测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测量装置。
[0002]本申请基于在2014年3月14日向日本申请的特愿2014 — 051557主张优先权，并在此引用其内容。
【背景技术】
[0003]通常，测量装置具有对物理量(例如，温度、压力、流量等)进行检测的传感器部、以及对由传感器部检测出的检测信号进行处理的信号处理部，在信号处理部中，通过将来自传感器部的检测信号变换为数字信号并实施预先规定的运算处理，从而进行物理量的测量。在如上所述的测量装置之中，为了防止由于因历时变化等产生的测量误差而引起的测量精度的恶化，具有一边进行内部校正(内部校准)一边对物理量进行测量的结构。
[0004]具体地说，能够进行内部校正的测量装置，将从传感器部得到的检测信号和预先准备的校正用信号依次变换为数字信号，通过使用上述检测信号的数字信号和上述校正用信号的数字信号进行预先规定的运算处理，从而对测量误差进行校正，以高精度对物理量进行测量。上述的校正用信号是用于对零点(例如，信号范围的下限值)、跨度(例如，信号范围的上限值和下限值的差)等进行校正的信号，或是是显示内部端子温度等的信号。如上所述的测量装置，例如，设置在用于仪表化系统中的现场仪器、各种记录仪(例如，无纸记录仪、图表记录仪)、数据记录器等中。
[0005]在日本特开2011 - 220698号公报(以下，称为“专利文献I”)中，公开有一种多点切换型测量装置，其能够一边进行上述的内部校正、一边对多个信道的模拟信号进行测量。具体地说，专利文献I所公开的多点切换型测量装置，通过加快特定信道测量的更新周期，另一方面减慢其他信道测量的更新周期，从而能够实现全部信道的测量。
[0006]在上述的能够进行内部校正的测量装置中，使来自传感器部的检测信号变换为数字信号的控制、以及使校正用信号变换为数据信号的控制，是由对测量装置的动作进行集中控制的主控制器逐次进行的。因此，在现有的测量装置中，依次重复地进行第I处理、第2处理以及第3处理，其中，第I处理基于主控制器的指示将传感器部的检测信号变换为数字信号，第2处理基于主控制器的指示将校正用信号变换为数字信号，第3处理使用由第I处理、第2处理得到的数字信号对测量结果进行运算。即，现有的测量装置中的测量周期是从开始上述的第I处理起，至完成上述的第3处理并由主控制器得到第3处理的运算结果为止的。
[0007]近年来，对测量装置的高速化提出了要求，与此相伴，要求缩短测量周期。由于上述现有的测量装置是通过由主控制器逐次进行使来自传感器部的检测信号以及校正用信号变换为数字信号的控制，从而依次进行上述的第I?第3处理的结构，因此，有时缩短测量周期是困难的。另外，上述现有的测量装置在测量周期内，需要进行使来自传感器部的检测信号变换为数字信号的控制、和使校正用信号变换为数字信号的控制，因此需要在测量周期内进行2次控制信号的通信，这也成为使测量周期变长的一个原因。
【发明内容】
[0008]本发明的一个实施方式提供一种能够缩短测量周期的测量装置。
[0009]本发明的一个实施方式的测量装置可以具有:第I控制部，其输出控制信号，该控制信号同时地指定应该变换为数字信号的来自外部的输入信号、和预先准备的校正用信号；以及第2控制部，其基于来自所述第I控制部的所述控制信号，依次进行第I控制和第2控制，其中，在第I控制中，选择所述输入信号而变换为数字信号，在第2控制中，选择所述校正用信号而变换为数字信号，并且使用通过所述第I控制而变换成数字信号的所述输入信号、和通过在所述第I控制之前已进行的控制而变换成数字信号的校正用信号，求出测量值。
[0010]在上述测量装置中，所述校正用信号可以预先准备多个。所述第I控制部输出的所述控制信号，可以对多个所述校正用信号中的某一个进行指定。
[0011]在上述测量装置中，所述第2控制部可以具有:选择部，其对所述输入信号、以及所述校正用信号中的某一个信号进行选择；变换部，其将通过所述选择部选择出的信号变换为数字信号；运算部，其使用通过所述变换部而变换成数字信号的所述输入信号以及所述校正用信号，求出所述测量值；以及管理部，其基于来自所述第I控制部的所述控制信号，对所述选择部以及所述变换部进行控制而实施所述第I控制，并对所述选择部、所述变换部以及所述运算部进行控制而实施所述第2控制。
[0012]在上述测量装置中，所述运算部可以暂时地存储对通过所述第2控制而变换成数字信号的所述校正用信号，并在通过在所述第2控制之后进行的控制而求出所述测量值时使用。
[0013]在上述测量装置中，所述第2控制部可以设置多个。所述第I控制部可以向多个所述第2控制部集中地输出所述控制信号。
[0014]在上述测量装置中，所述第2控制部还可以具有第I存储部，该第I存储部对所述校正用信号进行存储。
[0015]在上述测量装置中，所述第2控制部还可以具有发送部，该发送部将通过所述运算部求出的所述测量值发送至所述第I控制部。
[0016]在上述测量装置中，所述变换部可以在每次将通过所述选择部选择出的信号变换为数字信号时，将变换完成信号输出至所述管理部。
[0017]在上述测量装置中，所述运算部还可以具有第2存储部，该第2存储部对通过所述变换部而变换成数字信号的所述校正用信号进行存储。
[0018]在上述测量装置中，所述运算部可以使用从所述变换部输出的最新的变换成数字信号的所述输入信号、和存储在所述第2存储部中的所述校正用信号的数字信号，求出所述测量值。
[0019]在上述测量装置中，所述运算部可以使用从所述变换部输出的最新的变换成数字信号的所述输入信号、和存储在所述第2存储部中的所述校正用信号中的最新的所述校正用信号，求出所述测量值。
[0020]在上述测量装置中，所述第2控制部还可以具有接收部，该接收部接收来自所述第I控制部的所述控制信号。
[0021]在上述测量装置中，所述接收部可以将来自所述第I控制部的所述控制信号输出至所述管理部。
[0022]在上述测量装置中，所述第2控制部可以并行地进行使所述校正用信号变换为数字信号的处理、和求出所述测量值的处理。
[0023]在上述测量装置中，多个所述第2控制部可以分别基于从所述第I控制部向多个所述第2控制部集中输出的所述控制信号，依次进行所述第I控制和所述第2控制。
[0024]发明的效果
[0025]根据本发明的一个实施方式，由于将同时对应该变换为数字信号的输入信号和校正用信号进行指定的控制信号从主控制部输出至副控制部，并在副控制部中，基于来自主控制部的控制信号依次进行第I控制和第2控制，因此能够缩短测量周期。
【附图说明】
[0026]图1是表示本发明的第I实施方式所涉及的测量装置的要部结构的框图。
[0027]图2是用于对本发明的第I实施方式所涉及的测量装置的动作进行说明的时序图。
[0028]图3是对通过本发明的第I实施方式所涉及的测量装置而进行的处理进行概括后的图。
[0029]图4是表示本发明的第2实施方式所涉及的测量装置的要部结构的框图。
【具体实施方式】
[0030]下面，参照附图对本发明的几个实施方式所涉及的测量装置进行详细的说明。
[0031]【第I实施方式】
[0032]图1是表示本发明的第I实施方式所涉及的测量装置的要部结构的框图。如图1所示，本第I实施方式的测量装置I具有主控制器10 (主控制部、第I控制部)以及副控制器20 (副控制部、第2控制部)，将从外部输入的测量信号SI (输入信号)以及预先准备的内部校准信号Q1、Q2 (校正用信号)变换为数字信号，并使用变换成数字信号后的这些数据求出测量值Ml。如上所述的测量装置1，例如设置在用于仪表化系统中的现场仪器、各种记录仪、数据记录器等中。
[0033]上述的测量信号SI是表示物理量(例如，温度、压力、流量等)的测量结果的信号，例如，是从对物理量进行测量的传感器部(图示省略)输出的信号。上述的内部校准信号Q1、Q2是用于对零点、跨度等进行校正的信号