了测试产品因过渡受力而损坏的情况的发生。
[0035]请参阅图5，其为图3所示A部分结构的另一状态示意图，例如，将测试产品放置于所述连接装置102的测试区域200后，压紧件110朝向所述连接装置102移动。在移动过程中，压块113相对限位件112位移，此时，块体113a与测试产品抵接，压板113b与测试产品的引脚的接触。同时，弹性件111形变收缩并给块体113a和压板113b施加作用力。最后，当块体113a在缓冲位113c内移动并抵接限位块112b时，压块113相对限位件112停止移动，也即弹性件111形变结束，其因形变产生的弹力维持不变，也即压块113对测试产品的作用力维持不变。如此，在压块113的作用下保证测试产品与所述连接装置102充分接触的同时，也有效避免了因压力过大压坏测试产品的情况，从而解决了避免在测试过程中损坏测试产品的技术问题。
[0036]请再次参阅图3，例如，屏蔽装置101包括本体部131。例如，本体部131开设有容置腔132。例如，本体部131设置有连接位133。例如，连接位133用于连接压紧装置100。例如，连接位133通过固定柱与压紧装置100连接。例如，容置腔132用于收容压紧件110以及测试产品。也就是说，测试产品收容于所述容置腔132，并且，位于所述压紧件110与所述连接装置102之间的区域，以便于通过压紧件110将测试产品压向连接装置102。
[0037]为了提高测试治具的屏蔽性能，例如，屏蔽装置101采用金属材料制成。如图6所示，例如，本体部131的两端设置有第一连接部134和第二连接部135。例如，所述压紧装置100开设有第一屏蔽槽114，所述第一连接部134插接于所述第一屏蔽槽114。例如，所述连接装置102开设有第二屏蔽槽115，第二连接部135插接于所述第二屏蔽槽115。通过将本体部131的两端设置于第一屏蔽槽114和第二屏蔽槽115，提高了测试治具的屏蔽性能，避免外部电磁信号经由本体部131与压紧装置100和连接装置102的连接部分进入屏蔽装置101内部。如此，有效地屏蔽了外部电磁信号对网络变压器的干扰，即实现了网络变压器与外界的隔离，排除了外界对网络变压器测试的干扰。例如，干扰有辐射干扰和传导干扰。
[0038]请再次参阅图3，例如，连接装置102包括定位块141、接地块142、线路板143及若干连接件144。例如，线路板143与若干连接件144连接。例如，连接件144用于连接外部测试仪。例如，线路板143用于连接测试产品。例如，所述第二屏蔽槽115开设于所述定位块 141。
[0039]请参阅图7，其为图3所示实施例PCB板的结构示意图，例如，线路板143包括PCB板145。例如，PCB板145包括基板145a、以及设置在所述基板145a上的接地线145b与两个线群145c。例如，两个145c线群对称设置于接地线两侧。例如，线群145c包括若干走线。例如，若干走线一端设置于靠近接地线145b，另一端设置于基板145a的侧边上。本实施例中，线群145c包括八条走线和八个连接件。例如，连接件144与走线连接。例如，一个连接件144对应连接一条走线。例如，连接装置102包括若干同轴连接器，每一同轴连接器对应连接一走线。例如，同轴连接器通过连接件144连接走线。例如，连接装置102包括八个同轴连接器，每一同轴连接器对应连接一走线。
[0040]为了实现测试治具与测试仪的匹配，例如，测试仪的输出线的内阻与PCB板的输入端内阻一致，PCB板的输出端内阻与测试仪的输入线的内阻一致。例如，该内阻的阻值为50Ω、75Ω或者100 Ω。例如，所述PCB板的输入端为线群145c中的一条走线，该走线内阻的阻值为50 Ω、75 Ω或者100 Ω。也就是说，每一条走线的阻值均为50 Ω、75 Ω或者100 Ω。如此，实现了测试治具与测试仪的匹配及吻合。
[0041]为了提高测试产品与测试治具的接触性能，例如，测试产品的引脚与PCB板的接触采用弹簧压制式，也就是说，在利用所述压板以使得测试产品的引脚与PCB板充分接触。例如，测试产品的引脚与PCB板之间还设置有导电胶，以防止因为测试产品的引脚长短、高低等不均匀导致与PCB板没有接触或者接触不良。例如，PCB板的走线宽度大于测试产品的引脚的宽度，也即测试治具的接触面大于测试产品的引出端的接触面积，以保证测试治具与测试产品可充分接触。如此，在采用弹簧压制式、导电胶和测试治具的接触面大于测试产品的引出端的接触面积后，提高了测试产品与测试治具的接触性能，保证了测试产品与测试治具的充分接触。
[0042]为了进一步提高测试治具的屏蔽性能，例如，接地线145b与接地块142连接。又如，定位块141与接地线145b连接。例如，定位块141和接地块142均采用金属材料制成；又如，接地线145b与接地块142通过第一弹性连接件连接，定位块141与接地线145b通过第二弹性连接件连接；其中一个实施例中，第一弹性连接件与第二弹性连接件均为预制弯折件，例如为S字形或者3字形。如此，进一步提高了测试治具的屏蔽性能。
[0043]请参阅图8，其为本发明另一实施例网络变压器的测试治具的结构示意图。为了便于测试产品，例如，网络变压器的测试治具20还包括支架104。例如，例如，压紧装置100与屏蔽装置101固定连接，支架104 —端与压紧装置100连接，另一端与连接装置102连接。例如，支架104包括底板151、两条支柱152、共位面板153及快速夹154。例如，两条支柱152设置在底板151 —侧与底板151螺接固定。例如，共位面板153与两条支柱152的远离底板151的一端活动连接。例如，快速夹154设置在共位面板153上。例如，快速夹154与压紧装置100连接。例如，快速夹154与所述连接板120的所述外接部122连接。例如，连接装置102设置在底板151上。例如，支架还包括滑块和导柱。例如，所述滑块相对所述导柱可滑动。例如，导柱一端固定在底板上，另一端与滑块连接。例如，滑块的远离所述导柱的一端连接所述压紧装置。例如，共位面板153设置有若干安装位，若干安装位用于连接外部操控设备，例如，若干安装位连接外部机械手。从而，利用该支架，通过控制共位面板可使压紧装置靠近或者远离连接装置。由于压紧装置与屏蔽装置连接固定，在需要进行测试时，通过控制共位面板将压紧装置与屏蔽装置移向连接装置，从而使得测试产品与连接装置充分接触，以完成一个测试工作。如此，通过支架可方便取放产品，同时提升了测试效率。
[0044]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0045]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种网络变压器的测试治具，其特征在于，包括压紧装置、屏蔽装置及连接装置； 所述压紧装置固定设置于所述屏蔽装置，其包括压紧件，所述压紧件用于将测试产品压向所述连接装置； 所述屏蔽装置可拆卸设置于所述连接装置，用于屏蔽外界信号对测试产品的干扰，其具有容置腔，所述压紧件收容于所述容置腔； 所述连接装置包括相连接的线路板及连接件，所述连接件用于连接外部测试仪，所述线路板用于连接测试产品。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述压紧装置还包括连接板；所述压紧件包括:弹性件、限位件和压块； 所述限位件与所述连接板连接，所述压块与所述限位件的远离所述连接板的一端连接，所述弹性件设置于所述压块与所述连接板之间。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述弹性件为弹簧，其套设于所述限位件。4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述压块设置有缓冲位，所述限位件的一端设置于所述缓冲位。5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述线路板包括PCB板，所述PCB板包括基板，以及设置在所述基板上的接地线与两线群，两所述线群对称设置于所述接地线两侧。6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述线群包括若干走线，若干所述走线一端设置于靠近所述接地线，另一端设置于所述基板的侧边上。7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述线群包括八条走线。8.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述连接装置包括若干同轴连接器，每一所述同轴连接器连接一所述走线。9.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，所述连接装置包括八个同轴连接器，每一所述同轴连接器对应连接一所述走线。10.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述屏蔽装置采用金属材料制成。
【专利摘要】本发明涉及测试技术领域，特别是涉及网络变压器的测试治具，包括压紧装置、屏蔽装置及连接装置，所述屏蔽装置用于屏蔽外界信号对测试产品的干扰；所述压紧装置包括压紧件，所述压紧件用于将测试产品压向所述连接装置；所述屏蔽装置具有容置腔，所述压紧件收容于所述容置腔；所述连接装置包括相连接的线路板及连接件，所述连接件用于连接外部测试仪，所述线路板用于连接测试产品。上述网络变压器的测试治具，通过压紧装置可将测试产品压向连接装置，实现了测试治具与测试产品的精准匹配，同时，在屏蔽装置的作用下排除外界对网络变压器测试的干扰，从而达到了精准测试网络变压器的插入损耗值的有益效果。
【IPC分类】G01R27/26
【公开号】CN104991126
【申请号】CN201510400754
【发明人】康武闯, 朱建华, 高永毅, 陈益芳, 王智会
【申请人】深圳振华富电子有限公司
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年7月8日