的同时测定轮胎的均匀性时的轮胎的均匀性波形的校正方法，该轮胎的均匀性波形的校正方法的特征在于，具有:使用设置于所述负荷转鼓的测压元件以及旋转相位计，测量所述轮胎的均匀性波形，并且测量所述负荷转鼓的旋转相位的步骤；通过对测量到的均匀性波形进行频率变换，从而变换成频率区域的波形的步骤；在变换后的频率区域的波形中，求取所述负荷转鼓的转速的整数倍数分量处的振幅以及相位的步骤；将求取到的所述负荷转鼓的转速的整数倍数分量处的振幅以及相位作为校正参数来存储的步骤；测量所述轮胎的均匀性波形，并且基于存储的校正参数来计算轮胎测量时的负荷转鼓的旋转相位范围中的校正波形的步骤；以及通过从测量到的均匀性波形中减去所述计算出的校正波形，从而计算出被校正后的轮胎的均匀性波形的步骤。
[0019]另外，优选可以具有:按所述轮胎的每个类别预先求取校正参数的步骤；基于预先求取到的所述校正参数，按所述轮胎的每个类别计算所述校正波形的步骤；以及通过从测量到的均匀性波形中减去计算出的所述校正波形，从而计算出被校正后的轮胎的均匀性波形的步骤。
[0020]发明效果
[0021]根据本发明的轮胎的均匀性波形的校正方法，能够从测量到的均匀性波形中去除因负荷转鼓的旋转振动造成的影响，提高轮胎均匀性的测定精度。
【附图说明】
[0022]图1是本发明涉及的轮胎均匀性试验机的简要图。
[0023]图2(a)是表示由轮胎均匀性试验机测量的均匀性波形的图，(b)是(a)的局部放大图。
[0024]图3 (a)是表示对测量到的均匀性波形进行FFT变换后的结果的图，(b)是FFT变换后的结果的放大图。
[0025]图4(a)是表示测量到的均匀性波形的图，(b)是表示校正波形的图，(C)是表示校正后的均匀性波形的图。
【具体实施方式】
[0026][第I实施方式]
[0027]首先，基于附图来说明执行本发明涉及的轮胎T的均匀性波形的校正方法的轮胎均匀性试验机I。
[0028]如图1所示，轮胎均匀性试验机I (轮胎均匀性试验装置)针对已完成的轮胎T来评价轮胎均匀性等特性，从而进行产品检查。轮胎均匀性试验机I构成为:作为产品检查对使轮胎T旋转时产生的轮胎半径方向的力的变动(Radial Force Variat1n:RFV)、轮胎横向方向的力的变动(Lateral Force Variat1n:LFV)进行评价。
[0029]具体来说，轮胎均匀性试验机I具有以围绕朝向上下的轴心自由旋转的方式配置的主轴2。在该主轴2的上端设置有固定轮胎T的上下一对轮圈3。主轴2能够对被轮圈3固定的轮胎T以围绕朝向上下的轴心自由旋转的方式进行支撑。进一步地，在主轴2的侧方具备在其外周面形成了模拟路面的大致圆筒状的负荷转鼓4。该负荷转鼓4被设为围绕上下轴心进行驱动旋转，并且在水平方向上移动自由。负荷转鼓4的外周面能够与设置于主轴2的轮胎T靠近/远离。
[0030]另外，在本说明书的说明中，将图1的纸面的上下作为