基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于食品领域，具体涉及一种基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法。
【背景技术】
[0002] 珍珠奶茶是源自台湾的一种特色饮品，风味独特，味美可口，尤其是里面的黑珍珠 粉圆，弹性十足，是当下极受欢迎的饮品，而珍珠粉圆的质构对珍珠粉圆及相关食品的市场 前景具有重大影响。现有技术中一般使用质构仪对珍珠粉圆进行质构测定，这种测定方法 能够测定出珍珠粉圆的弹性、硬度、粘聚性等质构特性的值，方法简单、快速，然而测定过程 中质构特性的值是随着测定条件变化而变化的，因此，很难做到精确地反映珍珠粉圆的质 构特性。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法， 该方法对珍珠粉圆的质构测定更加精确。
[0004] 本发明采用的技术方案如下：
[0005] 1、基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，包括如下步骤：
[0006] (1)首先进行预实验确定因素和水平；
[0007] (2)根据步骤（1)得到的因素和水平，利用中心组合设计获得实验方案，并根据实 验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测，得到质构参数的数据；
[0008] (3)将步骤⑵得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析，获 得因素与质构参数的回归关系式，得到响应面图，最终确定各因素优化后的水平参数组合。
[0009] 优选的，所述步骤（1)中所述因素和水平为两因素两水平，所述因素为压缩速率 和压缩程度，所述压缩速率水平范围为1~5mm/s，所述压缩程度水平范围为50~90%。 [0010] 优选的，所述步骤（2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性或回复性中 的至少一种。
[0011] 优选的，所述步骤（2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值，所述平均 值用TPA-Macro分析获得。
[0012] 优选的，所述步骤（3)中所述响应面分析软件为Design Expert 8. 0软件。
[0013] 优选的，所述步骤（3)中所述因素与质构参数的回归关系式如下：
[0014] 硬度 Y1= 527. 28+95. 73XA+3710. 78XB+142. 17XAXB-390. 26XA 2+3027· 19 ΧΒ2；
[0015] 弹性 Y2= 1. 18+0. 50 ΧΑ-0. 67 ΧΒ-0. 49 XAXΒ+0. 19 XA 2+0· 16 XB2;
[0016] 粘聚性 Y3= 0· 75+0. 023ΧΑ-0. 098XB ;
[0017] 咀嚼性 Y4= 463. 78+223. 89ΧΑ+1542. 65ΧΒ+108. 31ΧΑΧΒ-90. 02ΧΑ 2+1185· 70 ΧΒ2；
[0018] 回复性 Y5= 0· 62+2. 229Ε .3XA-O. 13ΧΒ+0.1 lXAXB ;
[0019] 其中，A为压缩速率，B为压缩程度。
[0020] 优选的，所述步骤（1)中进行预实验时，选用的质构仪探头型号为P50,测试条件 为：测前速率2mm/s，测试速率和测后速率均为lmm/s，停留间隔2s，触发值5g
[0021] 本发明的有益效果在于：本发明通过利用响应面法对珍珠粉圆质构的测定方法进 行改进，改进后的方法能够更加精确地对珍珠粉圆的质构进行检测，可直接应用于珍珠粉 圆的实际生产中，同时有助于生产厂家对珍珠粉圆的配方进行改进。
【附图说明】
[0022] 为了使本发明的目的、技术方案和有益效果更加清楚，本发明提供如下附图：
[0023] 图1为硬度影响因素的分析结果；
[0024] 图2为弹性影响因素的分析结果；
[0025] 图3为粘聚性影响因素的分析结果；
[0026] 图4为咀嚼性影响因素的分析结果；
[0027] 图5为回复性影响因素的分析结果。
【具体实施方式】
[0028] 下面对本发明的优选实施例进行详细的描述。实施例中未注明具体条件的实验方 法，通常按照常规条件或按照制造厂商所建议的条件。
[0029] 珍珠粉圆购自重庆大台北珍珠奶茶；TA. XTplus型质构仪购自英国SMS公司。
[0030] 基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，包括如下步骤：
[0031] (1)首先进行预实验确定因素和水平；
[0032] 作为进一步改进，所述因素和水平为两因素两水平，所述因素为压缩速率和压缩 程度，所述压缩速率水平范围为1~5mm/s，所述压缩程度水平范围为50~90%。
[0033] 以本发明操作为例：进行预实验时，选用TA. XTplus型质构仪对珍珠粉圆进行质 地多面分析检测（TPA)测定，探头型号为P50,测试条件为：测前速率2mm/s，测试速率和侧 后速率均为lmm/s，停留间隔2s，触发值5g。预实验确定压缩速率水平范围为l-5mm/s，压 缩程度水平范围为50-90%的原因如下：压缩速率过快，珍珠粉圆会黏贴在探头上不能及 时分离，影响TPA测定值；压缩速率过慢，探头移动缓慢，浪费时间；压缩程度过小，无法准 确反映珍珠粉圆的弹性和回复性值；压缩程度过大，探头会破坏珍珠粉圆组织结构，得到的 测量结果不可用。
[0034] (2)根据步骤（1)得到的因素和水平范围，利用中心组合设计获得实验方案，并根 据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测，得到质构参数的数据；
[0035] 作为进一步改进，所述步骤（2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性或 回复性中的至少一种。
[0036] 作为进一步改进，所述步骤（2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值， 所述平均值用TPA-Macro分析获得。
[0037] 以本发明的操作过程为例：
[0038] 中心组合设计Central-Composite Design (CO))获得的实验方案见表1，
[0039] 表1响应面实验设计
【主权项】
1. 基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，包括如下步骤： (1) 首先进行预实验确定因素和水平； (2) 根据步骤（1)得到的因素和水平，利用中心组合设计获得实验方案，并根据实验方 案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测，得到质构参数的数据； (3) 将步骤⑵得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析，获得因 素与质构参数的回归关系式，得到响应面图，最终确定各因素优化后的水平参数组合。
2. 根据权利要求1所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（1)中所述因素和水平为两因素两水平，所述因素为压缩速率和压缩程度，所述压缩 速率水平范围为1~5mm/s，所述压缩程度水平范围为50~90%。
3. 根据权利要求2所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性和回复性。
4. 根据权利要求1所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值，所述平均值用TPA-Macro分析获 得。
5. 根据权利要求3所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（3)中所述响应面分析软件为DesignExpert8.0软件。
6. 根据权利要求5所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（3)中所述因素与质构参数的回归关系式如下： 硬度Y1= 527. 28+95. 73XA+3710. 78XB+142. 17XAXB-390. 26XA2+3027. 19XB2; 弹性Y2=I. 18+0. 50XA-0. 67XB-0. 49XAXB+0. 19XA2+0. 16XB2; 粘聚性Y3= 0? 75+0.O23XA-O.O98XB; 咀嚼性Y4= 463. 78+223. 89XA+1542. 65XB+108. 31XAXB-90. 02XA2+1185. 70XB2; 回复性Y5= 0? 62+2. 229E.3XA-O. 13XB+0.IlXAXB; 其中，A为压缩速率，B为压缩程度。
7. 根据权利要求1所述的基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，其特征在于，所述 步骤（1)中进行预实验时，选用的质构仪探头型号为P50,测试条件为：测前速率2mm/s，测 试速率和测后速率均为lmm/s，停留间隔2s，触发值5g。
【专利摘要】本发明公开了一种基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，首先进行预实验以确定因素和水平，然后根据得到的因素和水平，利用中心组合设计获得实验方案，并根据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测，得到质构参数的数据，再将得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析，获得因素与质构参数的回归关系式，得到响应面图，最终确定各因素优化后的水平参数组合。本发明通过利用响应面法对珍珠粉圆质构的测定方法进行改进，改进后的方法能够更加精确地对珍珠粉圆的质构进行检测，可直接应用于珍珠粉圆的实际生产中，同时有助于生产厂家对珍珠粉圆的配方进行改进。
【IPC分类】G01N33-02
【公开号】CN104792948
【申请号】CN201510218248
【发明人】吴邱静, 李雪卉, 陈松, 王荣, 马婉茹, 朱建飞
【申请人】重庆工商大学
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年4月30日